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公开(公告)号:CN119246012A
公开(公告)日:2025-01-03
申请号:CN202410750491.5
申请日:2024-06-12
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种天文成像探测器辐照后线性度的测试方法,该方法涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、三维样品调整台、样品测试板、天文成像探测器样品、直流电源和计算机组成。通过开展天文成像探测器质子辐照损伤试验,对采集到的本底图像和不同曝光时间的光场图像的单个像元的灰度值进行提取,并计算剔除本底的光场图像灰度均值,然后找出满阱信号值,再以曝光时间为横轴,部分光场图像灰度均值为纵轴,对线性度数据进行最小二乘法拟合,并提取拟合曲线的线性区域斜率和截距,对每一组曝光时间和光场灰度均值进行线性度计算,然后求出所有组线性度数据的均值,即为天文成像探测器的线性度。该方法适用于多种天文成像探测器,具有测试方便、误差小、速度快、实用性强等优势。
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公开(公告)号:CN119071663A
公开(公告)日:2024-12-03
申请号:CN202411180293.6
申请日:2024-08-27
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种天文成像探测器辐照后单像素增益的测试方法,该方法涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、三维样品调整台、样品测试板、天文成像探测器样品、直流电源和计算机组成。通过开展天文成像探测器质子辐照损伤试验,对采集到的本底图像和不同曝光时间的光场图像的单个像素的灰度值进行提取,并计算单个像素剔除本底的光场图像灰度均值和方差值,将单个像素不同曝光时间的光场图像灰度均值和方差值数据进行最小二乘法拟合,并提取拟合曲线的线性区域斜率,该斜率的倒数即为天文成像探测器的单像素增益。将计算的全部像素位置线性区域斜率进行频数分布可便于对辐照后增益的微小变化进行分析。该方法适用于天文成像探测器领域,具有测试方便、误差小、速度快、实用性强等优势。
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公开(公告)号:CN117454742A
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311157329.4
申请日:2023-09-08
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所 , 中国科学院空间应用工程与技术中心
IPC: G06F30/27 , G06F30/398 , G06F18/2415 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供了一种用于COTS电子系统的辐射效应量化分析方法,所述方法包括:将电子系统原理图转换为概率图表达形式;定义电子系统中元器件的失效状态;针对元器件开展辐照试验获取辐射效应数据;获得辐射效应数据的统计模型参数;基于模拟样本获得元器件失效概率;将元器件失效概率导入电子系统的概率图表达形式;基于概率图表达形式及相应算法求解电子系统边缘概率及最大后验概率状态。本发明的优势在于:在不依赖大量整机样本的情况下,能够基于COTS辐射效应数据和失效依赖关系计算电子系统失效概率;MAP结果为电子系统RH活动的持续改进提供依据。
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公开(公告)号:CN117041532A
公开(公告)日:2023-11-10
申请号:CN202311138362.2
申请日:2023-09-04
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本公开提供了一种图像传感器单粒子翻转在线判别方法,该方法包括:采集初始图像,初始图像为图像传感器在辐照源照射下采集的图像;采集在线图像,在线图像为图像传感器在辐照源照射下工作状态的图像;识别初始图像的第一亮斑、在线图像中的第二亮斑,分别记录第一亮斑信息、第二亮斑信息,亮斑的信息包括亮斑的个数和亮斑占据的像元;根据第一亮斑信息计算初始图像的初始灰度值,根据第二亮斑信息计算在线图像的全局灰度值、列灰度值、行灰度值;将在线图像的全局灰度值、列灰度值、行灰度值与初始图像的初始灰度值比较,进行灰度值异常判别;当灰度值发生异常,判定图像传感器发生单粒子翻转。本公开还提供一种图像传感器失效位置在线判别方法。
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公开(公告)号:CN116735981A
公开(公告)日:2023-09-12
申请号:CN202310502367.2
申请日:2023-05-05
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明提供一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法,用于解决现有的辐射效应原位测试系统无法实现对数字集成电路的性能和功能进行全面测试的技术问题。测试系统包括驱动单元、采集单元及分析单元;采集单元包括SMU测试模块和至少一个数字向量测试模块,SMU测试模块用于为待测数字集成电路供电并采集待测数字集成电路的功耗电流;数字向量测试模块用于为待测数字集成电路输入电信号激励,并采集待测数字集成电路输出的电平信号;分析单元用于接收SMU测试模块和每个数字向量测试模块采集到的信息,并对其进行处理。
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公开(公告)号:CN116310512A
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202310106275.2
申请日:2023-02-13
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/40 , G01N23/04 , G01N21/88
Abstract: 本公开提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类方法,应用于图像传感器检测技术领域,包括:获取不同退火时间下光电成像器件采集到的暗场图像像素的暗电流数据,对满足预设条件的像素的暗电流数据进行样条插值,得到样条插值结果,对样条插值结果取切比雪夫零点,对切比雪夫零点进行拉格朗日插值,得到暗电流演变的多项式结果并将暗电流演变的多项式结果在预设坐标系中绘制成暗电流演变曲线,对于每两个不同的像素,分别将每两个不同的像素的暗电流演变曲线绘制于预设坐标系中,得到曲线绘制结果,根据曲线绘制结果,得到光电成像器件辐射损伤的像素级分类结果。本公开还提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类装置、电子设备及存储介质。
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公开(公告)号:CN113758683A
公开(公告)日:2021-12-07
申请号:CN202111031926.3
申请日:2021-09-03
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于平均色彩饱和度的相机系统辐照后光谱退化评估方法,该方法涉及装置是由相机、光学镜头、夹具、中性灰背板、第一反射面光源、第一反射面光源、光谱光度计和色彩测试卡组成。采用调整夹具拍摄色彩测试卡,调节光学镜头,使测试卡成像清晰,进行色块选取和采图,再关闭光源,进行相机在暗场下的采图,通过数据处理软件分析获取选取色块坐标系下的坐标值等参数的相关信息,再计算出色彩还原误差、色度误差和平均色彩饱和度。将经过辐照后的相机重复测试,将辐照后的色彩还原误差、色度误差的均值分别与选定阈值作差值,通过平均色彩饱和度评估相机在不同累积辐射剂量下辐射损伤引起的图像传感器光谱退化程度。本发明可以快速评估相机在不同累积辐射剂量下的辐射损伤,方法简单,实用性强。
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公开(公告)号:CN111220867A
公开(公告)日:2020-06-02
申请号:CN202010040606.3
申请日:2020-01-15
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法。该方法所涉及的测试系统是由PC机和CMOS图像传感器测试板组成,其中CMOS图像传感器测试板由图像和数据接口、现场可编程门阵列、CMOS图像传感器和外围电路组成,在PC机中设置有图像成像软件和寄存器读写软件,PC机中图像采集卡通过数据线与CMOS图像传感器测试板中的图像和数据接口相连,现场可编程门阵列将图像数据映射成标准图像格式传递给PC机,电源通过外围电路为CMOS图像传感器和现场可编程门阵列供电,寄存器读写软件可读写CMOS图像传感器内部寄存器值,同时将读出值和初值进行比较,判定该寄存器是否发生翻转,并自动统计寄存器发生翻转次数。本发明所述方法简单快速,计算结果准确,实时性强。
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公开(公告)号:CN110702098A
公开(公告)日:2020-01-17
申请号:CN201910972061.7
申请日:2019-10-14
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于星对角距测量精度的星敏感器辐射损伤实验室评估方法,该方法中涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、样品调整转台、样品测试板、互补金属氧化物半导体有源像素传感器样品、直流电源、计算机、平行光管、自准直经纬仪、单星模拟器和成像镜头组成,利用自准直经纬仪将固定在样品测试板上的成像镜头和平行光管对齐,将单星模拟器调到零等星,样品调整转台调到回转角0°,俯仰角0°,通过成像镜头对模拟单星星点成像,再通过暗场测试,提取单个星点的质心坐标位置,然后换算成星点的方向矢量,利用星点方向矢量得到星对角距的测试值,再通过转台角度的调整得到星对角距的理论值,即为星对角距测量精度。本发明可以在实验室条件下快速评估星敏感器在不同累积辐射剂量下辐射损伤,方法简单,实用性强。
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公开(公告)号:CN107063329B
公开(公告)日:2019-08-06
申请号:CN201710200747.5
申请日:2017-03-30
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明涉及快速鉴别辐照后互补金属氧化物半导体传感器随机电码信号的方法,该方法涉及装置是由静电试验平台、样品测试板、互补金属氧化物半导体传感器样品和计算机组成,利用计算机上安装的读图软件采集大量暗场图像,将图像数据转换为灰度值随时间变化的信号;然后将所获得的灰度值随时间变化的像素信号重新排序,求出其梯度信息,再对像素信号的梯度信息进行滤波,将滤波后的梯度信号与原始的重新排序后的信号相结合,进行重建,得到的重建排序信号,计算信号的波动幅度及台阶个数,将未滤波的信号通过特定判据的判别结果和滤波后的信号通过特定判据的判别结果进行或关系运算,其结果可以正确判断一个像素是否为随机电码信号。本发明操作方便快捷,具有一定的通用性。
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