公开(公告)号：CN117980739A

公开(公告)日：2024-05-03

申请号：CN202280062295.8

申请日：2022-09-21

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 菅原佑香 ,  安田博幸 ,  田村陆 ,  当真嗣尚 ,  桥本雄一郎 ,  杉山益之

IPC: G01N30/86 ,  G01N27/62 ,  G01N30/34 ,  G01N30/72

Abstract: 本公开的目的是提供一种能够在不使用内部标准物质的情况下检测杂质对流动相溶剂的污染的液相色谱质量分析装置的控制方法。本公开的液相色谱质量分析装置的控制方法中，在进行使用了第一流动相溶剂的测定时计算第一时刻和第二时刻各自的信号强度的第一比率，并且在进行使用了第二流动相溶剂的测定时计算所述第一时刻和所述第二时刻各自的信号强度的第二比率，根据所述第一比率和所述第二比率之间的绝对差分来判定所述第二流动相溶剂是否被污染(参照图2)。

公开(公告)号：CN117730395A

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202280053089.0

申请日：2022-06-23

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 石黑浩二 ,  皆田晋介 ,  安田博幸 ,  当真嗣尚 ,  菅原佑香

IPC: H01J49/06

Abstract: 质量分析装置具有：滤质器，该滤质器包括杆电极(37)、保持杆电极的保持器(38)、载置保持器的保持器支承台(39)、以及利用其弹力将保持器按压固定在保持器支承台上的板簧(43)；温度传感器(48、53)；以及根据温度传感器的测定信号控制施加在杆电极上的高频电压的电压值的控制部(58)，温度传感器相对于板簧固定。

公开(公告)号：CN118339631A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202280078703.9

申请日：2022-10-12

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 当真嗣尚 ,  田村陆 ,  安田博幸 ,  杉山益之 ,  桥本雄一郎

IPC: H01J49/42 ,  H01J49/00

Abstract: 本公开的目的在于提供一种质量分析装置的控制方法，能够在不针对每个数据点变更停顿时间的情况下抑制高离子浓度区域中的灵敏度降低。本公开所涉及的质量分析装置的控制方法按相同的时间间隔开始收集数据，收集所述数据的时间长度根据在预过滤器中产生的空间电荷的程度或由所述空间电荷引起的所述质量分析装置的灵敏度降低的程度而不同(参照图4B)。