一种移动式壳体位姿调整及驱动装置

    公开(公告)号:CN108170170B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN201810034708.7

    申请日:2018-01-15

    Abstract: 本发明公开了一种移动式壳体位姿调整及驱动装置,所述装置包括车体组件、转台组件、导轨组件、主动滚轮组件、从动滚轮组件及控制器。车体组件装有定向轮和万向轮,转台组件位于车体组件中间,通过转台电机座与车架固定连接。导轨组件位于转台组件上方,导轨副对称安装于回转台中部。主动滚轮组件位于导轨组件上方,主动轮组座安装于导轨副滑块上方。从动滚轮组件位于导轨组件上方,其中的支座安装于导轨副滑块上方。控制器安装于车架内。本发明将直线、回转运动机构及摩擦轮机构结合,实现壳体类工件的多维位姿调整和驱动,通过电机驱动,降低人工劳动强度,提高调整和驱动定位的准确性。本发明操作简单,运动模式清晰,适用各类壳体类工件的检测场合。

    一种采用射线双壁透照技术检测工件缺陷位置的方法

    公开(公告)号:CN111122621A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911224452.7

    申请日:2019-12-04

    Abstract: 本发明提供了一种采用射线双壁透照技术检测工件缺陷位置的方法,该方案包括有以下步骤:对工件进行双壁透照,通过旋转工件多次透照成像,将三维工件投影在二维探测器平面上;根据探测器平面上的投影建立射线成像系统坐标;构建工件上三维坐标点到探测器像素坐标的映射关系;根据映射关系反求缺陷位置的三维坐标。该方案能够准确区分缺陷位于工件的前后位置,精准高效,检测人员也无需反复透照,提高了射线检测对缺陷进行位置确定的工作效率。

    一种材料内部多缺陷的激光超声三维定位定量检测方法

    公开(公告)号:CN110779990B

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN201910958350.1

    申请日:2019-10-10

    Abstract: 本发明公开了一种材料内部多缺陷的激光超声三维定位定量检测方法,在二维扫描条件下,利用激发的斜透射超声体波、底面入射超声横波和底面反射横波从三个传播方向路径的交叉点对内部缺陷进行定位检测;利用斜透射超声体波幅值衰减或波前时延定量检测内部缺陷。经缺陷衰减和透射作用后的斜透射超声体波和底面反射横波的幅值远大于缺陷的反射波或衍射波幅值,克服了检测亚毫米微缺陷时超声信号弱、信噪比低的问题;斜透射超声体波、底面入射超声横波和底面反射横波分别从三个方向与缺陷相互作用,依据衰减位置的三个超声波交叉点可以准确定位内部缺陷,且能够实现对多缺陷的准确定量检测;适用于对检测材料内部亚毫米级多缺陷定位和定量检测。

    一种材料内部多缺陷的激光超声三维定位定量检测方法

    公开(公告)号:CN110779990A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201910958350.1

    申请日:2019-10-10

    Abstract: 本发明公开了一种材料内部多缺陷的激光超声三维定位定量检测方法,在二维扫描条件下,利用激发的斜透射超声体波、底面入射超声横波和底面反射横波从三个传播方向路径的交叉点对内部缺陷进行定位检测;利用斜透射超声体波幅值衰减或波前时延定量检测内部缺陷。经缺陷衰减和透射作用后的斜透射超声体波和底面反射横波的幅值远大于缺陷的反射波或衍射波幅值,克服了检测亚毫米微缺陷时超声信号弱、信噪比低的问题;斜透射超声体波、底面入射超声横波和底面反射横波分别从三个方向与缺陷相互作用,依据衰减位置的三个超声波交叉点可以准确定位内部缺陷,且能够实现对多缺陷的准确定量检测;适用于对检测材料内部亚毫米级多缺陷定位和定量检测。

    一种圆弧导轨的X射线在位检测装置

    公开(公告)号:CN106645221A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201610969810.7

    申请日:2016-11-07

    CPC classification number: G01N23/04

    Abstract: 本发明公开了一种圆弧导轨的X射线在位检测装置,可应用在小直径导管挤压点焊接头的在位检测中,所述的X射线在位检测装置包括X射线发射器、支撑架、圆弧导轨、滑块、锁紧机构、DR成像板、底板。本发明中采用一种圆弧导轨替代轴系,并采用支撑架两端分别固定X射线发射器和DR成像板,一方面简化结构、优化机构空间,使得X射线在位检测装置整体尺寸大大减小,另一方面实现检测装置中X射线发射器和DR成像板围绕被检测焊封同步旋转,实现了挤压焊封焊接盲管的两个方向的X射线检测,减少了人工调节,提高了检测效率。

    一种多功能X射线检测调姿装置

    公开(公告)号:CN110632101B

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN201911045375.9

    申请日:2019-10-30

    Inventor: 李梦阳 王增勇

    Abstract: 本发明公开了一种多功能X射线检测调姿装置,该装置包括主支承组件以及安装于主支承组件上的姿态调整模块;所述主支承组件用于实现姿态调整模块的高度和水平位置调节,所述姿态调整模块上安装有被测工件,用于实现被测工件的姿态或工位调节。本发明通过模块化设计,实现多种X射线检测的姿态调整需求。

    一种采用射线双壁透照技术检测工件缺陷位置的方法

    公开(公告)号:CN111122621B

    公开(公告)日:2022-07-05

    申请号:CN201911224452.7

    申请日:2019-12-04

    Abstract: 本发明提供了一种采用射线双壁透照技术检测工件缺陷位置的方法,该方案包括有以下步骤:对工件进行双壁透照,通过旋转工件多次透照成像,将三维工件投影在二维探测器平面上;根据探测器平面上的投影建立射线成像系统坐标;构建工件上三维坐标点到探测器像素坐标的映射关系;根据映射关系反求缺陷位置的三维坐标。该方案能够准确区分缺陷位于工件的前后位置,精准高效,检测人员也无需反复透照,提高了射线检测对缺陷进行位置确定的工作效率。

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