一种大角度抗辐射LED的照明灯具

    公开(公告)号:CN116123508B

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202211714742.1

    申请日:2022-12-29

    Abstract: 一种大角度抗辐射LED照明灯具,解决了目前在核辐射环境中灯具的发光效率低,功耗大,寿命短的问题。本发明中灯具包括连接器、连接器安装座、锥形罩、上连接板、散热器、下连接板、底灯板、侧灯板和串联PCB板;连接器通过长线缆与感应补偿模块连接;连接器通过连接器安装座和锥形罩的上端连接;上连接板安装在锥形罩的下端;散热器的一端与上连接板连接,另一端与下连接板连接;散热器四周设置有多个安装槽,每个安装槽内均安装了一个侧灯板,串联PCB板安装在上连接板的上表面,多个侧灯板通过上连接板依次连接形成串联电路;底灯板设置在下连接板的上端面且与散热器连接,底灯板与串联PCB板连接并且与多个侧灯板形成的串联电路并联。

    一种总剂量条件下GaN高电子迁移率晶体管栅可靠性的仿真方法

    公开(公告)号:CN117910404A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202410097689.8

    申请日:2024-01-24

    Abstract: 本发明涉及一种总剂量条件下GaN HEMT器件栅可靠性仿真方法,该方法基于器件几何结构和工艺参数,构建GaN HEMT器件二维仿真结构;基于计算机辅助设计仿真器中的电学特性计算工具,设置电学特性仿真计算的模型,计算仿真器件的IG‑VG曲线,分析对比仿真结果与试验结果,修正模型参数,使得仿真结果与试验结果相吻合;基于总剂量效应下GaN HEMT器件辐射损伤的关键物理过程,通过在敏感区域P‑GaN/AlGaN/GaN界面处添加总剂量效应的辐射损伤模型,计算仿真总剂量条件下的IG‑VG曲线,分析对比仿真结果与试验结果,修正总剂量效应模型参数,使得仿真结果与试验结果相吻合。该方法可准确定位总剂量效应敏感区域,揭示辐射损伤机制,并可应用至器件研制过程中,减少迭代次数,降低器件研制成本。

    基于负衬底偏压的n型鳍式场效应晶体管及其加固方法

    公开(公告)号:CN116779444A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310856139.5

    申请日:2023-07-12

    Abstract: 本发明涉及一种基于负衬底偏压的n型鳍式场效应晶体管加固方法,属于半导体器件抗辐射技术领域,包括辐照前衬底偏置电路搭建、辐照中施加负衬底偏置电压抑制辐射损伤、随着辐照剂量的增加,调整负衬底偏置电压的步骤。还涉及一种n型鳍式场效应晶体管,在衬底端口与集成电路地电位之间设置电压源,提供负偏置电压。本发明不改变晶体管器件的工艺流程,施加负衬底偏压提升晶体管阈值电压,使关态漏电流与初始值之差小于1个数量级,保证了n型鳍式场效应晶体管在辐射环境下正常工作。

    一种电机驱动装置的精细化辐射屏蔽方法

    公开(公告)号:CN116056438A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202211717787.4

    申请日:2022-12-29

    Abstract: 本发明提供了一种电机驱动装置的精细化辐射屏蔽方法,用于解决现有的屏蔽方法成本较高且屏蔽效果较差的技术问题。该辐射屏蔽方法首先将电机驱动装置的各个芯片分别进行辐照测试,得到各个芯片的抗辐射能力;接着根据各个芯片的抗辐射能力,计算各个芯片屏蔽所需的铅材料的厚度;最后将对应厚度的铅材料覆盖在对应芯片的上下两侧,再将各个芯片组装至相应的位置,即完成电机驱动装置的精细化辐射屏蔽。该方法只需对驱动各芯片进行铅材料包覆,而无需将整个电路板包起来,进而节省了铅材料,降低了包覆的成本,与整机包覆相比,提升了电机驱动装置的整体屏蔽效果。

    一种基于存储器特性的新型剂量探测方法

    公开(公告)号:CN110376631B

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN201910788765.9

    申请日:2019-08-26

    Abstract: 本发明涉及一种基于存储器特性的新型剂量探测方法,该方法中涉及的剂量探头是由处理器、存储器矩阵、电源芯片、电源端、串口数据端组成,在使用时,将剂量探头放置在辐射场中,按照要求连接好各个端口,确保通信正常,采用50rad(Si)/s的剂量率做试验,通过剂量探头探测到的总剂量除以时间,为51.6rad(Si)/s,故该剂量探头能够满足探测剂量信息的要求。

    一种耐辐射镜头电动对焦装置及方法

    公开(公告)号:CN115729014A

    公开(公告)日:2023-03-03

    申请号:CN202211726729.8

    申请日:2022-12-31

    Abstract: 本发明涉及一种耐辐射镜头电动对焦装置及方法,该装置是由耐辐射镜头安装座,驱动螺钉,固定镜筒,驱动凸轮,前端滚珠,后端滚珠,图像传感器安装座,耐辐射电机,电机齿轮,电机固定座,凸轮齿轮,固定法兰组成,该装置的电机及其电路部分均进行了耐辐射加固设计,从而使得该装置尤其适用于耐辐射相机中。使用时,将定焦镜头通过专用夹具安装在该装置内,将不可调焦的定焦镜头转换为可电动对焦的镜头。当相机使用不可调焦的镜头拍照或摄像时,只能对特定的物距成清晰像,将该装置安装在相机内之后,在相机操作界面进行电动或自动对焦,对所有物距皆可清晰成像,最大程度提高了相机的工作范围。由于相机使用了该装置后可进行远程对焦设置,无需更换镜头或者人工旋转镜头对焦,因此该装置尤其适合在辐射等人员无法直接进入的环境下使用。

    一种CMOS图像传感器像素单元多次脉冲读取电荷传输效率仿真方法

    公开(公告)号:CN114912278A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202210534852.3

    申请日:2022-05-17

    Abstract: 本发明涉及一种CMOS图像传感器像素单元多次脉冲读取电荷传输效率的仿真方法,该方法通过在CMOS图像传感器像素单元曝光阶段开始之前,对钳位光电二极管进行复位,设置传输栅栅压为0V,使光电二极管处于积累状态,然后在仿真环境中采用准直光源入射,调用光注入模型,实现光产生过程的模拟,提取此时钳位光电二极管中的光生载流子数目N1,将浮置扩散节点设置为高电位并保持,同时在传输栅上设置脉冲电压,提取每一次传输栅开启后的钳位光电二极管中剩余光生载流子数目N2,直到钳位光电二极管中剩余光生载流子数目N2不再随时间变化时,利用该N2值计算CMOS图像传感器像素单元的电荷传输效率。本发明可以获得电荷传输效率,还可以直观看到电荷传输过程中的微观电势分布,从而分析得到电荷传输的限制机制。

    一种不同光强对辐照后CMOS图像传感器像素单元满阱容量影响的仿真方法

    公开(公告)号:CN114896927A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210539926.2

    申请日:2022-05-17

    Abstract: 本发明涉及一种不同光强对辐照后CMOS图像传感器像素单元满阱容量影响的仿真方法,该方法确定氧化物陷阱电荷、类施主型界面态和类受主型界面态作为TCAD软件中电离效应模型的输入参数,通过实验获得γ射线辐照后的暗电流曲线,在对氧化物陷阱电荷、类施主型界面态和类受主型界面态进行电学校准,获得三种缺陷与累积剂量之间的比例因子,建立CMOS图像传感器像素单元电离辐射效应模型,再在CMOS图像传感器像素单元曝光阶段开始之前,对钳位光电二极管进行复位,设置传输栅栅压为0V,然后在TCAD软件仿真环境中采用准直光源入射,调用光注入模型,再设置固定光强,采用瞬态模拟,提取钳位光电二极管中的变化曲线,获得满阱容量,再调用电离辐射效应模型,改变光强,模拟相同累积剂量下,不同光强对满阱容量的影响。本发明可以直观地看出不同光强对辐照后CMOS图像传感器像素单元满阱容量的影响。

    一种星用辐射剂量传感器的老炼筛选方法

    公开(公告)号:CN113568028A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110842992.2

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明提供一种星用辐射剂量传感器的老炼筛选方法,该方法首先对辐射剂量传感器受试样品进行输出转移特性曲线测试,筛选出初值合格的辐射剂量传感器受试样品;其次,对初测合格的受试样品分别是在施加低电场应力同时进行高温应力、高低温循环应力和室温应力三组老炼试验;每组应力试验后,对受试样品的输出转移特性曲线或输出信号进行测试;最后,依据辐射剂量传感器的响应灵敏度,计算出允许的剂量响应参数漂移误差范围,以此判定每组应力试验后受试样品是否通过测试,测试合格的受试样品继续下一组的应力试验,三组应力试验都通过的样品判定为合格;本发明提供的一种对星用辐射剂量传感器进行老炼筛选的方法,在航天领域有广阔的应用前景。

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