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公开(公告)号：CN116482141A
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202310239272.6
申请日：2023-03-13
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供了一种基于高斯混合模型的中子衍射实验应变场重建方法及系统，包括：步骤S1：建立考虑衍射体积的衍射几何关系；步骤S2：利用衍射图像，得到衍射几何对应的概率采样模型；步骤S3：在采样模型下，利用高斯混合模型分离出不同晶面取向对应的衍射图像；步骤S4：求解材料中各晶面对应的衍射角、取向法向和体积分数；步骤S5：求解衍射体积中各点对应的应变均值，重建单次衍射测量对应的应变场信息。本发明提出了基于高斯混合模型的中子衍射实验应变场重建方法，可以方便、高效、精确地建立中子衍射图像与应变场的关系；本发明不需要对原始实验数据进行降维压缩，不需要忽略衍射体积，织构强度等信息来研究应变场。
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公开(公告)号：CN116380954A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310296644.9
申请日：2023-03-23
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/2055 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供了一种单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统，涉及衍射数据处理技术领域，包括：对单晶材料的二维面探测器衍射数据进行分析，实现二维数据至一维数据的多向压缩，从而量化单晶材料中各亚晶粒的各向异性分布情况。该方法通过系统整合各类衍射二维数据压缩方法，获得样品中各亚晶粒的一维整体衍射曲线、摇摆曲线与亚晶粒衍射曲线，融合函数拟合分析方法，实现对各亚晶粒衍射峰的分离、晶面取向与间距的定量表征。本发明能够更准确、全面地对单晶二维衍射数据进行定量分析，进而研究单晶材料内部亚晶粒的晶面间距与取向。
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公开(公告)号：CN112213339B
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202011064748.X
申请日：2020-09-30
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样，以及所述晶体所对应的标准图案；校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准，配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别，以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数，最小化所述目标函数以至收敛，得到校正后的图案中心和欧拉角。本发明实现简单，鲁棒性高，计算速度快，处理单张实验衍射花样耗时在秒级，精度比现有软件高3‑5倍，且可方便的应用于多种衍射实验领域。
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公开(公告)号：CN112797923A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202110005840.7
申请日：2021-01-05
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样，以及所述晶体所对应的标准图案；校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准，配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别，以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数，最小化所述目标函数以至收敛，得到校正后的图案中心和欧拉角。图案中心可根据几何关系做降噪处理，例如平面拟合、均匀格点拟合，随后进行第二次配准以进一步提高校正精度。本发明实现简单，处理单张实验衍射花样耗时在秒级，精度比现有软件高3‑5倍以上，在处理高分辨率图片时角分辨率可达0.005°，且可方便的应用于多种衍射实验领域。
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公开(公告)号：CN111474192A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010214320.2
申请日：2020-03-24
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明提供了一种追踪特定取向二阶应力分布的中子衍射测量方法及系统，包括：步骤1：根据样品晶体结构特点确定拟追踪晶粒取向及其待测{hkl}晶面组；步骤2：通过织构标定或理论计算，确定各待测{hkl}晶面空间衍射几何位置；步骤3：利用中子衍射测量待测{hkl}晶面；步骤4：计算所追踪晶粒取向的三维应力张量并输出结果；步骤5：若进行原位实验，则改变原位环境后，返回步骤3，继续执行，获得所追踪晶粒取向的原位三维应力张量并输出结果。本发明通过利用中子衍射技术对特定晶粒取向的追踪，解决了多晶材料内部不同晶粒取向二阶应力张量测量的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106367698B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201610788562.6
申请日：2016-08-31
Applicant: 上海交通大学
IPC: C22F1/04
Abstract: 本发明涉及制备超细等轴晶粒铝合金的正交叠片挤压设备及应用，适用于所有可变形铝合金，本发明通过对传统的挤压工艺进行改进，设计了一套可实现多道次正交叠片挤压的模具设备，每道次挤压变形方向与上一道次挤压方向垂直。通过将变形铝合金在此多道次正交叠片挤压模具中进行挤压变形，可以对铝合金组织施加大量累积剪切应变，进而得到超细的等轴晶粒。并随着挤压道次的增加，累积变形量增大，细化效果也愈加明显。本发明方法及设备，操作简单，装备简易，成本低廉，且可以对大尺寸样品进行加工。
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公开(公告)号：CN106367698A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610788562.6
申请日：2016-08-31
Applicant: 上海交通大学
IPC: C22F1/04
Abstract: 本发明涉及制备超细等轴晶粒铝合金的正交叠片挤压设备及应用，适用于所有可变形铝合金，本发明通过对传统的挤压工艺进行改进，设计了一套可实现多道次正交叠片挤压的模具设备，每道次挤压变形方向与上一道次挤压方向垂直。通过将变形铝合金在此多道次正交叠片挤压模具中进行挤压变形，可以对铝合金组织施加大量累积剪切应变，进而得到超细的等轴晶粒。并随着挤压道次的增加，累积变形量增大，细化效果也愈加明显。本发明方法及设备，操作简单，装备简易，成本低廉，且可以对大尺寸样品进行加工。
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公开(公告)号：CN117148418A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311111482.3
申请日：2023-08-30
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种用于中子小角散射谱仪的分束中子导管确定方法及系统，包括如下步骤：第一模拟步骤：在弯导管不同的弧长和曲率半径下，分别模拟分束导管出口处的中子注量率情况和束流发散度；弯导管第一参数确定步骤：根据模拟的中子注量率情况和束流发散度，从不同的弧长和曲率半径中选择确定弯导管的弧长和曲率半径。本发明确定了分束导管长度、曲率半径，在空间限制、谱仪安装、中子束质量等边界条件下找到最优解，实现了中子小角散射谱仪前端中子束和样品处中子通量、能谱及束流发散度的优化。
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公开(公告)号：CN116380955A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310296747.5
申请日：2023-03-23
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/207 , G01L1/25
Abstract: 本发明提供了一种中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统，包括：步骤1：获取各相的晶体结构类型和中子衍射检测织构所需极图数目及晶面；步骤2：进行中子衍射检测，得到材料织构信息；步骤3：获取待测织构分量及待测晶面，计算待测织构分量的待测晶面在对应晶面极图中的具体位置；步骤4：获取检测织构的晶面极图、极图扫描范围及扫描步长；步骤5：进行中子衍射数据采集；步骤6：计算材料不同织构分量的三维内应力场；步骤7：将得到的中子衍射数据投影至晶面极图，并利用晶体结构的对称性及数学过程将其补全为完整的晶面极图。本发明程度降低了织构‑应力同步检测的工作量，提高了织构‑应力同步检测效率。
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公开(公告)号：CN116071329A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202310100322.2
申请日：2023-02-06
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种可视化掠入射衍射数据处理方法、系统、介质及设备，包括：步骤1：基于掠入射衍射实验测得多组衍射图像，获取实验衍射数据；步骤2：建立掠入射衍射实验几何模型；步骤3：计算图像上各点的衍射位向信息；步骤4：设置偏振因子和吸收因子，得到衍射强度及位向信息数据集；步骤5：将具有相同取向特征的衍射点强度进行合并，并进行归一化处理；步骤6：将数据集沿晶面间距积分，得到衍射强度随晶面间距的整体变化趋势；步骤7：根据归一衍射强度逐一对极坐标区间赋值，并根据设定色阶转换为极图，实现可视化分析。本发明解决了现有掠入射衍射图像数据处理方法无法融合多组实验数据，损失衍射面各向异性信息等问题。
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