基于图形化蓝宝石衬底的GaN基PIN探测器及制备方法

    公开(公告)号:CN102593233A

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN201210073695.7

    申请日:2012-03-19

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种基于图形化蓝宝石衬底的GaN基PIN结构紫外探测器件及制备方法,其结构为在图形化蓝宝石衬底上生长较厚缓冲层,包括低温缓冲层生长、重结晶、三维生长和二维生长,获得质量良好的GaN薄膜材料。再依次生长n+型GaN层、本征GaN层,p型GaN层。在p层表面淀积p欧姆接触电极,将p型薄膜层和本征层刻蚀至n+型薄膜层,刻蚀台面形状为圆形、方形或六边形,在n+型层上淀积n型欧姆接触电极,n型电极为环形或方形。生长钝化层并开孔,暴露出p、n型电极,最后在p电极与n电极上生长加厚电极。本发明方法所制备的器件,生长材料质量较高,位错、缺陷密度小,器件的暗电流小,性能稳定,反偏电压下暗电流几乎不变,量子效率却得到大幅提高。

    一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管及制备方法

    公开(公告)号:CN109148623A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201810945383.8

    申请日:2018-08-20

    Abstract: 本发明公开了一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管及制备方法,其结构为在双抛透明蓝宝石衬底上依次有缓冲层,非故意掺杂Al0.45Ga0.55N层,n型Al0.45Ga0.55N层,倍增区非故意掺杂AlN层,p型Al0.45Ga0.55N层,吸收区弱p型Al0.45Ga0.55N层,吸收区p型Al0.45Ga0.55N层,p型GaN帽层;在p型GaN帽层与n型Al0.45Ga0.55N层上分别有p型与n型欧姆接触电极;一钝化层,覆盖在刻蚀到n型Al0.45Ga0.55N层的台面上,对刻蚀台面进行保护。该器件最大的优点是利用弱p型Al0.45Ga0.55N层作为吸收区,AlN作为倍增区,这能够有效降低AlGaN基雪崩二极管的过剩噪声,提高器件的信噪比,而且有助于提高器件的紫外抑制比。

    一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管及制备方法

    公开(公告)号:CN109148623B

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN201810945383.8

    申请日:2018-08-20

    Abstract: 本发明公开了一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管及制备方法,其结构为在双抛透明蓝宝石衬底上依次有缓冲层,非故意掺杂Al0.45Ga0.55N层,n型Al0.45Ga0.55N层,倍增区非故意掺杂AlN层,p型Al0.45Ga0.55N层,吸收区弱p型Al0.45Ga0.55N层,吸收区p型Al0.45Ga0.55N层,p型GaN帽层;在p型GaN帽层与n型Al0.45Ga0.55N层上分别有p型与n型欧姆接触电极;一钝化层,覆盖在刻蚀到n型Al0.45Ga0.55N层的台面上,对刻蚀台面进行保护。该器件最大的优点是利用弱p型Al0.45Ga0.55N层作为吸收区,AlN作为倍增区,这能够有效降低AlGaN基雪崩二极管的过剩噪声,提高器件的信噪比,而且有助于提高器件的紫外抑制比。

    基于图形化蓝宝石衬底的GaN基PIN探测器

    公开(公告)号:CN202534671U

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN201220104052.X

    申请日:2012-03-19

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于图形化蓝宝石衬底的GaN基PIN探测器,其结构为在图形化蓝宝石衬底上生长较厚缓冲层,包括低温缓冲层生长、重结晶、三维生长和二维生长,获得质量良好的GaN薄膜材料。再依次生长n+型GaN层、本征GaN层,p型GaN层。在p层表面淀积p欧姆接触电极,将p型薄膜层和本征层刻蚀至n+型薄膜层,刻蚀台面形状为圆形、方形或六边形,在n+型层上淀积n型欧姆接触电极,n型电极为环形或方形。生长钝化层并开孔,暴露出p、n型电极,最后在p电极与n电极上生长加厚电极。本专利方法所制备的器件,生长材料质量较高,位错、缺陷密度小,器件的暗电流小,性能稳定,反偏电压下暗电流几乎不变,量子效率却得到大幅提高。

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