公开(公告)号：CN102737951A

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN201210031337.X

申请日：2012-02-13

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 能田弘行 ,  大沼满 ,  佐藤庸子 ,  石黑浩二 ,  诸熊秀俊 ,  大月繁夫 ,  衣斐奈美

IPC: H01J49/00 ,  H01J49/02

CPC classification number: H01J49/0022 ,  H01J49/0013 ,  H05K7/20136

Abstract: 本发明提供一种排热效果及重量平衡良好的小型质量分析装置。该质量分析装置是将重量件配置在高度尺寸H小于横宽尺寸W且进深尺寸D小于该高度尺寸H的箱体(100)的中央，并在横宽方向的两侧设置将多个电路基板9(50)分散收放的电路基板收放部(60)，该重量件包括：真空室(10)；使该真空室(10)成为真空的真空泵(15)；放入测定的试样并使其气化的试样插入部(30)；使气化的试样离子化并提供给真空室(10)的离子化部；以及与真空室(10)连接的离子检测器(25)。

公开(公告)号：CN102737951B

公开(公告)日：2015-04-15

申请号：CN201210031337.X

申请日：2012-02-13

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 能田弘行 ,  大沼满 ,  佐藤庸子 ,  石黑浩二 ,  诸熊秀俊 ,  大月繁夫 ,  衣斐奈美

IPC: H01J49/00 ,  H01J49/02

CPC classification number: H01J49/0022 ,  H01J49/0013 ,  H05K7/20136

Abstract: 本发明提供一种排热效果及重量平衡良好的小型质量分析装置。该质量分析装置是将重量件配置在高度尺寸H小于横宽尺寸W且进深尺寸D小于该高度尺寸H的箱体(100)的中央，并在横宽方向的两侧设置将多个电路基板9(50)分散收放的电路基板收放部(60)，该重量件包括：真空室(10)；使该真空室(10)成为真空的真空泵(15)；放入测定的试样并使其气化的试样插入部(30)；使气化的试样离子化并提供给真空室(10)的离子化部；以及与真空室(10)连接的离子检测器(25)。