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公开(公告)号:CN117928449A
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN202410120060.0
申请日:2024-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机器臂的接触式五维位姿自动测量装置,包括六轴机器臂、控制机构、测量机构及处理系统,所述六轴机器臂的自由端能够移动至三维空间的任意一个坐标;所述控制机构与所述六轴机器臂连接,用于控制所述六轴机器臂;所述测量机构设于所述六轴机器臂的自由端,所述测量机构设有至少两根测杆,所述测杆的端部设有测头,所述测头用于对被测物体进行接触式测量;所述处理系统与所述测量机构连接,用于记录所述测杆与被测物体接触点的全部坐标,以形成坐标组,并对所述坐标组进行处理,以模拟被测物体的位姿。其面向自动化装配,能够解决现有的非接触式测量装置测量鲁棒性差导致无法准确测量相对位姿的问题。
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公开(公告)号:CN117773898A
公开(公告)日:2024-03-29
申请号:CN202410170155.3
申请日:2024-02-06
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种大范围尺寸轴孔精密对接装配装置,包括工作台、抓放对接系统、六维力传感器、接触式测量系统及处理系统,工作台用于放置预对接孔零件;抓放对接系统用于抓取预对接孔零件并放置于工作台,并用于抓取并粗调预对接轴零件,并将预对接轴零件与预对接孔零件对接;六维力传感器用于精调预对接轴零件;接触式测量系统用于测量预对接轴零件和预对接孔零件表面的点坐标;处理系统用于记录接触式测量系统测量得到的全部点坐标,并对坐标组进行处理,以分别模拟预对接轴零件和预对接孔零件的位姿;处理系统与抓放对接系统连接,用于通过抓放对接系统调整预对接轴零件的位姿。其能够解决大部件轴、孔精密对接难度较大的问题。
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公开(公告)号:CN119105399A
公开(公告)日:2024-12-10
申请号:CN202411438945.1
申请日:2024-10-15
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G05B19/05
Abstract: 本发明公开了基于状态空间的PLC软件工艺全参化架构方法及系统,涉及工业控制技术领域,其技术方案要点是:将产品生产工艺流程分解后形成设备动作流程;将设备动作流程数字化后形成设备状态空间;根据设备状态空间驱动底层软件动作模块,以控制设备底层电气硬件完成相应的设备动作。本发明通过在每个工艺动作前均系统性考虑设备所有状态,强制工艺过程在正确的状态完成正确的动作,大幅降低调试与使用过程中安全风险,增强了使用过程的抗干扰性能,解决过程控制系统过程安全性问题。
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