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公开(公告)号：CN103293215A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310050829.8
申请日：2013-02-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/26 , H01J49/0031 , H01J49/0036
Abstract: 本发明提供一种质量分析系统。依赖于成分的挥发性和离子化趋势，测定的谱的强度和形状具有随着测定时刻的经过而迁移的趋势。针对以上课题，本发明的质量分析系统具有：质量分析部，对试样进行测定并输出质量谱；以及推测器，具有按每个成分以及测定时刻分配的含有信息的推测规则。推测器根据从质量分析部输出的质量谱，基于推测规则来推测与试样中有可能包含的多个成分之中的各成分对应的含有信息。
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公开(公告)号：CN102956433A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201210273399.1
申请日：2012-08-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0431
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法。实现高效地对试样进行离子化并且残留少的质量分析装置。通过对保持样本的试样容器的内部进行减压，来使顶空气体中的样本密度上升，高效地对样本进行离子化。
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公开(公告)号：CN103456596B
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201310218253.1
申请日：2013-06-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24
Abstract: 本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17）；将在试样容器产生的试样气体导入离子源的细管（11）；连接试样容器与细管，且开闭自如的弹性管（12）；以夹住弹性管的方式关闭或打开弹性管的堰（13a、13b）；以及使试样容器、细管以及弹性管一体化，并能一并地从主体装卸的筒（8）。试样容器在筒的脱离状态时，能相对于筒装卸。
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公开(公告)号：CN102655074B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201210024742.9
申请日：2012-02-06
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0031 , H01J49/0045
Abstract: 本发明提供一种质量分析方法及质量分析装置。修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱，并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度，对测定对象物质的浓度进行定量。
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公开(公告)号：CN102842479B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201210209081.7
申请日：2012-06-20
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/4265 , H01J49/0009 , H01J49/0036
Abstract: 本发明提供一种质量分析方法，其对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。根据在各离子排出时积蓄在离子阱内的离子量，对质量谱的质量轴进行修正。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102842479A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210209081.7
申请日：2012-06-20
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/4265 , H01J49/0009 , H01J49/0036
Abstract: 本发明提供一种质量分析方法，其对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。根据在各离子排出时积蓄在离子阱内的离子量，对质量谱的质量轴进行修正。
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公开(公告)号：CN102655074A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201210024742.9
申请日：2012-02-06
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0031 , H01J49/0045
Abstract: 本发明提供一种质量分析方法及质量分析装置。修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱，并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度，对测定对象物质的浓度进行定量。
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公开(公告)号：CN102956433B
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201210273399.1
申请日：2012-08-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0431
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法。实现高效地对试样进行离子化并且残留少的质量分析装置。通过对保持样本的试样容器的内部进行减压，来使顶空气体中的样本密度上升，高效地对样本进行离子化。
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公开(公告)号：CN103293215B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201310050829.8
申请日：2013-02-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/26 , H01J49/0031 , H01J49/0036
Abstract: 本发明提供一种质量分析系统。依赖于成分的挥发性和离子化趋势，测定的谱的强度和形状具有随着测定时刻的经过而迁移的趋势。针对以上课题，本发明的质量分析系统具有：质量分析部，对试样进行测定并输出质量谱；以及推测器，具有按每个成分以及测定时刻分配的含有信息的推测规则。推测器根据从质量分析部输出的质量谱，基于推测规则来推测与试样中有可能包含的多个成分之中的各成分对应的含有信息。
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公开(公告)号：CN103456596A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310218253.1
申请日：2013-06-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24
Abstract: 本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17）；将在试样容器产生的试样气体导入离子源的细管（11）；连接试样容器与细管，且开闭自如的弹性管（12）；以夹住弹性管的方式关闭或打开弹性管的堰（13a、13b）；以及使试样容器、细管以及弹性管一体化，并能一并地从主体装卸的筒（8）。试样容器在筒的脱离状态时，能相对于筒装卸。
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