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公开(公告)号：CN115451594A
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202211118412.6
申请日：2022-09-13
Abstract: 本发明公开了一种宽光谱太阳能吸收增强器件及其制备方法；所述太阳能吸收增强器件包括吸光基体、致密干涉多层膜层、渐变折射率膜层以及保护膜层；其中，致密干涉多层膜用于调控宽光谱的干涉效应以增强光谱吸收率；渐变折射率膜与致密干涉多层膜协同作用，最小化反射率；制备方法为：以吸光功能器件或基材作为基底，以薄膜材料色散曲线为基础进行光学薄膜设计；采用薄膜沉积设备在吸光基体上依次制作出致密干涉多层膜、渐变折射率膜和保护膜。本发明的薄膜结构可使器件及空气折射率相匹配从而消除基底表面引起的反射，实现宽光谱高效吸收，制备工艺简单，工业兼容性强，制作成本低，易于实现批量生产，在太阳能吸收利用领域有较高应用潜力。
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公开(公告)号：CN115371570A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210926140.6
申请日：2022-08-03
Abstract: 本发明公开了一种基于色品坐标测量获得薄膜厚度的方法。本发明采用光纤导光、光栅以及面阵列探测模式，获取样品的光谱信号，根据反射谱与色品坐标的换算关系，计算出待测样品的色品坐标。通过理论计算获得薄膜的色品坐标与厚度的完整映射关系，对比实测色品坐标与理论映射关系中的色品坐标，可以准确获得薄膜样品的厚度信息。本发明克服了传统光谱测色方式在测量过程中需要旋转光栅或者棱镜进行波长扫描的缺点，实现单次全谱测量，缩短了测量所需的时间。同时，相较传统测量时的波长间隔，本发明采用更密集的光谱获取，从而更加准确的获取色度信息，基于此快速准确地获得了纳米薄膜的厚度信息。
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公开(公告)号：CN115451594B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202211118412.6
申请日：2022-09-13
Abstract: 本发明公开了一种宽光谱太阳能吸收增强器件及其制备方法；所述太阳能吸收增强器件包括吸光基体、致密干涉多层膜层、渐变折射率膜层以及保护膜层；其中，致密干涉多层膜用于调控宽光谱的干涉效应以增强光谱吸收率；渐变折射率膜与致密干涉多层膜协同作用，最小化反射率；制备方法为：以吸光功能器件或基材作为基底，以薄膜材料色散曲线为基础进行光学薄膜设计；采用薄膜沉积设备在吸光基体上依次制作出致密干涉多层膜、渐变折射率膜和保护膜。本发明的薄膜结构可使器件及空气折射率相匹配从而消除基底表面引起的反射，实现宽光谱高效吸收，制备工艺简单，工业兼容性强，制作成本低，易于实现批量生产，在太阳能吸收利用领域有较高应用潜力。
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公开(公告)号：CN119751936A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411892527.X
申请日：2024-12-20
Abstract: 本发明公开了一种具有折射率渐变结构的辐射冷却薄膜材料及其制备方法；该方法包括：将多孔材料与紫外固化光学胶充分混合，得到分散液；将分散液涂覆在衬底上；通过紫外灯照射方法固化分散液得到辐射冷却薄膜。本发明制得的辐射冷却薄膜在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中；其具有一种折射率渐变结构，有利于将目标物体内部热量以红外线方式向外辐射，大大提高辐射冷却的功率，使目标物体的降温幅度增加；可实现在太阳波段（300‑2500 nm）的反射率≥85%，红外波段（8‑13μm）的发射率≥92%；本发明制备方法简单，成本低，易于实现拓宽辐射冷却应用的范围。
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公开(公告)号：CN117075232A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202310862454.9
申请日：2023-07-14
Abstract: 本发明公开了一种具有低偏振依赖特性的宽光谱增透膜及其制备方法；所述宽光谱增透膜包括石英基底、致密干涉多层膜层和超低折射率膜层；其中，致密干涉多层膜用于调控宽光谱的干涉效应以增强光谱透过率；超低折射率膜与致密干涉多层膜协同作用，最小化反射率；制备方法为：以透过率比较高的材料作为基底，以薄膜材料色散曲线为基础进行光学薄膜设计；采用薄膜沉积设备在基底上依次制作出致密干涉多层膜和超低折射率膜。本发明的薄膜结构的优点在于可实现薄膜宽光谱高增透和低偏振依赖的特性。且薄膜制备工艺简单，工业兼容性强，制作成本低，易于实现批量生产，在光学系统和光学器件制备等方面有较高应用潜力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117666003A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202410040584.9
申请日：2024-01-11
Abstract: 本发明属于光学薄膜技术领域，具体为一种高环境可靠性宽带红外薄膜偏振器。该薄膜偏振器包括光学基片、偏振分光膜层和增透膜层。偏振分光膜层由光学基片一侧依次镀制的第一导纳匹配膜堆、对称周期膜堆和第二导纳匹配膜堆构成。该偏振器通过在高折射率膜层与低折射率膜层之间插入中折射率膜层，实现偏振器宽偏振区域和高环境可靠性。在功能设计上，对称周期膜堆用于将入射光束的偏振态进行分离，第一、第二导纳匹配膜堆用于将光学基片、入射介质与对称周期膜堆等效导纳进行匹配。本发明薄膜偏振器具有宽偏振区域，宽角度适用，高消光比以及高环境可靠性等特点。
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公开(公告)号：CN113720456A
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202111020539.X
申请日：2021-09-01
Applicant: 复旦大学 , 中山复旦联合创新中心
Abstract: 本发明公开了一种V型投影光路消慧差光栅光谱仪，包括依光的传播方向依次设置于光路上的入射狭缝S1、光栅G、入射球面反射镜M1、聚焦球面反射镜M2和出射狭缝S2，通过将入射狭缝S1和出射狭缝S2分别布设在光栅G两侧，且由入射狭缝S1和入射球面反射镜M1形成的入射同轴光路与光栅G和聚焦球面反射镜M2形成的衍射同轴光路，在衍射面内的投影形成V型结构，在对光栅的方位角进行全波长扫描的光谱区，与光栅扫描方位角无关，不依赖于光栅的扫描旋转角，从而有效克服了慧差缺陷在光谱仪应用中对光谱分辨率的影响，实现了全光谱区的高分辨率检测和分析，具有实际推广应用价值。
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公开(公告)号：CN112903598B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110084277.7
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种椭偏测量系统中偏振元件方位角的差分光谱定标方法。本发明的原理是对由起偏器出射的两束偏振方向相互垂直的线偏光，经过已知介电函数谱的样品后，其反射椭偏光的椭圆方位角的进行差分光谱分析，准确地获得起偏器方位角的位置。其中通过可旋转检偏器以及光栅光谱仪，对550‑650 nm光谱范围内的200个以上的波长点，完成差分光谱数据的采集，分析确定偏振元件方位角的位置，完成定标过程。本发明通过Si和Au体材料的测试验证；克服了传统定标方法对反射材料光学常数的精确度、探测器光强灵敏度要求较高，稳定性较差等缺点，能快速准确地完成椭偏测量系统中偏振元件方位角的定标。
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公开(公告)号：CN101819151A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN201010153460.X
申请日：2010-04-22
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体公开了一种主动式大气光谱快速获取系统。该系统将脉冲高压加在电离室中的金属针上，将气体样品电离而发光，光经透镜系统聚焦后，通过可调狭缝，被平面镜M1反射到柱形凹面镜M2后成为平行光，再入射到由多光栅组成的复合光栅G上；调节各子光栅的方位角，使各子衍射光谱区落在相同的衍射张角内，再反射至组合式柱面镜M3，在入射面内沿波长分布方向对光谱线进行聚焦，成像在探测器D的受光面上；最后由探测器将探测到的光信号转换为电信号，由数据采集卡送到计算机内进行数据处理，从而快速获得气体样品的发射光谱。
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