反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法

    公开(公告)号:CN119620252A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202510076661.0

    申请日:2025-01-16

    Abstract: 本发明公开了反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法,属于微纳光学领域,包括由上到下依次设置的表层、中间层和背板层,表层由左半圆环和右半圆环组成,其中左半圆环朝向右半圆环的一侧的两端均朝向圆心的方向弯折形成第一凸起和第二凸起,右半圆环朝向左半圆环的一侧的其中一端向圆心的方向弯折形成第三凸起,第三凸起与第一凸起关于圆心对称布置,且第三凸起的长度等于第一凸起的长度,第一凸起的长度大于第二凸起的长度。采用上述反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法,通过打破C2(二阶旋转)对称性及镜像对称性,不仅可以通过手性相位实现自旋解耦合相位控制,还能利用圆二色性来调节反射波的幅度。

    基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法

    公开(公告)号:CN118896911A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202410962186.2

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,属于偏振态检测领域,包括以下步骤:S1、设计由各向异性十字型超单元组成的超构表面的相位,并计算全斯托克斯参数的理论值;S2、构建超构表面的仿真模型,并计算全斯托克斯参数的仿真值;S3、将不同偏振态入射光的斯托克斯参数的理论值与仿真值进行对比,对全斯托克斯参数的理论值进行验证;S4、制备超构表面样品,计算全斯托克斯参数的实验值;S5、将不同偏振态入射光的全斯托克斯参数的理论值与实验值进行对比,以对全斯托克斯参数的理论值再次验证。本发明采用上述基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,有效实现了太赫兹波段偏振信息的准确检测。

    基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法

    公开(公告)号:CN118896911B

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202410962186.2

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,属于偏振态检测领域,包括以下步骤:S1、设计由各向异性十字型超单元组成的超构表面的相位,并计算全斯托克斯参数的理论值;S2、构建超构表面的仿真模型,并计算全斯托克斯参数的仿真值;S3、将不同偏振态入射光的斯托克斯参数的理论值与仿真值进行对比,对全斯托克斯参数的理论值进行验证;S4、制备超构表面样品,计算全斯托克斯参数的实验值;S5、将不同偏振态入射光的全斯托克斯参数的理论值与实验值进行对比,以对全斯托克斯参数的理论值再次验证。本发明采用上述基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法,有效实现了太赫兹波段偏振信息的准确检测。

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