-
公开(公告)号:CN1015033B
公开(公告)日:1991-12-04
申请号:CN88100501
申请日:1988-01-30
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01B12/00
CPC classification number: H01L39/2419 , C04B35/4504 , H01L39/126 , Y10S505/729
Abstract: 一种具有高临界温度Tc的改进了的氧化物超导体,包括一种具有类钙钛矿晶体结构的K2NiF4晶体结构的氧化物,其结构由下式表示:(BaxSrzLa1-x-z)2Cu1-wAgwO4(1-y)其中,X≥0,Z≥0,0.1<X+Z<0.3,W=0。以及0≤Y<1;或0≤X≤1,0≤Z<1,0<W<1和0≤Y<1,0≤X+Z<1。
-
-
公开(公告)号:CN88100501A
公开(公告)日:1988-08-10
申请号:CN88100501
申请日:1988-01-30
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L39/2419 , C04B35/4504 , H01L39/126 , Y10S505/729
Abstract: 一种高临界温度氧化物超导体,包括具有类钙钛矿晶体结构的K2NiF4晶体结构的氧化物,并由下式表示:(BaXSrzLa1-x-z)2Cu1-wAgwO4(1-y)其中0.1<x+z<0.3,W=0,y≥0;或0≤x<1,0≤z1,0<w<1,y≥0。一种至少具有CuO6八面体的CuO5五面体中之一的氧化物超导体,其中A3Cu3O7型氧化物超导体中包含Na,K,Rb,Cs或F原子。可利用助熔剂法制备复合氧化物超导体的单晶。
-
公开(公告)号:CN1229524A
公开(公告)日:1999-09-22
申请号:CN96180439.4
申请日:1996-08-07
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L21/8242 , H01L27/108
Abstract: 将氧化物介质用于电容器的半导体器件的制造方法,抑制电容器下电极界面处的氧化。该氧化物介质电容器由下电极层11、位于下电极层11上的氧化物介质层16、和位于氧化物介质层16上的上电极层17构成。下电极层11包括双层导电氧化物层12。相邻的两层14和15按相同结晶结构用相同元素构成。靠近衬底10侧的层14包括不充足的氧,所以可以防止与层14相邻的下电极层的单元13及其界面的氧化,从而确保其间的适当电连接。
-
-
-
-