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公开(公告)号：CN116250042A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202180059343.3
申请日：2021-07-19
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G11C13/00
Abstract: 通过在集成电路上面部分的金属布线层之间放置固态存储器阵列来形成防篡改存储器(后端生产线)。金属层形成围绕存储器阵列的网格，以保护其免受皮秒成像电路分析、旁道攻击和电测量的去层级化。存储器单元及其测量电路之间的互连被设计成保护下方的每一层，即特定金属层中的互连金属部分不小于下一个下面层中的互连金属部分。测量电路被金属网覆盖。衬底、金属层和存储器阵列是单个单片结构一部分。适用于芯片标识协议的存储器阵列包含唯一标识防篡改集成电路的物理不可克隆功能标识符、对称加密密钥和释放密钥。
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公开(公告)号：CN104541369B
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201380042332.X
申请日：2013-08-08
Applicant: 国际商业机器公司
CPC classification number: H01L23/57 , G06F7/588 , G06F21/73 , G09C1/00 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H04L9/0866 , H01L2924/00
Abstract: 本公开公开了具有物理不可克隆功能的安全器件以及制造所述安全器件的方法。器件包括衬底以及在所述衬底上形成的至少一个高k/金属栅器件，所述至少一个高k/金属栅器件代表所述物理不可克隆功能。在一些实施例中，所述至少一个高k/金属栅器件可以经过可变性增强。在一些实施例中，所述安全器件可以包括用于测量所述至少一个高k/金属栅器件的至少一个属性的测量电路。
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公开(公告)号：CN101937055A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN201010213285.9
申请日：2010-06-22
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G01R31/303 , H04N5/262
CPC classification number: H04N5/33 , G01R31/303 , G06T7/32 , G06T2200/32 , G06T2207/10056 , G06T2207/30148 , H04N5/2259 , H04N5/2621 , H04N5/2625 , H04N5/2628 , H04N5/332
Abstract: 本发明涉及一种产生图像的方法和用于获取及处理图像的系统。其中公开了用于产生来自器件的图像的方法、系统和计算机程序产品。在一个实施例中，该方法包含从器件获取第一和第二图像，所述第一和第二图像具有交迭部分，并估计所述交迭部分以获得大致的移动量来大致对准所述第一和第二图像。该方法进一步包含使用定义的互相关算法来分析交迭部分，以计算精确移动量来对准第一和第二图像；并使用所述精确移动量将第一和第二图像接合到一起。在一个实施例中，光学系统用于获取图像，台架用于移动器件或光学系统以获取第一和第二图像，而估计包括使用台架的移动来估计交迭区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104541369A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201380042332.X
申请日：2013-08-08
Applicant: 国际商业机器公司
CPC classification number: H01L23/57 , G06F7/588 , G06F21/73 , G09C1/00 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H04L9/0866 , H01L2924/00
Abstract: 本发明公开了具有物理不可克隆功能的安全器件以及制造所述安全器件的方法。器件包括衬底以及在所述衬底上形成的至少一个高k/金属栅器件，所述至少一个高k/金属栅器件代表所述物理不可克隆功能。在一些实施例中，所述至少一个高k/金属栅器件可以经过可变性增强。在一些实施例中，所述安全器件可以包括用于测量所述至少一个高k/金属栅器件的至少一个属性的测量电路。
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公开(公告)号：CN101937055B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201010213285.9
申请日：2010-06-22
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H04N5/262 , G01R31/303
CPC classification number: H04N5/33 , G01R31/303 , G06T7/32 , G06T2200/32 , G06T2207/10056 , G06T2207/30148 , H04N5/2259 , H04N5/2621 , H04N5/2625 , H04N5/2628 , H04N5/332
Abstract: 本发明涉及一种产生图像的方法和用于获取及处理图像的系统。其中，公开了用于产生来自器件的图像的方法、系统和计算机程序产品。在一个实施例中，该方法包含从器件获取第一和第二图像，所述第一和第二图像具有交迭部分，并估计所述交迭部分以获得大致的移动量来大致对准所述第一和第二图像。该方法进一步包含使用定义的互相关算法来分析交迭部分，以计算精确移动量来对准第一和第二图像；并使用所述精确移动量将第一和第二图像接合到一起。在一个实施例中，光学系统用于获取图像，台架用于移动器件或光学系统以获取第一和第二图像，而估计包括使用台架的移动来估计交迭区域。
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公开(公告)号：CN1731581A
公开(公告)日：2006-02-08
申请号：CN200510065559.3
申请日：2005-04-15
Applicant: 国际商业机器公司
Inventor： 钱德勒·托德·迈克多维尔 , 斯坦尼斯拉夫·波伦斯基 , 宋培林 , 弗兰克·斯特拉里 , 阿兰·J·维格尔
IPC: H01L27/00 , H01L23/544 , H01L21/66
CPC classification number: G01R31/311
Abstract: 本发明揭示用来利用如皮秒成像电路分析(PICA)增强响应集成电路(IC)内信号的光子发射以便观察信号状态的方法和设备。实施例中将置标连结到感兴趣的信号，并跨该置标施加电压以增强响应感兴趣的信号的光子发射。该电压大于可操作电路电压，Vdd，从而增强光子发射的强度和能量。因此，光子发射更能与噪声区分开来。在很多实施例中，置标包括晶体管，且在几个实施例中，该置标包括启用装置以便启用和禁用置标的光子发射。而且，PICA检测器可捕获置标的光子发射并处理光子以产生时间迹线。
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公开(公告)号：CN115803741A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202180048774.X
申请日：2021-07-15
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G06F21/75
Abstract: 混淆电路依赖于对可信布尔函数进行编码的防篡改非易失性存储器。布尔函数用于实现与电路混淆相关的若干操作，包括逻辑电路的混淆、操作数数据的混淆和IP块的释放。防篡改非易失性存储器是可信集成电路结构的一部分，即，由可信铸造厂制造的集成电路结构，该可信集成电路结构与包含该设计的各种操作逻辑电路并且由不可信铸造厂制造的另一集成电路结构分离。布尔函数基于被实现为级联多路复用器电路的查找表被编码。多个混淆函数可以被如此编码。混淆函数可以使用依赖于对称密钥的协议来被重新编程，所述对称密钥之一被存储在防篡改非易失性存储器中。
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公开(公告)号：CN100403538C
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：CN200510065559.3
申请日：2005-04-15
Applicant: 国际商业机器公司
Inventor： 钱德勒·托德·迈克多维尔 , 斯坦尼斯拉夫·波伦斯基 , 宋培林 , 弗兰克·斯特拉里 , 阿兰·J·维格尔
IPC: H01L27/00 , H01L23/544 , H01L21/66
CPC classification number: G01R31/311
Abstract: 本发明揭示用来利用如皮秒成像电路分析(PICA)增强响应集成电路(IC)内信号的光子发射以便观察信号状态的方法和设备。实施例中将置标连结到感兴趣的信号，并跨该置标施加电压以增强响应感兴趣的信号的光子发射。该电压大于可操作电路电压，Vdd，从而增强光子发射的强度和能量。因此，光子发射更能与噪声区分开来。在很多实施例中，置标包括晶体管，且在几个实施例中，该置标包括启用装置以便启用和禁用置标的光子发射。而且，PICA检测器可捕获置标的光子发射并处理光子以产生时间迹线。
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