公开(公告)号：CN1731581A

公开(公告)日：2006-02-08

申请号：CN200510065559.3

申请日：2005-04-15

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 钱德勒·托德·迈克多维尔 ,  斯坦尼斯拉夫·波伦斯基 ,  宋培林 ,  弗兰克·斯特拉里 ,  阿兰·J·维格尔

IPC: H01L27/00 ,  H01L23/544 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/311

Abstract: 本发明揭示用来利用如皮秒成像电路分析(PICA)增强响应集成电路(IC)内信号的光子发射以便观察信号状态的方法和设备。实施例中将置标连结到感兴趣的信号，并跨该置标施加电压以增强响应感兴趣的信号的光子发射。该电压大于可操作电路电压，Vdd，从而增强光子发射的强度和能量。因此，光子发射更能与噪声区分开来。在很多实施例中，置标包括晶体管，且在几个实施例中，该置标包括启用装置以便启用和禁用置标的光子发射。而且，PICA检测器可捕获置标的光子发射并处理光子以产生时间迹线。

公开(公告)号：CN100403538C

公开(公告)日：2008-07-16

申请号：CN200510065559.3

申请日：2005-04-15

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 钱德勒·托德·迈克多维尔 ,  斯坦尼斯拉夫·波伦斯基 ,  宋培林 ,  弗兰克·斯特拉里 ,  阿兰·J·维格尔

IPC: H01L27/00 ,  H01L23/544 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/311

Abstract: 本发明揭示用来利用如皮秒成像电路分析(PICA)增强响应集成电路(IC)内信号的光子发射以便观察信号状态的方法和设备。实施例中将置标连结到感兴趣的信号，并跨该置标施加电压以增强响应感兴趣的信号的光子发射。该电压大于可操作电路电压，Vdd，从而增强光子发射的强度和能量。因此，光子发射更能与噪声区分开来。在很多实施例中，置标包括晶体管，且在几个实施例中，该置标包括启用装置以便启用和禁用置标的光子发射。而且，PICA检测器可捕获置标的光子发射并处理光子以产生时间迹线。