基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法

    公开(公告)号:CN118896911B

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202410962186.2

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,属于偏振态检测领域,包括以下步骤:S1、设计由各向异性十字型超单元组成的超构表面的相位,并计算全斯托克斯参数的理论值;S2、构建超构表面的仿真模型,并计算全斯托克斯参数的仿真值;S3、将不同偏振态入射光的斯托克斯参数的理论值与仿真值进行对比,对全斯托克斯参数的理论值进行验证;S4、制备超构表面样品,计算全斯托克斯参数的实验值;S5、将不同偏振态入射光的全斯托克斯参数的理论值与实验值进行对比,以对全斯托克斯参数的理论值再次验证。本发明采用上述基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,有效实现了太赫兹波段偏振信息的准确检测。

    基于VO2薄膜的热光调控光自旋霍尔效应的验证方法

    公开(公告)号:CN118731016A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410718351.X

    申请日:2024-06-04

    Abstract: 本发明公开了基于VO2薄膜的热光调控光自旋霍尔效应的验证方法,属于光自旋霍尔效应调控领域,包括以下步骤:S1、仿真实验验证:S11、制备VO2薄膜样品;S12、求解样品的反射系数;S13、求解相变前后VO2薄膜样品表面光自旋霍尔效应的横移值;S2、实验验证:S21、搭建实验平台;S22、预热后,设定此时的光斑质心位置为初始位置;S23、绘制了光斑质心位置随温度变化的曲线;S3、交叉验证:判断利用温度调控VO2薄膜的光自旋霍尔效应的可行性。本发明采用上述基于VO2薄膜的热光调控光自旋霍尔效应的验证方法,通过仿真、实验交叉验证了热光调控光自旋霍尔效应,为利用热致相变材料调控光学性质提供了新的途径。

    基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法

    公开(公告)号:CN118896911A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202410962186.2

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,属于偏振态检测领域,包括以下步骤:S1、设计由各向异性十字型超单元组成的超构表面的相位,并计算全斯托克斯参数的理论值;S2、构建超构表面的仿真模型,并计算全斯托克斯参数的仿真值;S3、将不同偏振态入射光的斯托克斯参数的理论值与仿真值进行对比,对全斯托克斯参数的理论值进行验证;S4、制备超构表面样品,计算全斯托克斯参数的实验值;S5、将不同偏振态入射光的全斯托克斯参数的理论值与实验值进行对比,以对全斯托克斯参数的理论值再次验证。本发明采用上述基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,有效实现了太赫兹波段偏振信息的准确检测。

    基于VO2薄膜的热光调控光自旋霍尔效应的验证方法

    公开(公告)号:CN118731016B

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202410718351.X

    申请日:2024-06-04

    Abstract: 本发明公开了基于VO2薄膜的热光调控光自旋霍尔效应的验证方法,属于光自旋霍尔效应调控领域,包括以下步骤:S1、仿真实验验证:S11、制备VO2薄膜样品;S12、求解样品的反射系数;S13、求解相变前后VO2薄膜样品表面光自旋霍尔效应的横移值;S2、实验验证:S21、搭建实验平台;S22、预热后,设定此时的光斑质心位置为初始位置;S23、绘制了光斑质心位置随温度变化的曲线;S3、交叉验证:判断利用温度调控VO2薄膜的光自旋霍尔效应的可行性。本发明采用上述基于VO2薄膜的热光调控光自旋霍尔效应的验证方法,通过仿真、实验交叉验证了热光调控光自旋霍尔效应,为利用热致相变材料调控光学性质提供了新的途径。

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