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公开(公告)号：CN102737951A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210031337.X
申请日：2012-02-13
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0022 , H01J49/0013 , H05K7/20136
Abstract: 本发明提供一种排热效果及重量平衡良好的小型质量分析装置。该质量分析装置是将重量件配置在高度尺寸H小于横宽尺寸W且进深尺寸D小于该高度尺寸H的箱体(100)的中央，并在横宽方向的两侧设置将多个电路基板9(50)分散收放的电路基板收放部(60)，该重量件包括：真空室(10)；使该真空室(10)成为真空的真空泵(15)；放入测定的试样并使其气化的试样插入部(30)；使气化的试样离子化并提供给真空室(10)的离子化部；以及与真空室(10)连接的离子检测器(25)。
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公开(公告)号：CN103456596B
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201310218253.1
申请日：2013-06-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24
Abstract: 本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17）；将在试样容器产生的试样气体导入离子源的细管（11）；连接试样容器与细管，且开闭自如的弹性管（12）；以夹住弹性管的方式关闭或打开弹性管的堰（13a、13b）；以及使试样容器、细管以及弹性管一体化，并能一并地从主体装卸的筒（8）。试样容器在筒的脱离状态时，能相对于筒装卸。
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公开(公告)号：CN103456596A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310218253.1
申请日：2013-06-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24
Abstract: 本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17）；将在试样容器产生的试样气体导入离子源的细管（11）；连接试样容器与细管，且开闭自如的弹性管（12）；以夹住弹性管的方式关闭或打开弹性管的堰（13a、13b）；以及使试样容器、细管以及弹性管一体化，并能一并地从主体装卸的筒（8）。试样容器在筒的脱离状态时，能相对于筒装卸。
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公开(公告)号：CN114026671B
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN201980097858.5
申请日：2019-07-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J49/10
Abstract: 本发明的目的是提供一种能够防止试料长时间残留在离子源容器内部的质量分析装置。本发明的质量分析装置中，在离子源容器的内部除了供给离子源进行电离所用的第一气体之外，还供给沿着离子源容器的内壁朝向排气部流动的第二气体。
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公开(公告)号：CN117730395A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202280053089.0
申请日：2022-06-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J49/06
Abstract: 质量分析装置具有：滤质器，该滤质器包括杆电极(37)、保持杆电极的保持器(38)、载置保持器的保持器支承台(39)、以及利用其弹力将保持器按压固定在保持器支承台上的板簧(43)；温度传感器(48、53)；以及根据温度传感器的测定信号控制施加在杆电极上的高频电压的电压值的控制部(58)，温度传感器相对于板簧固定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102737951B
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201210031337.X
申请日：2012-02-13
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0022 , H01J49/0013 , H05K7/20136
Abstract: 本发明提供一种排热效果及重量平衡良好的小型质量分析装置。该质量分析装置是将重量件配置在高度尺寸H小于横宽尺寸W且进深尺寸D小于该高度尺寸H的箱体(100)的中央，并在横宽方向的两侧设置将多个电路基板9(50)分散收放的电路基板收放部(60)，该重量件包括：真空室(10)；使该真空室(10)成为真空的真空泵(15)；放入测定的试样并使其气化的试样插入部(30)；使气化的试样离子化并提供给真空室(10)的离子化部；以及与真空室(10)连接的离子检测器(25)。
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公开(公告)号：CN118922911A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202280093727.1
申请日：2022-03-31
Applicant: 株式会社日立高新技术
Inventor： 石黑浩二
IPC: H01J49/24
Abstract: 本发明提供一种分析装置，在停止向真空泵供电时，能够通过简单的结构降低气体向真空泵的流入量。分析装置(100)包括：产生带电粒子的带电粒子产生源(2)；内部为真空的真空室(16、19、28)；将带电粒子从带电粒子产生源(2)导入真空室(16)的细孔(7)；以及与真空室(16、19、28)连接的真空泵(18、22)，在分析装置(100)中，包括能够密封细孔(7)的密封栓(41)，密封栓(41)在停止向真空泵(18、22)通电时密封细孔(7)。
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公开(公告)号：CN116745883A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202180088733.3
申请日：2021-01-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
Inventor： 石黑浩二
IPC: H01J49/42
Abstract: 本公开公开了不仅降低环境温度的影响，还降低环境湿度的影响，防止构成质量分析装置的电源的电气元件的寿命变短的技术。因此，本公开提出了一种质量分析装置，参照图3，该质量分析装置具备：电路基板，其配置有电气元件；气体供给部；以及控制来自气体供给部的气体的湿度和温度，向电路基板的至少一部分照射该控制了湿度和温度的气体的机构。
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公开(公告)号：CN114026671A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN201980097858.5
申请日：2019-07-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J49/10
Abstract: 本发明的目的是提供一种能够防止试料长时间残留在离子源容器内部的质量分析装置。本发明的质量分析装置中，在离子源容器的内部除了供给离子源进行电离所用的第一气体之外，还供给沿着离子源容器的内壁朝向排气部流动的第二气体。
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公开(公告)号：CN303051461S
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201430251123.3
申请日：2014-07-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 1．本外观设计产品的名称：试样调制容器。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于作为调制液体试样用的试样调制容器使用，也可作为用于将液体试样与药品等混合后的试样注入成份分析机的试样容器用容器。3．本外观设计产品的设计要点：本外观设计产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。5．在示出各部名称参考图中，C-开关盖，D-滑动部。
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