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公开(公告)号：CN115371570A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210926140.6
申请日：2022-08-03
Abstract: 本发明公开了一种基于色品坐标测量获得薄膜厚度的方法。本发明采用光纤导光、光栅以及面阵列探测模式，获取样品的光谱信号，根据反射谱与色品坐标的换算关系，计算出待测样品的色品坐标。通过理论计算获得薄膜的色品坐标与厚度的完整映射关系，对比实测色品坐标与理论映射关系中的色品坐标，可以准确获得薄膜样品的厚度信息。本发明克服了传统光谱测色方式在测量过程中需要旋转光栅或者棱镜进行波长扫描的缺点，实现单次全谱测量，缩短了测量所需的时间。同时，相较传统测量时的波长间隔，本发明采用更密集的光谱获取，从而更加准确的获取色度信息，基于此快速准确地获得了纳米薄膜的厚度信息。
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公开(公告)号：CN119751936A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411892527.X
申请日：2024-12-20
Abstract: 本发明公开了一种具有折射率渐变结构的辐射冷却薄膜材料及其制备方法；该方法包括：将多孔材料与紫外固化光学胶充分混合，得到分散液；将分散液涂覆在衬底上；通过紫外灯照射方法固化分散液得到辐射冷却薄膜。本发明制得的辐射冷却薄膜在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中；其具有一种折射率渐变结构，有利于将目标物体内部热量以红外线方式向外辐射，大大提高辐射冷却的功率，使目标物体的降温幅度增加；可实现在太阳波段（300‑2500 nm）的反射率≥85%，红外波段（8‑13μm）的发射率≥92%；本发明制备方法简单，成本低，易于实现拓宽辐射冷却应用的范围。
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公开(公告)号：CN111693561A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010471013.2
申请日：2020-05-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统，所述测量方法包括以下步骤：1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱；3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点；4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况，判断所述相变点是否为燃点，从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比，本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。
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公开(公告)号：CN110926613A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201911310162.4
申请日：2019-12-18
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开一种消慧差宽带高分辨光谱仪，包括入射狭缝、准直反射镜、集成光栅、二维聚焦成像镜和二维面阵探测器；入射光沿入射狭缝入射，并穿过集成光栅中心的通光孔，入射到准直反射镜上，入射光经准直反射镜准直后沿同轴光路L1入射到集成光栅，经集成光栅的各子光栅衍射后被二维聚焦成像镜聚焦，全光谱区的衍射光沿同轴光路L2，入射到二维面阵探测器的焦平面检测，L1和L2光路的离轴角为零。本发明无任何机械位移部件，实现全光谱区在衍射方向完全消除慧差影响差的宽光谱高分辨高速检测和分析，具有很高的光谱分辨率和工作可靠性。
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公开(公告)号：CN106584975A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611105403.8
申请日：2016-12-05
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: Y02E10/40 , B32B9/041 , B32B15/20 , B32B17/061 , B32B2250/05 , B32B2307/30 , B32B2307/40 , B32B2551/00 , F24S70/10 , F24S70/12 , F24S70/16
Abstract: 本发明公开了一种红外增强的宽带光热转换薄膜器件，第一层为防反射的保护层，采用透明介质膜；第二层为光吸收层，采用过渡金属膜；第三层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第四层为光吸收层，采用过渡金属膜；第五层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第六层为光吸收层，采用过渡金属膜；第七层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第八层为高反射层，采用完全非透明的高反射金属膜；第一层到第八层厚度的选择依据各膜层的光学常数，在250‑2000nm波长区，满足的高吸收条件为：(R+T)≤5％,AX≥95％,R+T+AX＝1。通过结构参数的最优化计算，能够在250－2000nm波长区，实现光子能量被转换为热能的光吸收率Ax超过95％。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1664561A
公开(公告)日：2005-09-07
申请号：CN200510024432.7
申请日：2005-03-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种新型快速椭圆偏振光测量系统。在传统光度式椭圆偏振光测量仪结构中，需采用机械转动方式控制起偏器或检偏器来进行光偏振态的方位角扫描。由于机械转动的速度有限，大大限制了椭圆偏振光测量的检测速度。本发明采用组合检偏器和二维CCD阵列探测器结构配置的椭圆偏振测试系统来快速获取材料的光学参数。由于采用组合偏振器代替传统的旋转偏振器来获得傅立叶分析所要求的采样点数目，并采用二维CCD阵列探测器来并行探测各偏振态的光信号。在测试过程中，系统无须转动任何机械部件，因此可以使各类材料光学参数的测量速度大幅度提高。
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公开(公告)号：CN111693561B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202010471013.2
申请日：2020-05-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统，所述测量方法包括以下步骤：1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱；3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点；4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况，判断所述相变点是否为燃点，从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比，本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。
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公开(公告)号：CN112557304B
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202011316227.9
申请日：2020-11-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于纳米材料和光学技术领域，具体为一种基于椭偏参数轨迹拓扑特征识别薄膜材料纳米结构的方法。本发明方法包括以下步骤：利用椭圆偏振光谱仪测量薄膜材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；获得椭偏参数(ψ、Δ)的轨迹曲线；根据所述轨迹曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构由颗粒到网状的转变；求得(ψ、Δ)轨迹的切线方位角曲线；根据所述切线方位角曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构连续性的转变，从而实现对薄膜材料纳米结构的识别。本发明可用于薄膜材料生长过程中纳米结构的原位监测，对利用人工智能识别纳米结构有着重要的参考价值，具有非接触、非破坏、对环境要求不苛刻等优点。
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公开(公告)号：CN112903598A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110084277.7
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种椭偏测量系统中偏振元件方位角的差分光谱定标方法。本发明的原理是对由起偏器出射的两束偏振方向相互垂直的线偏光，经过已知介电函数谱的样品后，其反射椭偏光的椭圆方位角的进行差分光谱分析，准确地获得起偏器方位角的位置。其中通过可旋转检偏器以及光栅光谱仪，对550‑650 nm光谱范围内的200个以上的波长点，完成差分光谱数据的采集，分析确定偏振元件方位角的位置，完成定标过程。本发明通过Si和Au体材料的测试验证；克服了传统定标方法对反射材料光学常数的精确度、探测器光强灵敏度要求较高，稳定性较差等缺点，能快速准确地完成椭偏测量系统中偏振元件方位角的定标。
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公开(公告)号：CN110320745A
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201910557029.2
申请日：2019-06-26
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于能源技术领域，具体为具有理想发射谱的柔性被动冷却薄膜及其制备方法。本发明制备方法包括：获取紫外固化树脂的光学常数；根据光学常数设计光子晶体微结构；通过微纳加工技术在光阻上制备出微结构；通过紫外纳米压印卷对卷方法将微结构制备到柔性衬底上。本发明制备的被动冷却薄膜，在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中。由于本方法制备的辐射冷却薄膜表面具有微结构，可以大大提高辐射冷却的功率，使目标物体的降温幅度增加；同时，使用紫外纳米压印技术与工业卷对卷生产相结合，使本发明制备的冷却薄膜可以制备到柔性塑料衬底上，拓宽了应用的范围。
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