-
公开(公告)号:CN114999545B
公开(公告)日:2025-02-11
申请号:CN202210660197.6
申请日:2022-06-13
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412
Abstract: 本发明涉及NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元、芯片和模块。NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元包括PMOS晶体管P1~P8和NMOS晶体管N1~N6。晶体管P1和P2交叉耦合,P1、P2、P3与P4作为上拉管,P5和P6作为下拉管,它们的状态分别由存储节点Q和QN控制,两个主存储节点Q与QN通过N5与N6分别与位线BL和BLB相连,两个冗余存储节点S0与S1通过P7与P8分别与位线BL和BLB相连,N5与N6由字线WL控制,P7与P8由字线WLB控制。本发明能够提高单元电路的抗SEU的能力,可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并且降低了单元的功耗。
-
公开(公告)号:CN113764009B
公开(公告)日:2023-06-09
申请号:CN202111010201.6
申请日:2021-08-31
Applicant: 安徽大学 , 合肥海图微电子有限公司 , 合肥市微电子研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种14T抗辐照SRAM存储单元电路,PMOS晶体管P1和P2交叉耦合,且PMOS晶体管P1、P2作为上拉管,NMOS晶体管N3、N4和PMOS晶体管P5、P6作为下拉管;NMOS晶体管N1和PMOS晶体管P3构成一个反相器,NMOS晶体管N2和PMOS晶体管P4构成另一个反相器,且两个反相器交叉耦合;两个主存储节点Q与QN通过两个NMOS晶体管N5和N6分别与位线BL和BLB相连;两个冗余存储节点S0与S1通过两个PMOS晶体管P7与P8分别与位线BL和BLB相连。上述电路能够在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并降低单元功耗和提高单元抗单粒子翻转的能力。
-
公开(公告)号:CN114999545A
公开(公告)日:2022-09-02
申请号:CN202210660197.6
申请日:2022-06-13
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412
Abstract: 本发明涉及NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元、芯片和模块。NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元包括PMOS晶体管P1~P8和NMOS晶体管N1~N6。晶体管P1和P2交叉耦合,P1、P2、P3与P4作为上拉管,P5和P6作为下拉管,它们的状态分别由存储节点Q和QN控制,两个主存储节点Q与QN通过N5与N6分别与位线BL和BLB相连,两个冗余存储节点S0与S1通过P7与P8分别与位线BL和BLB相连,N5与N6由字线WL控制,P7与P8由字线WLB控制。本发明能够提高单元电路的抗SEU的能力,可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并且降低了单元的功耗。
-
公开(公告)号:CN115295042A
公开(公告)日:2022-11-04
申请号:CN202210942405.1
申请日:2022-08-08
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/411
Abstract: 本发明涉及一种RHC‑16T抗辐射SRAM单元、芯片和模块。一种基于极性加固技术的RHC‑16T抗辐射SRAM单元包括四个PMOS晶体管P1~P4和十二个NMOS晶体管N1~N12;位线BL与N9和N11源极电连接,位线BLB与N10和N12源极电连接;字线WL与N9、N10、N11和N12栅极电连接;N9的漏极与P2的漏极电连接,N10的漏极与P1的漏极电连接,N11的漏极与N3的漏极电连接,N12的漏极与N4的漏极电连接。本发明通过在P3、N7和P4、N8中间分别加入N3和N4来阻断反馈环路,提高单元的稳定性,令单元有着就较快的读写速度,较高的稳定性以及较强的抗辐射性能。
-
公开(公告)号:CN116488635A
公开(公告)日:2023-07-25
申请号:CN202310479122.2
申请日:2023-04-28
Applicant: 安徽大学
IPC: H03K19/094 , H03K19/003
Abstract: 本发明涉及集成电路设计技术领域,更具体的,涉及一种屏蔽SET脉冲信号的反相器链电路,以及基于该种屏蔽SET脉冲信号的反相器链电路封装的模块。本发明基于三级反相器结构构建出反相器链,不仅具备反相器的基本功能,还通过合理的电路设计,使得该反相器链屏蔽SET脉冲信号的能力突出,可以屏蔽任意方向电压跳变,保证输出节点o3仍能以正确的逻辑状态进行输出。
-
公开(公告)号:CN113764009A
公开(公告)日:2021-12-07
申请号:CN202111010201.6
申请日:2021-08-31
Applicant: 安徽大学 , 合肥海图微电子有限公司 , 合肥市微电子研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种14T抗辐照SRAM存储单元电路,PMOS晶体管P1和P2交叉耦合,且PMOS晶体管P1、P2作为上拉管,NMOS晶体管N3、N4和PMOS晶体管P5、P6作为下拉管;NMOS晶体管N1和PMOS晶体管P3构成一个反相器,NMOS晶体管N2和PMOS晶体管P4构成另一个反相器,且两个反相器交叉耦合;两个主存储节点Q与QN通过两个NMOS晶体管N5和N6分别与位线BL和BLB相连;两个冗余存储节点S0与S1通过两个PMOS晶体管P7与P8分别与位线BL和BLB相连。上述电路能够在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并降低单元功耗和提高单元抗单粒子翻转的能力。
-
-
-
-
-