公开(公告)号：CN116380953A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310293971.9

申请日：2023-03-23

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 钟圣怡 ,  盛普聪 ,  王柏桦 ,  林皓

IPC: G01N23/2055 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供了一种双相单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统，应用于双相单晶材料的中子/X射线衍射二维面探测器数据分析，通过逐像素提取探测器中各点衍射强度与位向信息，并利用沿η方向积分获取的一维摇摆曲线，分离得到各亚晶粒对应的二维衍射数据，最后利用二维双高斯函数对二维衍射数据进行拟合，定量分析亚晶粒中两相的晶面间距与取向信息。本发明解决了分别由亚晶粒以及两相结构所引起的二维衍射信号重叠而导致的难以分峰的问题。

公开(公告)号：CN116380954A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310296644.9

申请日：2023-03-23

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 钟圣怡 ,  盛普聪 ,  王柏桦 ,  林皓

IPC: G01N23/2055 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供了一种单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统，涉及衍射数据处理技术领域，包括：对单晶材料的二维面探测器衍射数据进行分析，实现二维数据至一维数据的多向压缩，从而量化单晶材料中各亚晶粒的各向异性分布情况。该方法通过系统整合各类衍射二维数据压缩方法，获得样品中各亚晶粒的一维整体衍射曲线、摇摆曲线与亚晶粒衍射曲线，融合函数拟合分析方法，实现对各亚晶粒衍射峰的分离、晶面取向与间距的定量表征。本发明能够更准确、全面地对单晶二维衍射数据进行定量分析，进而研究单晶材料内部亚晶粒的晶面间距与取向。

公开(公告)号：CN116380955A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310296747.5

申请日：2023-03-23

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 钟圣怡 ,  王柏桦 ,  林皓 ,  翟昊宇 ,  盛普聪

IPC: G01N23/207 ,  G01L1/25

Abstract: 本发明提供了一种中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统，包括：步骤1：获取各相的晶体结构类型和中子衍射检测织构所需极图数目及晶面；步骤2：进行中子衍射检测，得到材料织构信息；步骤3：获取待测织构分量及待测晶面，计算待测织构分量的待测晶面在对应晶面极图中的具体位置；步骤4：获取检测织构的晶面极图、极图扫描范围及扫描步长；步骤5：进行中子衍射数据采集；步骤6：计算材料不同织构分量的三维内应力场；步骤7：将得到的中子衍射数据投影至晶面极图，并利用晶体结构的对称性及数学过程将其补全为完整的晶面极图。本发明程度降低了织构‑应力同步检测的工作量，提高了织构‑应力同步检测效率。