一种基于FPGA的多通道动态光散射自相关系统及方法

    公开(公告)号:CN113447406B

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202110767211.8

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本发明涉及一种一种基于FPGA的多通道动态光散射自相关系统及方法,系统包括:动态光散射发生装置、光子相关器和上位机;光子相关器包括FPGA和USB通讯模块;动态光散射发生装置与FPGA连接;FPGA用于将动态光散射发生装置产生的光子脉冲进行计数和相关计算;USB通讯模块与上位机连接;上位机用于根据计数结果和相关计算结果确定颗粒信息;FPGA包括双计数器模块和相关计算模块;双计数器模块分别与动态光散射发生装置和相关计算模块连接;相关计算模块与USB通讯模块连接;双计数器模块包括多个双计数器;相关计算模块包括多个相关器。本发明能够实现多角度同时采集和计算样品的粒径和分布。

    颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN111721677A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN202010460736.2

    申请日:2020-05-27

    Abstract: 本申请涉及一种颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质。基于多个角度与多个角度颗粒粒径、多个样品浓度与多个第一颗粒粒径,分别对多个角度颗粒粒径、多浓度条件下颗粒粒径采用多项式拟合的数学方法进行拟合,获得颗粒粒径随角度、浓度变化的趋势,进行回归分析预测,可以根据实际样本数据建立自变量与因变量的关系,进而预测出0°散射角和0样品浓度条件下对应的颗粒粒径。通过所述颗粒粒径测量方法可以消除颗粒间长程作用力、大颗粒自身散射信号互相干涉带来的粒径测量误差,解决了单一角度测量无法分析和消除误差的问题,并且解决了不同仪器、不同浓度和类型样品测量结果偏差大的问题。

    一种滚动工况下摩擦系数的测量模块及测试方法

    公开(公告)号:CN118566112A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202410640824.9

    申请日:2024-05-22

    Inventor: 黄鹭 贾鑫 孙淼

    Abstract: 本发明提供一种滚动工况下摩擦系数的测量模块及测试方法,测量模块包括:上摩擦块、保持架、滚动体、下摩擦块和油池夹具;油池夹具开设油槽,在油槽内开设凹槽,在凹槽内安装下摩擦块;下摩擦块或上摩擦块上嵌套保持架;保持架内安装滚动体,滚动体与下摩擦块的上表面接触;上摩擦块安装于摩擦磨损试验机上;上摩擦块被配置为:在摩擦磨损试验机驱动下,对滚动体施加竖直载荷,以及沿水平方向往复运动带动滚动体在下摩擦块的上表面滚动摩擦。本发明克服现有滚动工况下摩擦系数的测量中干扰因素多,滚动失效形式及其演变机制难以精细化评价等问题,并实现多种润滑状态下滚动工况下摩擦系数精细化测量。

    一种可监测边界润滑状态的摩擦试验机

    公开(公告)号:CN115575311A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211105779.4

    申请日:2022-09-09

    Abstract: 本申请涉及一种可监测边界润滑状态的摩擦试验机,包括:施压装置、旋转驱动装置、滚动夹具、钢球和转盘;其中,施压装置位于旋转驱动装置沿第一方向的一侧;转盘设置在旋转驱动装置的靠近施压装置的一端,旋转驱动装置用于驱动转盘在第一平面上转动;滚动夹具设置在施压装置靠近旋转驱动装置的一端;钢球可转动地夹持在滚动夹具上;施压装置被配置为沿第一方向施加加载力至钢球上,以使钢球与转盘抵接;第一方向垂直于第一平面。这样,转盘与钢球接触后,转盘旋转,钢球也能够绕自身的中心转动,实现了钢球在转盘上的滚动,从而使摩擦试验机能够进行滚动摩擦试验。

    微纳涂层多功能力学试验机及其使用方法

    公开(公告)号:CN113432961B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202110647765.4

    申请日:2021-06-10

    Abstract: 本发明涉及一种微纳涂层多功能力学试验机及其使用方法,其中微纳涂层多功能力学试验机包括工作台和工件固定装置,工作台上固设有支撑座和液体储存箱,支撑座上设有移动块和驱动移动块沿横向往复移动的横向驱动装置,工件固定装置上方设有摩擦组件以及给摩擦组件提供恒加载力的竖向驱动装置,竖向驱动装置与移动块相对固定设置。本发明通过加载力闭环控制,实现摩擦测试过程中的恒加载力加载实现了精确力度输出;通过摩擦组件与安装杆的插设连接,可以根据测试需求更换不同类型的摩擦组件,提高了试验机的通用性;通过加热装置对工件进行加热,满足了工件在不同温度下的摩擦测试要求;通过设置供液泵和液体储存箱,方便精确控制滴液速度。

    一种低应力类金刚石耐磨涂层及其制备方法

    公开(公告)号:CN113621926A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110930166.3

    申请日:2021-08-13

    Abstract: 本发明属于耐磨涂层材料制备领域,具体涉及一种低应力类金刚石耐磨涂层及其制备方法。本发明提供的低应力类金刚石耐磨涂层,包括依次层叠的含金属过渡层、纳米金刚石过渡层和类金刚石涂层。本发明利用纳米金刚石过渡层与类金刚石涂层的近同质外延作用,增加类金刚石中碳元素的过饱和度,降低类金刚石涂层沉积难度,同时降低了类金刚石沉积过程中的残余应力,提高类金刚石涂层与纳米金刚石过渡层结合强度。而且,由于引入了纳米金刚石过渡层,在基体和类金刚石涂层之间形成桥梁作用,提升了类金刚石涂层的承载能力。

    微纳涂层多功能力学试验机及其使用方法

    公开(公告)号:CN113432961A

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN202110647765.4

    申请日:2021-06-10

    Abstract: 本发明涉及一种微纳涂层多功能力学试验机及其使用方法,其中微纳涂层多功能力学试验机包括工作台和工件固定装置,工作台上固设有支撑座和液体储存箱,支撑座上设有移动块和驱动移动块沿横向往复移动的横向驱动装置,工件固定装置上方设有摩擦组件以及给摩擦组件提供恒加载力的竖向驱动装置,竖向驱动装置与移动块相对固定设置。本发明通过加载力闭环控制,实现摩擦测试过程中的恒加载力加载实现了精确力度输出;通过摩擦组件与安装杆的插设连接,可以根据测试需求更换不同类型的摩擦组件,提高了试验机的通用性;通过加热装置对工件进行加热,满足了工件在不同温度下的摩擦测试要求;通过设置供液泵和液体储存箱,方便精确控制滴液速度。

    一种落射式紫外光学显微镜光源多维调节机构

    公开(公告)号:CN111399206A

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN202010331853.9

    申请日:2020-04-24

    Abstract: 本发明公开一种落射式紫外光学显微镜光源多维调节机构,主要包括用于转换光路的落射照明盒、支撑零部件用的笼杆、安装各种透镜的笼板、光圈可调的可变光阑以及安装并调节紫外光源用的光学调整架。通过调节安装透镜的笼板和安装紫外光源的光学调整架在笼杆上的位置,能够实现成像要求的紫外光源的消色差、扩束和准直,通过移动可变光阑上的拨杆,能够调节紫外光源入射到落射照明盒的光束范围,通过调节安装紫外光源的光学调整架上面的旋转调节螺钉,能够实现紫外光源在俯仰、偏摆方向的微调,紫外光学显微镜在三种紫外光源调节方式下,互相配合,共同作用,从而达到高分辨率成像的显微镜光源需求。

    颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN111721677B

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202010460736.2

    申请日:2020-05-27

    Abstract: 本申请涉及一种颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质。基于多个角度与多个角度颗粒粒径、多个样品浓度与多个第一颗粒粒径,分别对多个角度颗粒粒径、多浓度条件下颗粒粒径采用多项式拟合的数学方法进行拟合,获得颗粒粒径随角度、浓度变化的趋势,进行回归分析预测,可以根据实际样本数据建立自变量与因变量的关系,进而预测出0°散射角和0样品浓度条件下对应的颗粒粒径。通过所述颗粒粒径测量方法可以消除颗粒间长程作用力、大颗粒自身散射信号互相干涉带来的粒径测量误差,解决了单一角度测量无法分析和消除误差的问题,并且解决了不同仪器、不同浓度和类型样品测量结果偏差大的问题。

    一种基于FPGA的多通道动态光散射自相关系统及方法

    公开(公告)号:CN113447406A

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202110767211.8

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本发明涉及一种一种基于FPGA的多通道动态光散射自相关系统及方法,系统包括:动态光散射发生装置、光子相关器和上位机;光子相关器包括FPGA和USB通讯模块;动态光散射发生装置与FPGA连接;FPGA用于将动态光散射发生装置产生的光子脉冲进行计数和相关计算;USB通讯模块与上位机连接;上位机用于根据计数结果和相关计算结果确定颗粒信息;FPGA包括双计数器模块和相关计算模块;双计数器模块分别与动态光散射发生装置和相关计算模块连接;相关计算模块与USB通讯模块连接;双计数器模块包括多个双计数器;相关计算模块包括多个相关器。本发明能够实现多角度同时采集和计算样品的粒径和分布。

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