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公开(公告)号:CN105158791B
公开(公告)日:2019-02-01
申请号:CN201510365453.9
申请日:2015-06-29
Applicant: 上海大学
IPC: G01T3/06
Abstract: 本发明公开了一种基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法,首先制备ZnO薄膜光导型紫外探测器,并在其上采用射频磁控溅射法制备表面均匀,结晶质量和闪烁性能良好的B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜,从而为实现一种B、Ga共掺ZnO闪烁体薄膜/ZnO薄膜光导紫外探测器结构的中子探测器提供了方法。本发明中子探测器采用B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜作为中子转化层将中子转化成α粒子,α粒子进一步激发B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜产生紫外线,再利用ZnO薄膜光导型紫外探测器探测紫外线,从而实现中子探测。
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公开(公告)号:CN105161565A
公开(公告)日:2015-12-16
申请号:CN201510365436.5
申请日:2015-06-29
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/109 , H01L31/0224 , H01L31/028 , H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521 , H01L31/109 , H01L31/022408 , H01L31/028
Abstract: 本发明公开了一种含有石墨烯过渡层的CdZnTe光电探测器及其制备方法,基于近空间升华方法,通过对沉积的CdZnTe膜进行溴甲醇腐蚀后,采用旋涂工艺在CdZnTe和Au电极之间制备石墨烯过渡层,从而获得CdZnTe光电探测器。本发明CdZnTe光电探测器中增加石墨烯过渡层是一种新型光电探测器结构,有效地避免CdZnTe表面受环境影响,去除CdZnTe表面的杂质和缺陷,提高CdZnTe结晶质量,明显改善CdZnTe与Au电极之间的界面接触,获得更好的欧姆接触,从而降低器件的暗电流,提高器件灵敏度和光电响应。本发明方法具有工艺简单,成本更低,可重复性高,扩大了CdZnTe在光电探测器中的应用范围。
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公开(公告)号:CN105158791A
公开(公告)日:2015-12-16
申请号:CN201510365453.9
申请日:2015-06-29
Applicant: 上海大学
IPC: G01T3/06
Abstract: 本发明公开了一种基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法,首先制备ZnO薄膜光导型紫外探测器,并在其上采用射频磁控溅射法制备表面均匀,结晶质量和闪烁性能良好的B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜,从而为实现一种B、Ga共掺ZnO闪烁体薄膜/ZnO薄膜光导紫外探测器结构的中子探测器提供了方法。本发明中子探测器采用B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜作为中子转化层将中子转化成α粒子,α粒子进一步激发B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜产生紫外线,再利用ZnO薄膜光导型紫外探测器探测紫外线,从而实现中子探测。
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