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公开(公告)号:CN115291028B
公开(公告)日:2023-11-07
申请号:CN202211219959.5
申请日:2022-10-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置,获取基准元器件的第一试验温度、第一试验寿命、第一工作寿命和第一试验寿命,确定试验加速倍数;根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数,确定待预测元器件的第二试验温度;根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件,确定工况差异加速倍数,进而确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。通过获取影响电子元器件寿命的参数对于寿命影响因子的影响权重,并增加占空比计算工况差异加速倍数,进而对电子元器件工作寿命进行预测,缩短试验时长,降低试验成本,提高不同工况的预测精准度。
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公开(公告)号:CN113901675A
公开(公告)日:2022-01-07
申请号:CN202111495488.6
申请日:2021-12-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质。包括:确定标准电子元器件的特性参数和第一工况条件;获取预设温度下的标准电子元器件的第一试验寿命;确定标准电子元器件的加速倍数;获取待预测电子元器件的第二工况条件,根据标准电子元器件的加速倍数、第二工况条件、待预测电子元器件的特性参数,确定使待预测电子元器件的加速倍数与标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度;根据第一工况条件和第二工况条件,确定工况差异倍数;根据第一试验寿命和工况差异倍数,确定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验寿命。从而能够预测其他工况的电子元器件的寿命,缩短了试验时间,节省了试验成本。
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公开(公告)号:CN115291028A
公开(公告)日:2022-11-04
申请号:CN202211219959.5
申请日:2022-10-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置,获取基准元器件的第一试验温度、第一试验寿命、第一工作寿命和第一试验寿命,确定试验加速倍数;根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数,确定待预测元器件的第二试验温度;根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件,确定工况差异加速倍数,进而确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。通过获取影响电子元器件寿命的参数对于寿命影响因子的影响权重,并增加占空比计算工况差异加速倍数,进而对电子元器件工作寿命进行预测,缩短试验时长,降低试验成本,提高不同工况的预测精准度。
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公开(公告)号:CN113901675B
公开(公告)日:2022-04-19
申请号:CN202111495488.6
申请日:2021-12-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质。包括:确定标准电子元器件的特性参数和第一工况条件;获取预设温度下的标准电子元器件的第一试验寿命;确定标准电子元器件的加速倍数;获取待预测电子元器件的第二工况条件,根据标准电子元器件的加速倍数、第二工况条件、待预测电子元器件的特性参数,确定使待预测电子元器件的加速倍数与标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度;根据第一工况条件和第二工况条件,确定工况差异倍数;根据第一试验寿命和工况差异倍数,确定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验寿命。从而能够预测其他工况的电子元器件的寿命,缩短了试验时间,节省了试验成本。
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