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公开(公告)号：CN116660207B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202310736869.1
申请日：2023-06-20
Applicant: 北京易兴元石化科技有限公司 , 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/359 , G16C20/20 , G16C20/70 , G01N21/3577 , G01N1/28
Abstract: 本发明公开了一种油品快检中特征谱段确定方法和辛烷含量检测系统，涉及化学计量学和分析化学领域，采用变量重要性投影算法筛选决定汽柴油理化性质指标的特征谱段，对VIP数值大于1的光谱点进行一阶导数处理，选取导数数值在前10％部分的光谱作为本发明确定的特征谱段，再进行建模分析，计算待测指标含量。本发明通过对近红外光谱图进行采集和分析，仅通过统计方法确定特征谱段，降低了对操作人员的技术水平、背景知识的要求，使整个操作过程更便捷、更具有普遍适用性；且该过程为确定的步骤和计算方法，当近红外光谱图确定后，不同的操作人员也会得到同样的分析结果，并不涉及人为因素的影响，提高盲样预测分析的准确性。
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公开(公告)号：CN117579609B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202311585462.X
申请日：2023-11-24
Applicant: 中国计量科学研究院 , 北京易兴元石化科技有限公司
Abstract: 本发明提供远程检测监控系统及方法，包括云平台、第一智能终端、第二智能终端、至少一个第三智能终端，第一智能终端和第二智能终端与云平台的通信协议头域不同，第一智能终端和第二智能终端独占访问云平台，第二智能终端和第三智能终端全角度监控远程检测，第一智能终端与检测仪器连接并显示云平台发送的动态图形化信息，第二智能终端扫描上述动态图形化信息、拍摄检测人员的人脸信息和实时将定位信息发送给云平台，第三智能终端实时监控检测仪器、第一智能终端显示的动态图形化信息和检测人员的人脸信息，本发明通过检测人员、检测仪器、检测地点的多维横向绑定和纵向交叉验证，保证远程检测过程中检测人员、检测仪器和检测地点的一致性。
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公开(公告)号：CN117288245A
公开(公告)日：2023-12-26
申请号：CN202311580991.0
申请日：2023-11-24
Applicant: 北京易兴元石化科技有限公司 , 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及计量校准技术领域，公开了一种远程智慧计量方法及系统，其中方法包括：S0：申请校准与标物盲样邮寄；S1：人员身份认证；S2：送检单位信息和送检仪器信息验证；S3：标物盲样验证；S4：视频校验操作；S5：送检仪器上传测量值；S6：证书授权。本发明建立计量校准的独立平台，计量单位的计量人员基于平台完成申请校准与标物盲样邮寄、身份认证，送检客户操作人员基于平台再次上传单位和仪器信息等前提工作后，将标物盲样序列号上传云计算平台检索对应标准库的校准值，在计量人员指导和视频监控下完成检测操作，再使用待测仪器测量标物盲样得出测量数据上传云计算平台，计算得到不确定度并生成校准证书。
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公开(公告)号：CN116660207A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310736869.1
申请日：2023-06-20
Applicant: 北京易兴元石化科技有限公司 , 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/359 , G16C20/20 , G16C20/70 , G01N21/3577 , G01N1/28
Abstract: 本发明公开了一种油品快检中特征谱段确定方法和辛烷含量检测系统，涉及化学计量学和分析化学领域，采用变量重要性投影算法筛选决定汽柴油理化性质指标的特征谱段，对VIP数值大于1的光谱点进行一阶导数处理，选取导数数值在前10％部分的光谱作为本发明确定的特征谱段，再进行建模分析，计算待测指标含量。本发明通过对近红外光谱图进行采集和分析，仅通过统计方法确定特征谱段，降低了对操作人员的技术水平、背景知识的要求，使整个操作过程更便捷、更具有普遍适用性；且该过程为确定的步骤和计算方法，当近红外光谱图确定后，不同的操作人员也会得到同样的分析结果，并不涉及人为因素的影响，提高盲样预测分析的准确性。
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公开(公告)号：CN113432961B
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110647765.4
申请日：2021-06-10
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种微纳涂层多功能力学试验机及其使用方法，其中微纳涂层多功能力学试验机包括工作台和工件固定装置，工作台上固设有支撑座和液体储存箱，支撑座上设有移动块和驱动移动块沿横向往复移动的横向驱动装置，工件固定装置上方设有摩擦组件以及给摩擦组件提供恒加载力的竖向驱动装置，竖向驱动装置与移动块相对固定设置。本发明通过加载力闭环控制，实现摩擦测试过程中的恒加载力加载实现了精确力度输出；通过摩擦组件与安装杆的插设连接，可以根据测试需求更换不同类型的摩擦组件，提高了试验机的通用性；通过加热装置对工件进行加热，满足了工件在不同温度下的摩擦测试要求；通过设置供液泵和液体储存箱，方便精确控制滴液速度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110967526B
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN201811161139.9
申请日：2018-09-30
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本申请提供一种扫描探针针尖的制备方法，将探针前驱体以倾斜角度浸入电腐蚀液中，并可依据针尖面型需求驱动探针前驱体在电腐蚀液中做不同方向纳米级移动。在电腐蚀液中静态腐蚀探针前驱体，并实时监测腐蚀时的电解电流，直至腐蚀电流响应跳变，将腐蚀后的探针前躯体以一定倾斜角度移出电腐蚀液。通过扫描探针针尖的制备方法制备扫描探针方便快捷、成本低，特征尺寸及探针针尖几何面型可控。通过实时监测腐蚀时的电解电流是否发生突变，可以更加精准的获得所需纳米功能化的扫描探针，重现性好。
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公开(公告)号：CN108287126B
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN201810243972.1
申请日：2018-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N15/02
Abstract: 本申请提供一种纳米颗粒粒径测量系统，激光光源将激光从入射装置中发出，入射光通过入射光通孔射入散射发生装置。散射发生装置设置有多个入射光通孔与多个出射光通孔。多个入射光通孔与多个所述出射光通孔设置于同一水平面。每个信号探测接收器对应一个所述出射光通孔，用于接收出射光通孔发出的出射光。纳米颗粒粒径测量系统在多个角度上对待测纳米颗粒的同一散射中心进行同时测量，能获得散射中心纳米颗粒的更多有效信息，尤其对于双峰分布的颗粒体系，测量更加准确。此外，纳米颗粒粒径测量系统内设置有偏振光路，通过测量偏振入射光经过散射体后偏振方向的改变，实现对棒状纳米颗粒的长径比的测量求解。
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公开(公告)号：CN111351451A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010298447.7
申请日：2020-04-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种表面微观形貌测量传感器，用于测量待测工件表面的形貌，包括：触针，用于测量微观形貌；触针轴，一端与所述触针连接，用于在所述触针测量微观形貌时跟随所述触针进行上下移动；磁恒力模块，与所述触针轴的另一端连接，用于调节所述触针与待测工件之间的测量力；触针轴气浮模块，环绕在所述触针轴外围，用于使所述触针轴悬浮；位移测量模块，设置在所述触针轴的正上方，用于测量所述触针轴在垂直方向上的位移。本发明通过触针轴气浮模块在触针轴外表面形成气隙，保证触针轴悬浮且摩擦最小，提高了触针测量的精度。通过磁恒力模块可调整触针与待测工件之间的测量力，以使触针将工件表面形貌更真实的传递给传感器。
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公开(公告)号：CN106229013B
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201610605051.6
申请日：2016-07-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 一种具有毫米行程的二维纳米位移台，其特征在于，包括剪切压电陶瓷叠堆、负载台、光滑支撑块、磁力预紧机构及底板，在底板的一侧设有三个呈三角形布置的剪切压电陶瓷叠堆，在三角形的中部设有磁力预紧机构，在剪切压电陶瓷叠堆的顶端设有光滑支撑块，在光滑支撑块的顶设有负载台；该底板与该负载台之间通过磁力预紧机构的磁力相互吸引。本发明的优点是：采用磁力预紧机构，使得各压电陶瓷所受的正压力基本一致，从而使纳米位移台结构简单紧凑、装配简便以及抗干扰能力强；并且磁力预紧机构与负载台之间不产生摩擦力，降低了负载台步进时的阻力，增加了其负载能力。无导轨结构使得位移台具有更多的运动自由度。
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公开(公告)号：CN108917655A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810818139.5
申请日：2018-07-24
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开一种旋转平台，包括固定基座、转台和两个驱动器，固定基座的上表面开设有与转台形状相匹配的凹槽，转台可转动嵌置安装在凹槽内；转台包括中心圆形转子，中心圆形转子的两侧对称设置有两个旋转臂，两个驱动器以中心圆形转子的圆心为中心呈中心对称分布，两个驱动器用于同时驱动两个旋转臂同向旋转；该旋转平台在转动时可避免中心产生平移。本发明还提供一种结构紧凑、受环境影响小、角度分辨率高的多倍程平面干涉角度测量系统，包括上述旋转平台、被测平面镜和测角干涉仪，被测平面镜放置在中心圆形转子的上表面，测角干涉仪设置在旋转平台的一侧。
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