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公开(公告)号：CN119150514A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411107267.0
申请日：2024-08-13
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G06F30/20 , G06F119/10
Abstract: 本发明涉及一种基于幂函数的电子背散射噪声建模标定方法，首先对地面模拟空间环境装置和待测材料进行简化建模，然后通过幂函数以平均分布随机数和等间隔的方式选取预标定点位，使用蒙特卡洛方法对预标定点位进行选定能量的吸收剂量仿真，最后通过比较筛选确定最优标定点，本发明方法可以减小由环境等因素造成的噪声干扰，对电路总剂量效应、材料屏蔽性能等对背散射敏感的指标评估具有一定帮助，提高可信度，本发明能在现场试验前明确试验装置的大致标定位置，可在较低试验成本的前提下取得理想试验结果。
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公开(公告)号：CN118862760A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410848707.1
申请日：2024-06-27
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G06F30/327 , G06F11/18
Abstract: 一种基于改进KL算法的选择性三模冗余方法，通过对电路节点的软错误敏感度进行分析，通过拓扑准则和改进KL算法将节点分为SEU敏感和SEU不敏感两类，并只对SEU敏感的节点插入三模冗余结构，基于改进KL算法的选择性三模冗余方法可以兼顾抗SEU能力和冗余后硬件开销两方面的考量，相较于全三模冗余方法占用资源多的缺点，选择性三模冗余可以节省大量的额外开销，同时又能达到电路抗单粒子可靠性要求。
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公开(公告)号：CN118690621A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410377527.X
申请日：2024-03-29
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 平面工艺的敏感区沉积能量叠层仿真标定方法，属于核物理和集成电路工艺技术领域，包括：首先根据实际平面工艺电路结构构建金属层、栅氧化层、沟道等不同结构的简化模型，并在敏感区域设置沉积能量的采集探针，接着采用钴源、电子、质子等粒子源对结构进行照射，读取探针的值，最后对数据进行处理获得预设敏感区域的平均剂量值。本发明能提供准确的敏感区域能量沉积评估值，而使用仿真构建模型可避免直接试验导致的复杂分析过程。同时对仿真模型进行模块化处理可简化模型构建过程，同时对关键模块的精细处理可以保证相对较高的测量精度。
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公开(公告)号：CN113706405A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202110913535.8
申请日：2021-08-10
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明针对当前条纹去除方法对硬件资源的使用率高，时间成本较大，在视频监控等资源有限的平台上难以实现实时应用的问题，公开一种结合特征提取与非线性拟合的图像去条纹方法，包括如下步骤：(1)采集待处理图像，通过列平均变换得到一维向量集；(2)求解向量的平滑特征，得到非线性拟合处理结果；(3)利用特征向量，对待处理图像进行按行相减操作，得到初步重构图像；(4)对初步重构图像进行精细处理，消除在步骤3中遗漏的噪声；(5)利用新的特征向量，对初步重构图像进行按行相减操作，得到最终的重构图像。
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公开(公告)号：CN117420588A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311211379.6
申请日：2023-09-19
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G01T1/02
Abstract: 一种基于棋盘格的电子总剂量试验方法，能够较为有效的测算样品的实际吸收剂量，实现对试验样品抗电子总剂量能力的预估。具体包括：(1)分析试验样品的材料成分，选择合适的电子能量进行试验；(2)通过电子能量计算电子的质量阻止本领LET值，并获取理论总注量；(3)测量电子束流的均匀性，确保试验区域的均匀性误差小于5％；(4)保证样品材料的尺寸小于2cm×2cm，将试验样品和剂量片进行棋盘格摆放，并使两者的间距尽可能小；(5)开始电子辐照试验，确保电子总注量达到预设值；(6)试验结束后，对所有的剂量片进行测量，获取剂量片的实际总剂量，并预估样品区域的总剂量值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117169626A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311120218.6
申请日：2023-08-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种低能质子单粒子在轨错误率评估方法，初始化有源区的入射质子能量，确定布拉格尖峰时的射束等效能量；进行初始化质子能量后的质子试验，获得对应能段质子的能量‑截面谱；对分段数据进行单频分解拟合操作和二阶非线性拟合，提取适当数据点，分别获得在轨错误率；再对两个在轨错误率进行比较分析，确定最终在轨错误率。本发明可以较为准确的评估低能质子直接电离/核反应导致的器件在轨错误率。
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公开(公告)号：CN114973172A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210425935.9
申请日：2022-04-21
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于感兴趣区域的车道线检测方法和系统，该方法包括：依据车道线分布特征提取道路图像中的感兴趣区域，得到待检测图像；求解待检测图像的自适应分割阈值，对待检测图像进行二值化处理，得到二值图像；遍历二值图像进行自适应中值滤波，得到平滑图像；对平滑图像进行形态学处理中的细化操作，得到细化图像；将细化图像转换到极坐标系，得到极坐标图像；统计极坐标图像中的坐标值，通过预先设定的阈值筛选坐标点，得到车道线检测效果图。本发明有效地提高了车道线的检测效率，防止了背景杂物及干扰，可获得理想的车道线检测效果。
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公开(公告)号：CN114187198A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111442972.2
申请日：2021-11-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于模糊矩阵的图像去条纹方法，包括如下步骤：采集待处理图像Iref(M,N)，并进行下采样；通过各向异性高斯滤波核，对下采样的原始图像进行卷积得到模糊图像；原始下采样图像Iref(M1,N)与模糊图像Imod(M1,N)相减，构建条纹特征图像Igas(M1,N)；对每个像素是否需要处理进行判断，获得真值矩阵；对条纹特征图像Igas(M1,N)进行统计处理，获得条纹噪声特征向量；利用特征向量，对Iref(M,N)进行映射相减操作，得到最终的重构图像。本发明提出的基于模糊矩阵的图像去条纹方法，不仅考虑了目标噪声的结构特点，而且用资源消耗较少的方式考虑相机采样导致的条纹不连续情况。
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公开(公告)号：CN113706405B
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202110913535.8
申请日：2021-08-10
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明针对当前条纹去除方法对硬件资源的使用率高，时间成本较大，在视频监控等资源有限的平台上难以实现实时应用的问题，公开一种结合特征提取与非线性拟合的图像去条纹方法，包括如下步骤：(1)采集待处理图像，通过列平均变换得到一维向量集；(2)求解向量的平滑特征，得到非线性拟合处理结果；(3)利用特征向量，对待处理图像进行按行相减操作，得到初步重构图像；(4)对初步重构图像进行精细处理，消除在步骤3中遗漏的噪声；(5)利用新的特征向量，对初步重构图像进行按行相减操作，得到最终的重构图像。
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公开(公告)号：CN118410623A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410435691.1
申请日：2024-04-11
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G06F30/20 , G06F30/27 , G06F30/15 , G06F18/2433 , G06F119/02
Abstract: 一种在轨错误率多模校验方法、介质及设备，属于空间环境工程和辐射效应技术领域，包括：确定单粒子截面模型；提取单粒子截面模型参数的关键参数，变换所述关键参数得到至少两个新值，所述关键参数的原值和新值分别与单粒子截面模型参数中的其他参数组合获得单粒子截面模型计算参数组；在至少三个错误率软件中构建空间通量环境；将所述单粒子截面模型计算参数组分别代入每个空间通量环境得到原值和新值的错误率；通过原值和新值的错误率进行在轨错误率多模校验。本发明以常规手段构建基于不同软件的空间模型，并通过关键参数提取法，计算得到多组实际在轨错误率，通过多模态校正输出合理的在轨错误率。
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