切割晶片的方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1518072A

    公开(公告)日:2004-08-04

    申请号:CN200410039319.1

    申请日:2004-01-19

    CPC classification number: H01L21/78

    Abstract: 一种切割晶片的方法,其中在一面上形成有多个电子电路的晶片被切割成各个半导体芯片,该方法包括以下步骤:用光敏抗蚀剂层涂覆与形成有多个电子电路的一面相对的晶片的另一面,沿用于随后切断晶片的切割线,在形成有电子电路的一面,用能够穿过晶片的辐射线照射光敏抗蚀剂层以使其曝光,显影光敏抗蚀剂层,由此沿切割线选择性地除去抗蚀剂层被曝光的那部分的材料,以及在与形成有多个电子电路的一面相对的另一面上蚀刻晶片以沿着切割线切割晶片。

    制造光学器件的方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101295072A

    公开(公告)日:2008-10-29

    申请号:CN200810089238.0

    申请日:2008-04-25

    CPC classification number: G02B26/001

    Abstract: 一种光学器件包括半透明构件和在半透明构件上形成的并且具有第一开口的遮光构件。在倾斜表面内形成了与第一开口的侧表面对应的遮光构件的一部分。一种制造该光学器件的方法包括:在半透明构件上形成具有第二开口的掩模,使得第二开口对应于遮光构件的形状和形成区域;通过印刷方法,将含Cr树脂填充进第二开口,其中在树脂中包含了含Cr粒子;对开口中所填充的含Cr树脂进行固化以形成由固化的含Cr树脂制成的遮光构件;以及去除掩模。

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