公开(公告)号：CN116310512A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310106275.2

申请日：2023-02-13

Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所

Inventor： 文林 ,  赵子韬 ,  李豫东 ,  周东 ,  冯婕 ,  施炜雷 ,  郭旗

IPC: G06V10/764 ,  G06V10/40 ,  G01N23/04 ,  G01N21/88

Abstract: 本公开提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类方法，应用于图像传感器检测技术领域，包括：获取不同退火时间下光电成像器件采集到的暗场图像像素的暗电流数据，对满足预设条件的像素的暗电流数据进行样条插值，得到样条插值结果，对样条插值结果取切比雪夫零点，对切比雪夫零点进行拉格朗日插值，得到暗电流演变的多项式结果并将暗电流演变的多项式结果在预设坐标系中绘制成暗电流演变曲线，对于每两个不同的像素，分别将每两个不同的像素的暗电流演变曲线绘制于预设坐标系中，得到曲线绘制结果，根据曲线绘制结果，得到光电成像器件辐射损伤的像素级分类结果。本公开还提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类装置、电子设备及存储介质。

公开(公告)号：CN119291435A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202411454842.4

申请日：2024-10-17

Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所

Inventor： 文林 ,  刘新飞 ,  李豫东 ,  周东 ,  冯婕 ,  玛丽娅·黑尼 ,  刘默寒 ,  刘炳凯 ,  赵子韬 ,  郭旗

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明提供了一种电子器件剂量率与电磁脉冲协和效应试验装置，可应用于电子器件辐射效应技术领域。该装置包括：脉冲功率辐照装置、辐照腔、测试屏蔽单元、屏蔽柜、第一测试设备、第二测试设备、电源、第一电缆以及信号输入设备，其中，脉冲功率辐照装置用于产生脉冲X射线并进入辐照腔内，以使辐照腔内产生脉冲X射线以及电磁脉冲辐照的环境；测试屏蔽单元位于辐照腔的内部，用于放置待测试的电子器件，使其处于单一的脉冲X射线辐照环境或者脉冲X射线辐照和电磁脉冲辐照环境。通过测试屏蔽单元对测试线路板进行两种不同的方式的屏蔽，实现两种环境的试验测试。本发明还提供了一种电子器件剂量率与电磁脉冲协和效应试验测试方法。

公开(公告)号：CN119269025A

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202411378302.2

申请日：2024-09-30

Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所

Inventor： 文林 ,  杨思妮 ,  李豫东 ,  赵子韬 ,  冯婕 ,  周东 ,  刘炳凯 ,  施炜雷 ,  玛丽娅·黑尼 ,  郭旗

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/04 ,  G01M11/02 ,  G01R31/00 ,  H05K7/20

Abstract: 本发明提供了一种图像传感器的辐照试验装置，可应用于电子器件辐射效应以及辐射损伤评估技术领域。该试验装置包括：辐照间、辐照板、制冷片、散热装置、程控电源、电缆、真空温箱、测试板、计算机以及橡胶塞，其中，辐照板与制冷片中间的位置用于放置待测试的图像传感器；程控电源用于控制制冷片和散热装置的通断电；辐照后的图像传感器放置于真空温箱内通过电缆与真空温箱外部的测试板连接；以及计算机与测试板相连接，用于控制测试条件以及获取测试结果。通过制冷片以及散热装置的设置能够达到良好的温控效果，同时在辐照后能够迅速将器件转移至真空温箱，避免接触室温而导致缺陷退火。本发明还提供了一种图像传感器的辐照试验测试方法。