公开(公告)号：CN103175785A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201310077694.4

申请日：2013-03-12

Applicant: 复旦大学

Inventor： 张冬旭 ,  郑玉祥 ,  陈良尧 ,  吴康宁 ,  张荣君 ,  王松有 ,  李晶 ,  杨月梅

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明属于热学测量技术领域，具体为一种基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法。本发明利用椭偏仪测量不同温度下纳米材料的光学性质，根据纳米材料从固态转变到液态时其光学性质也会随之改变的原理，从而测得纳米材料的熔点。本发明可快速、非破坏、非接触测量纳米材料的熔点。在物理、化学、生物医学、环境科学等众多领域，具有广泛的应用前景。

公开(公告)号：CN103163078B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201310078010.2

申请日：2013-03-12

Applicant: 复旦大学

Inventor： 郑玉祥 ,  毛鹏辉 ,  陈良尧 ,  吴康宁 ,  张冬旭 ,  张荣君 ,  杨月梅

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种提高椭偏仪测量精度的方法。所述椭偏仪特征包括依次连接的如下部件：光源、固定起偏器、旋转起偏器、样品、检偏器、探测器等；其中，旋转起偏器和检偏器以角速度保持 的比例关系同步旋转。该型椭偏仪具有两种自洽的方法获取椭偏参数，进而获取被测样品的各类光学参数。传统上，一般采用两种方法之一获取椭偏参数，或者对两种方法获取的参数进行简单的平均。本发明提出一种新的数据处理方法，将两种方法有机结合起来，能显著提高测量准确度。

公开(公告)号：CN103163078A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201310078010.2

申请日：2013-03-12

Applicant: 复旦大学

Inventor： 郑玉祥 ,  毛鹏辉 ,  陈良尧 ,  吴康宁 ,  张冬旭 ,  张荣君 ,  杨月梅

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种提高椭偏仪测量精度的方法。所述椭偏仪特征包括依次连接的如下部件：光源、固定起偏器、旋转起偏器、样品、检偏器、探测器等；其中，旋转起偏器和检偏器以角速度保持的比例关系同步旋转。该型椭偏仪具有两种自洽的方法获取椭偏参数，进而获取被测样品的各类光学参数。传统上，一般采用两种方法之一获取椭偏参数，或者对两种方法获取的参数进行简单的平均。本发明提出一种新的数据处理方法，将两种方法有机结合起来，能显著提高测量准确度。