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公开(公告)号：CN114207774B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202080053697.2
申请日：2020-07-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明提供能够更适当地维持真空室的气压的质量分析装置以及控制该质量分析装置的方法。本发明的质量分析装置的一例具备：第一真空室(101、201、301、401、501)、第一真空泵(106、203、303、403、503)、大气压相关值取得单元、调节第一真空泵(106、203、303、403、503)的实效排气速度的调节单元、控制装置(111、206、306、406、506)，控制装置(111、206、306、406、506)根据大气压相关值对调节单元进行控制。
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公开(公告)号：CN114174820A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202080053516.6
申请日：2020-07-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够在不降低检体处理能力的情况下测定残留的检体分析装置。本发明的检体分析装置测定包含第一检体和第一内部标准物质的第一试样，接着测定包含第二检体和第二内部标准物质的第二试样，使用测定所述第一试样时测定出的所述第一内部标准物质的量和测定所述第二试样时测定出的所述第二内部标准物质的量，计算所述第二试样中包含的所述第二检体的量(参照图6)。
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公开(公告)号：CN113677988A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202080026023.3
申请日：2020-03-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明提供一种准确地判定对通过了质量分析部的离子进行检测的检测器单体的性能的技术。本公开的质量分析系统具备：第1转换器，其基于从质量分析装置中的、检测通过了质量分析部的离子的检测器输出的电信号中的脉冲的强度、面积来计算第1测定值；第2转换器，其通过对该电信号的脉冲数进行计数来求出第2测定值；计算部，其计算表示第1测定值相对于第2测定值的比率的A/P比；判定部，其基于A/P比的值来判定检测器的性能；以及控制部，其至少控制判定部的判定结果的输出(参照图1)。
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公开(公告)号：CN118339631A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202280078703.9
申请日：2022-10-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本公开的目的在于提供一种质量分析装置的控制方法，能够在不针对每个数据点变更停顿时间的情况下抑制高离子浓度区域中的灵敏度降低。本公开所涉及的质量分析装置的控制方法按相同的时间间隔开始收集数据，收集所述数据的时间长度根据在预过滤器中产生的空间电荷的程度或由所述空间电荷引起的所述质量分析装置的灵敏度降低的程度而不同(参照图4B)。
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公开(公告)号：CN117083692A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202280020841.1
申请日：2022-03-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J49/24
Abstract: 本发明提供即使装置周边的气压变动也能够抑制灵敏度下降的质量分析装置及其控制方法。质量分析装置具备将试样离子化的离子源、按质量电荷比检测离子的质量分析部、控制气体的流量的控制部、和存储部。所述离子源具备离子源腔室、向所述离子源腔室导入试样的入口、向所述离子源腔室导入第一气体的第一气体导入口、向所述离子源腔室导入用于使试样离子化的第二气体的第二气体导入口、从所述离子源腔室向所述质量分析部排出离子的出口、和从所述离子源腔室排出气体的气体排出口，所述存储部存储测定条件与所述第二气体的流量的关系的表，所述控制部基于所述表，根据所述测定条件变更所述第二气体的流量，控制所述第一气体的流量，由此抑制所述离子源腔室的内部压力的变动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116806309A
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202280009064.0
申请日：2022-01-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本公开的目的在于提供一种质量分析装置及其控制方法，能够降低由交流电压的控制电路的发热引起的质量轴的偏移。本公开的质量分析装置具备被施加交流电压的四极电极(111)和控制所述交流电压的电压值的控制部(100)，在将所述四极电极(111)用作质量过滤器的质量分析装置中，在测定之前，将预定的振幅(V1)的所述交流电压施加于所述多极电极预定的时间(T1)，将所述预定的振幅(V1)的所述交流电压施加于所述多极电极预定的时间(T1)时产生的发热量(J1)与将在所述测定中施加的振幅的交流电压施加至热稳定状态为止时产生的发热量相等(参照图3A)。
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公开(公告)号：CN115380360A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202180026440.2
申请日：2021-03-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 为了进行高效率的质量分析，特征在于，具有质量分析装置，质量分析装置包括：离子源、离子导向器、四极杆质量过滤器和配置在四极杆质量过滤器的后级的检测器，并且包括DC电源和RF电源、以及通过控制电源来控制直流电压即加速电压的电压控制装置，电压控制部，在一个坐标轴表示通过离子导向器的离子的质量电荷比且另一个坐标轴表示对离子导向部施加的加速电压的坐标中，在被离子稳定地通过离子导向器的稳定区域的下限值的线(L11)、离子的离子迁移率的线(L12)、加速电压的上限值即上边(L13)、以及加速电压是零的值的下边(L14)包围的控制区域(RA)内，以使测量的离子的质量电荷比越大则加速电压越大的方式按照控制线(L21)控制加速电压。
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公开(公告)号：CN103222031B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201180054884.3
申请日：2011-11-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/14 , H01J49/0031 , H01J49/0045 , H01J49/063 , H01J49/4255
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，该装置具备碰撞室(9)，在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子，对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速；质量分析部(11)，根据质荷比对碎片离子进行质量分离；控制部(14)，按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式，基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大，控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。
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公开(公告)号：CN103222031A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201180054884.3
申请日：2011-11-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/14 , H01J49/0031 , H01J49/0045 , H01J49/063 , H01J49/4255
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，该装置具备碰撞室(9)，在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子，对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速；质量分析部(11)，根据质荷比对碎片离子进行质量分离；控制部(14)，按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式，基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大，控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。
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公开(公告)号：CN113677988B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202080026023.3
申请日：2020-03-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明提供一种准确地判定对通过了质量分析部的离子进行检测的检测器单体的性能的技术。本公开的质量分析系统具备：第1转换器，其基于从质量分析装置中的、检测通过了质量分析部的离子的检测器输出的电信号中的脉冲的强度、面积来计算第1测定值；第2转换器，其通过对该电信号的脉冲数进行计数来求出第2测定值；计算部，其计算表示第1测定值相对于第2测定值的比率的A/P比；判定部，其基于A/P比的值来判定检测器的性能；以及控制部，其至少控制判定部的判定结果的输出(参照图1)。
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