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公开(公告)号:CN114310159A
公开(公告)日:2022-04-12
申请号:CN202111476773.3
申请日:2021-12-02
Applicant: 上海交通大学 , 上海交通大学安徽(淮北)陶铝新材料研究院
Abstract: 本发明涉及调控原位自生颗粒增强铝基复合材料轧制织构的方法。采用原位熔体自生工艺制备得到含不同颗粒体积分数的铝基复合材料,利用冷轧和搅拌摩擦加工实现颗粒的弥散分布以及得到含有不同颗粒间距的原位自生颗粒铝基复合材料,通过调控复合材料内的不同颗粒间距,可以调节冷轧过程中位错的交滑移和动态回复,从而实现调控原位自生颗粒增强铝基复合材料轧制织构的目的。
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公开(公告)号:CN114310159B
公开(公告)日:2023-06-16
申请号:CN202111476773.3
申请日:2021-12-02
Applicant: 上海交通大学 , 上海交通大学安徽(淮北)陶铝新材料研究院
Abstract: 本发明涉及调控原位自生颗粒增强铝基复合材料轧制织构的方法。采用原位熔体自生工艺制备得到含不同颗粒体积分数的铝基复合材料,利用冷轧和搅拌摩擦加工实现颗粒的弥散分布以及得到含有不同颗粒间距的原位自生颗粒铝基复合材料,通过调控复合材料内的不同颗粒间距,可以调节冷轧过程中位错的交滑移和动态回复,从而实现调控原位自生颗粒增强铝基复合材料轧制织构的目的。
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公开(公告)号:CN114293114A
公开(公告)日:2022-04-08
申请号:CN202111473295.0
申请日:2021-12-02
Applicant: 上海交通大学 , 上海交通大学安徽(淮北)陶铝新材料研究院
Abstract: 本发明涉及一种细化原位自生颗粒增强铝基复合材料晶粒组织的方法,将原位自生合成的颗粒增强铝基复合材料进行高温均匀化处理;将均匀化后的原位自生颗粒增强铝基复合材料进行温轧变形;将温轧变形后的原位自生颗粒铝基复合材料进行多道次冷轧变形;将冷轧变形后的原位自生颗粒铝基复合材料进行再结晶热处理,即完成工艺。本发明采用温轧和冷轧两步变形工艺,有利于促进复合材料内颗粒的均匀分散,制备出较小的铝基体变形晶粒;再结晶热处理引发由颗粒促进的再结晶行为,进一步细化并得到等轴状态的铝基体晶粒。
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公开(公告)号:CN112797923B
公开(公告)日:2022-12-30
申请号:CN202110005840.7
申请日:2021-01-05
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/26 , G01N23/203 , G01N23/2055 , G06T7/33 , G06T7/60 , G06T7/66 , G06T7/73
Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。图案中心可根据几何关系做降噪处理,例如平面拟合、均匀格点拟合,随后进行第二次配准以进一步提高校正精度。本发明实现简单,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍以上,在处理高分辨率图片时角分辨率可达0.005°,且可方便的应用于多种衍射实验领域。
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公开(公告)号:CN112213339A
公开(公告)日:2021-01-12
申请号:CN202011064748.X
申请日:2020-09-30
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。本发明实现简单,鲁棒性高,计算速度快,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍,且可方便的应用于多种衍射实验领域。
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公开(公告)号:CN112213339B
公开(公告)日:2021-12-10
申请号:CN202011064748.X
申请日:2020-09-30
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。本发明实现简单,鲁棒性高,计算速度快,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍,且可方便的应用于多种衍射实验领域。
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公开(公告)号:CN112797923A
公开(公告)日:2021-05-14
申请号:CN202110005840.7
申请日:2021-01-05
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。图案中心可根据几何关系做降噪处理,例如平面拟合、均匀格点拟合,随后进行第二次配准以进一步提高校正精度。本发明实现简单,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍以上,在处理高分辨率图片时角分辨率可达0.005°,且可方便的应用于多种衍射实验领域。
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公开(公告)号:CN116930226A
公开(公告)日:2023-10-24
申请号:CN202210343742.9
申请日:2022-04-02
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01N23/203 , G01N23/2055 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种测量单晶晶向的方法、系统及介质,涉及晶体学凝聚态物理和粒子衍射技术领域,包括:步骤S1:扫描单晶样品,录得一部分衍射图案,依据布拉格衍射条件计算标准衍射图案,配准两类衍射图案以得到各个实验衍射图案对应的晶向角、图案中心坐标值;步骤S2:根据几何关系对图案中心坐标值做拟合计算,得到样品表面相对于衍射探测器的位置;步骤S3:应用拟合所得的样品表面的位置来计算单晶样品的实际晶向角。本发明能够纠正实验操作误差、精确测量单晶晶向。
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