抗蚀剂组合物以及用于除去抗蚀剂的有机溶剂

    公开(公告)号:CN1777842A

    公开(公告)日:2006-05-24

    申请号:CN200480010756.9

    申请日:2004-04-23

    CPC classification number: G03F7/0226 G03F7/0048

    Abstract: 本发明提供了一种包含苯甲醇或其衍生物作为有机溶剂的抗蚀剂组合物。本发明还提供了一种用于除去抗蚀剂的有机溶剂,其中该有机溶剂包含苯甲醇或其衍生物。利用由UV射线辐射的辐射部分和非辐射部分之间的溶解度差异,本发明的抗蚀剂组合物被应用于形成微图案的平版印刷工艺中在涂布薄膜的时候极大地改进薄膜厚度的均匀度。此外,通过从装置上除去光敏材料,根据本发明的有机溶剂可以用来清洗在微电路形成过程中与光敏材料接触的装置。其还可以除去残留在光敏材料所涂布的基底的不希望部分上的光敏材料。

    抗蚀剂组合物以及用于除去抗蚀剂的有机溶剂

    公开(公告)号:CN100541338C

    公开(公告)日:2009-09-16

    申请号:CN200480010756.9

    申请日:2004-04-23

    CPC classification number: G03F7/0226 G03F7/0048

    Abstract: 本发明提供了一种包含苯甲醇或其衍生物作为有机溶剂的抗蚀剂组合物。本发明还提供了一种用于除去抗蚀剂的有机溶剂,其中该有机溶剂包含苯甲醇或其衍生物。利用由UV射线辐射的辐射部分和非辐射部分之间的溶解度差异,本发明的抗蚀剂组合物被应用于形成微图案的平版印刷工艺中在涂布薄膜的时候极大地改进薄膜厚度的均匀度。此外,通过从装置上除去光敏材料,根据本发明的有机溶剂可以用来清洗在微电路形成过程中与光敏材料接触的装置。其还可以除去残留在光敏材料所涂布的基底的不希望部分上的光敏材料。

    一种用于正性或负性光刻胶的清洗剂组合物

    公开(公告)号:CN1261826C

    公开(公告)日:2006-06-28

    申请号:CN03802089.0

    申请日:2003-01-09

    Abstract: 本发明涉及一种用于清洗光刻胶的组合物并提供一种清洗组合物,其中,含颜料的负性光刻胶在经清洗、温和烘干、曝光和显影之后,在所述清洗区域与未清洗区域之间的边界面上不存在所述光刻胶残余物。本发明提供一种用于清洗正性或负性光刻胶的组合物,包括:(a)0.1-20wt%的分子量为50-2000的烷基醚聚合物;和(b)80-99.9wt%的一种有机溶剂,包括(b-1)1-20重量份的二丙二醇甲基醚(DPGME)、10-50重量份的N-甲基吡咯烷酮(NMP)和50-90重量份的甲基异丁基酮(MIBK),或(b-2)10-90重量份的二甲基甲酰胺(DMF)或二甲基乙酰胺(DMAc)和10-50重量份的正丁基乙酸酯。

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