-
公开(公告)号:CN101443903B
公开(公告)日:2013-04-24
申请号:CN200780017300.9
申请日:2007-05-16
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L23/00
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L21/76895 , H01L23/481 , H01L23/522 , H01L23/5329 , H01L25/50 , H01L27/0688 , H01L2225/06513 , H01L2225/06527 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 半导体结构及该结构的制作方法。该方法包括将背面硅(110A和110B)分别从两个绝缘体上硅晶片(110A和100B)移除并采用掩埋氧化物层(115)将它们背对背结合,该两个绝缘体上硅晶片(110A和100B)分别具有形成在其中的器件(130A和130B)。然后至下晶片(100A)中的器件(130A)的接触(210)形成在上晶片(100B)中,并且布线级(170)形成在上晶片(100B)上。下晶片(100A)可以包括布线级(170)。下晶片(100A)可以包括接触的焊盘垫(230)。至下晶片(100A)的硅层(120)的接触可以被硅化。
-
公开(公告)号:CN101443903A
公开(公告)日:2009-05-27
申请号:CN200780017300.9
申请日:2007-05-16
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L23/00
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L21/76895 , H01L23/481 , H01L23/522 , H01L23/5329 , H01L25/50 , H01L27/0688 , H01L2225/06513 , H01L2225/06527 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 半导体结构及该结构的制作方法。该方法包括将背面硅(110A和110B)分别从两个绝缘体上硅晶片(110A和100B)移除并采用掩埋氧化物层(115)将它们背对背结合,该两个绝缘体上硅晶片(110A和100B)分别具有形成在其中的器件(130A和130B)。然后至下晶片(100A)中的器件(130A)的接触(210)形成在上晶片(100B)中,并且布线级(170)形成在上晶片(100B)上。下晶片(100A)可以包括布线级(170)。下晶片(100A)可以包括接触的焊盘垫(230)。至下晶片(100A)的硅层(120)的接触可以被硅化。
-