NRHC-14T抗辐照SRAM存储单元、芯片和模块

    公开(公告)号:CN114999545B

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202210660197.6

    申请日:2022-06-13

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元、芯片和模块。NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元包括PMOS晶体管P1~P8和NMOS晶体管N1~N6。晶体管P1和P2交叉耦合,P1、P2、P3与P4作为上拉管,P5和P6作为下拉管,它们的状态分别由存储节点Q和QN控制,两个主存储节点Q与QN通过N5与N6分别与位线BL和BLB相连,两个冗余存储节点S0与S1通过P7与P8分别与位线BL和BLB相连,N5与N6由字线WL控制,P7与P8由字线WLB控制。本发明能够提高单元电路的抗SEU的能力,可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并且降低了单元的功耗。

    NRHC-14T抗辐照SRAM存储单元、芯片和模块

    公开(公告)号:CN114999545A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202210660197.6

    申请日:2022-06-13

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元、芯片和模块。NRHC‑14T抗辐照SRAM存储单元包括PMOS晶体管P1~P8和NMOS晶体管N1~N6。晶体管P1和P2交叉耦合,P1、P2、P3与P4作为上拉管,P5和P6作为下拉管,它们的状态分别由存储节点Q和QN控制,两个主存储节点Q与QN通过N5与N6分别与位线BL和BLB相连,两个冗余存储节点S0与S1通过P7与P8分别与位线BL和BLB相连,N5与N6由字线WL控制,P7与P8由字线WLB控制。本发明能够提高单元电路的抗SEU的能力,可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并且降低了单元的功耗。

    一种RHC-16T抗辐射SRAM单元、芯片和模块

    公开(公告)号:CN115295042A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202210942405.1

    申请日:2022-08-08

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及一种RHC‑16T抗辐射SRAM单元、芯片和模块。一种基于极性加固技术的RHC‑16T抗辐射SRAM单元包括四个PMOS晶体管P1~P4和十二个NMOS晶体管N1~N12;位线BL与N9和N11源极电连接,位线BLB与N10和N12源极电连接;字线WL与N9、N10、N11和N12栅极电连接;N9的漏极与P2的漏极电连接,N10的漏极与P1的漏极电连接,N11的漏极与N3的漏极电连接,N12的漏极与N4的漏极电连接。本发明通过在P3、N7和P4、N8中间分别加入N3和N4来阻断反馈环路,提高单元的稳定性,令单元有着就较快的读写速度,较高的稳定性以及较强的抗辐射性能。

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