-
公开(公告)号：CN119714144B
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202510213079.4
申请日：2025-02-26
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01B15/00
Abstract: 本申请公开了一种用于皮米级位移台的X射线干涉仪及位移测量方法，涉及干涉仪领域，该干涉仪中第一分光器设置在X射线源的出射光路上；第一反射器和第二分光器分别设置在第一分光器的透射光路上；分析器设置在第一反射器的反射光路和第二分光器的第一透射光路上；第三分光器设置在第二分光器的第二透射光路上；第二反射器设置在第三分光器的反射光路上；第三反射器设置在第三分光器的透射光路上；第三分光器设置在第二和第三反射器的反射光路上；探测模块设置在分析器和第三分光器的出射光路上，探测干涉条纹强度，处理器根据强度计算X、Y方向上的位移，本申请仅用一个光源即可实现同时对二维运动进行皮米级精度的测量，结构简单，辐射风险小。
-
公开(公告)号：CN118566112A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410640824.9
申请日：2024-05-22
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N19/02
Abstract: 本发明提供一种滚动工况下摩擦系数的测量模块及测试方法，测量模块包括：上摩擦块、保持架、滚动体、下摩擦块和油池夹具；油池夹具开设油槽，在油槽内开设凹槽，在凹槽内安装下摩擦块；下摩擦块或上摩擦块上嵌套保持架；保持架内安装滚动体，滚动体与下摩擦块的上表面接触；上摩擦块安装于摩擦磨损试验机上；上摩擦块被配置为：在摩擦磨损试验机驱动下，对滚动体施加竖直载荷，以及沿水平方向往复运动带动滚动体在下摩擦块的上表面滚动摩擦。本发明克服现有滚动工况下摩擦系数的测量中干扰因素多，滚动失效形式及其演变机制难以精细化评价等问题，并实现多种润滑状态下滚动工况下摩擦系数精细化测量。
-
公开(公告)号：CN115575311A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211105779.4
申请日：2022-09-09
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N19/02
Abstract: 本申请涉及一种可监测边界润滑状态的摩擦试验机，包括：施压装置、旋转驱动装置、滚动夹具、钢球和转盘；其中，施压装置位于旋转驱动装置沿第一方向的一侧；转盘设置在旋转驱动装置的靠近施压装置的一端，旋转驱动装置用于驱动转盘在第一平面上转动；滚动夹具设置在施压装置靠近旋转驱动装置的一端；钢球可转动地夹持在滚动夹具上；施压装置被配置为沿第一方向施加加载力至钢球上，以使钢球与转盘抵接；第一方向垂直于第一平面。这样，转盘与钢球接触后，转盘旋转，钢球也能够绕自身的中心转动，实现了钢球在转盘上的滚动，从而使摩擦试验机能够进行滚动摩擦试验。
-
公开(公告)号：CN113432961B
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110647765.4
申请日：2021-06-10
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种微纳涂层多功能力学试验机及其使用方法，其中微纳涂层多功能力学试验机包括工作台和工件固定装置，工作台上固设有支撑座和液体储存箱，支撑座上设有移动块和驱动移动块沿横向往复移动的横向驱动装置，工件固定装置上方设有摩擦组件以及给摩擦组件提供恒加载力的竖向驱动装置，竖向驱动装置与移动块相对固定设置。本发明通过加载力闭环控制，实现摩擦测试过程中的恒加载力加载实现了精确力度输出；通过摩擦组件与安装杆的插设连接，可以根据测试需求更换不同类型的摩擦组件，提高了试验机的通用性；通过加热装置对工件进行加热，满足了工件在不同温度下的摩擦测试要求；通过设置供液泵和液体储存箱，方便精确控制滴液速度。
-
公开(公告)号：CN113621926A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202110930166.3
申请日：2021-08-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明属于耐磨涂层材料制备领域，具体涉及一种低应力类金刚石耐磨涂层及其制备方法。本发明提供的低应力类金刚石耐磨涂层，包括依次层叠的含金属过渡层、纳米金刚石过渡层和类金刚石涂层。本发明利用纳米金刚石过渡层与类金刚石涂层的近同质外延作用，增加类金刚石中碳元素的过饱和度，降低类金刚石涂层沉积难度，同时降低了类金刚石沉积过程中的残余应力，提高类金刚石涂层与纳米金刚石过渡层结合强度。而且，由于引入了纳米金刚石过渡层，在基体和类金刚石涂层之间形成桥梁作用，提升了类金刚石涂层的承载能力。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108287126B
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN201810243972.1
申请日：2018-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N15/02
Abstract: 本申请提供一种纳米颗粒粒径测量系统，激光光源将激光从入射装置中发出，入射光通过入射光通孔射入散射发生装置。散射发生装置设置有多个入射光通孔与多个出射光通孔。多个入射光通孔与多个所述出射光通孔设置于同一水平面。每个信号探测接收器对应一个所述出射光通孔，用于接收出射光通孔发出的出射光。纳米颗粒粒径测量系统在多个角度上对待测纳米颗粒的同一散射中心进行同时测量，能获得散射中心纳米颗粒的更多有效信息，尤其对于双峰分布的颗粒体系，测量更加准确。此外，纳米颗粒粒径测量系统内设置有偏振光路，通过测量偏振入射光经过散射体后偏振方向的改变，实现对棒状纳米颗粒的长径比的测量求解。
-
公开(公告)号：CN111351451A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010298447.7
申请日：2020-04-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种表面微观形貌测量传感器，用于测量待测工件表面的形貌，包括：触针，用于测量微观形貌；触针轴，一端与所述触针连接，用于在所述触针测量微观形貌时跟随所述触针进行上下移动；磁恒力模块，与所述触针轴的另一端连接，用于调节所述触针与待测工件之间的测量力；触针轴气浮模块，环绕在所述触针轴外围，用于使所述触针轴悬浮；位移测量模块，设置在所述触针轴的正上方，用于测量所述触针轴在垂直方向上的位移。本发明通过触针轴气浮模块在触针轴外表面形成气隙，保证触针轴悬浮且摩擦最小，提高了触针测量的精度。通过磁恒力模块可调整触针与待测工件之间的测量力，以使触针将工件表面形貌更真实的传递给传感器。
-
公开(公告)号：CN108917655A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810818139.5
申请日：2018-07-24
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开一种旋转平台，包括固定基座、转台和两个驱动器，固定基座的上表面开设有与转台形状相匹配的凹槽，转台可转动嵌置安装在凹槽内；转台包括中心圆形转子，中心圆形转子的两侧对称设置有两个旋转臂，两个驱动器以中心圆形转子的圆心为中心呈中心对称分布，两个驱动器用于同时驱动两个旋转臂同向旋转；该旋转平台在转动时可避免中心产生平移。本发明还提供一种结构紧凑、受环境影响小、角度分辨率高的多倍程平面干涉角度测量系统，包括上述旋转平台、被测平面镜和测角干涉仪，被测平面镜放置在中心圆形转子的上表面，测角干涉仪设置在旋转平台的一侧。
-
公开(公告)号：CN117430079B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311464577.3
申请日：2023-11-07
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: B81C1/00
Abstract: 本发明公开了一种基于自组装材料图案化微纳关键尺寸及其制备方法，硫醇SAM制备条件简单、结构稳定有序，在表面改性、电化学、生物传感器、分子电子学等诸多领域均有应用，且研究较为深入，本发明也因其稳定有序的结构特点，将其作为自组装单层物质的制备材料，硫醇分子由巯基、碳链、官能团组成，以正烷硫醇为例，官能团为甲基，使其具有疏水性；巯基对衬底产生吸附作用，在自组装过程中最为重要；碳链的长度决定了最终形成的SAM层的厚度，碳原子成“之”字形排列，形成全反式构象，使其具有热力学稳定性，且链之间的相互吸引力有助于稳定自组装膜结构，所制备的自组装材料具有均匀性和稳定性好的特点。
-
公开(公告)号：CN110455690B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201910773638.1
申请日：2019-08-21
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N15/0205
Abstract: 本申请提供一种纳米颗粒粒径测量系统。在匹配液中放置有第一光阻断结构和第二光阻断结构。第一光阻断结构设置于入射光束正向延长线上，用以吸收和反射光束，使其无法到达匹配池壁面与空气交界处发生反射。第二光阻断结构设置于多个散射光通孔接收的散射光束的反向延长线上，用于吸收和反射测量接收角互补角上的散射光束，使其无法到达匹配池壁面与空气交界处发生反射。通过匹配液、第一光阻断结构以及第二光阻断结构可以极大程度上减少传统纳米颗粒粒径测量系统中样品池壁面反射光的影响，并避免多个散射光通孔接收自身角度的散射光信号中混入反射光信息，从而大幅提高了测量结果的准确性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
41
records
(took 0.026 seconds)
