一种塑封集成电路批量超声波扫描检查装置及方法

    公开(公告)号:CN114755303A

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202210507446.8

    申请日:2022-05-10

    Abstract: 本发明涉及一种塑封集成电路批量超声波扫描检查装置及方法,塑封集成电路批量超声波扫描检查装置包括第一托盘和第二托盘,第一托盘以及第二托盘均为平板状结构;第一托盘上开设有多个贯穿第一托盘相对两边的第一通槽,第一通槽的一端槽口设有第一进气半管;第二托盘上开设有多个贯穿第二托盘相对两边的第二通槽,第二通槽的一端槽口设有第二进气半管;第二托盘能够扣合在第一托盘上,并使第一通槽和第二通槽合围形成容纳塑封集成电路的容纳腔,第一进气半管和第二进气半管合围形成进气管。本发明能够解决塑封集成电路在超声波扫描检测项目中在水中摆放和翻面效率较低以及附着气泡难以清除的问题,可有效提高该项检验工作的工作效率和准确度。

    一种电子元器件恒定加速度埋沙试验装置及试验方法

    公开(公告)号:CN116953296A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310881125.9

    申请日:2023-07-18

    Abstract: 本发明涉及一种电子元器件恒定加速度埋沙试验装置及试验方法,电子元器件恒定加速度埋沙试验装置包括待测试元器件、金属盒和金属加固板,所述待测试元器件的外表面固定有金属加固板,所述金属盒中装有细沙并能够封闭,外表面固定有金属加固板的待测试元器件埋设在所述细沙中。本发明的电子元器件恒定加速度埋沙试验装置,通过设置金属加固板加固使待测试元器件可承受的应力极限提升且试验后样品处理方便,避免在恒定加速度试验中造成损坏或损伤。

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