校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN112797923B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202110005840.7

    申请日:2021-01-05

    Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。图案中心可根据几何关系做降噪处理,例如平面拟合、均匀格点拟合,随后进行第二次配准以进一步提高校正精度。本发明实现简单,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍以上,在处理高分辨率图片时角分辨率可达0.005°,且可方便的应用于多种衍射实验领域。

    校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN112213339A

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN202011064748.X

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。本发明实现简单,鲁棒性高,计算速度快,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍,且可方便的应用于多种衍射实验领域。

    校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN112213339B

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202011064748.X

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。本发明实现简单,鲁棒性高,计算速度快,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍,且可方便的应用于多种衍射实验领域。

    校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN112797923A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN202110005840.7

    申请日:2021-01-05

    Abstract: 本发明提供了一种校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质。所需数据包括粒子衍射得到的晶体的实验衍射花样,以及所述晶体所对应的标准图案;校正方法是将所述标准图案与所述实验衍射花样配准,配准过程中通过目标函数来表征所述标准图案与所述实验衍射花样的差别,以欧拉角和图案中心的坐标为所寻求的参数,最小化所述目标函数以至收敛,得到校正后的图案中心和欧拉角。图案中心可根据几何关系做降噪处理,例如平面拟合、均匀格点拟合,随后进行第二次配准以进一步提高校正精度。本发明实现简单,处理单张实验衍射花样耗时在秒级,精度比现有软件高3‑5倍以上,在处理高分辨率图片时角分辨率可达0.005°,且可方便的应用于多种衍射实验领域。

    测量单晶晶向的方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN116930226A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202210343742.9

    申请日:2022-04-02

    Abstract: 本发明提供一种测量单晶晶向的方法、系统及介质,涉及晶体学凝聚态物理和粒子衍射技术领域,包括:步骤S1:扫描单晶样品,录得一部分衍射图案,依据布拉格衍射条件计算标准衍射图案,配准两类衍射图案以得到各个实验衍射图案对应的晶向角、图案中心坐标值;步骤S2:根据几何关系对图案中心坐标值做拟合计算,得到样品表面相对于衍射探测器的位置;步骤S3:应用拟合所得的样品表面的位置来计算单晶样品的实际晶向角。本发明能够纠正实验操作误差、精确测量单晶晶向。

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