公开(公告)号：CN104182268A

公开(公告)日：2014-12-03

申请号：CN201410213272.X

申请日：2014-05-20

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李珍宁 ,  韩昌虎

IPC: G06F9/455

CPC classification number: G06F17/5036 ,  G06F17/5009 ,  G06F2217/10

Abstract: 公开了一种仿真系统及其方法和包括所述仿真系统的计算机系统。在所述仿真系统和方法中，仿真包括：当输入的标称点(NP)的函数值是第一值时，对输入运行第一仿真；当输入的NP的函数值是不同于第一值的第二值时，对输入运行第二仿真。这里，运行第二仿真的步骤可包括：(a)将第二值的输入分布的边界设置为第一分布值；(b)在设置的输入分布的边界内产生输入采样；(c)在移动输入分布的边界的同时重复地执行步骤(a)至(b)来获得输入的最坏情况点(WCP)，直到输入分布的边界达到最小临界值。

公开(公告)号：CN116894417A

公开(公告)日：2023-10-17

申请号：CN202310348186.9

申请日：2023-04-03

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金柱延 ,  金载勋 ,  许铣益 ,  西门浚 ,  徐贤承 ,  林喆 ,  韩昌虎

IPC: G06F30/392 ,  G06F30/398

Abstract: 提供了单元库和计算系统。所述单元库存储在计算机可读存储介质中。所述单元库被配置为存储：根据标准单元中包括的晶体管的阈值电压的所述标准单元的第一延迟信息；以及根据所述标准单元中包括的所述晶体管的迁移率的所述标准单元的第二延迟信息。

公开(公告)号：CN115706023A

公开(公告)日：2023-02-17

申请号：CN202210792199.0

申请日：2022-07-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 韩昌虎 ,  任美贞 ,  金允哲 ,  吴光焄

IPC: H01L21/66

Abstract: 一种集成电路包括垂直堆叠在衬底上的第一金属层至第n金属层以及根据所述第一金属层至所述第n金属层中的每一者的特性来输出测试结果信号的测试电路。所述测试电路包括用于生成多个时钟信号的第一测试电路至第n测试电路。所述多个时钟信号中的每个时钟信号具有根据所述第一金属层至所述第n金属层当中的对应的金属层的特性的频率，并且n是自然数。

公开(公告)号：CN104022049B

公开(公告)日：2018-05-25

申请号：CN201410037347.3

申请日：2014-01-26

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 韩昌虎 ,  金大煜 ,  李珍宁 ,  崔诚元 ,  金炳勋 ,  朴瀚钦 ,  崔相镇 ,  具滋钦

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G06F17/18 ,  G03F7/70633 ,  H01L22/00 ,  H01L22/20 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种处理方法，包括：基于初始数据处理晶片；测量多个区域的每一个的误差；将多个区域中的至少一些区域的误差相似度计算为一些区域的每一对之间的分隔距离的函数；选择第一区域和与第一区域相邻的多个第二区域；基于每一对第二区域之间的误差相似度和第一区域与每个第二区域之间的误差相似度来计算第二区域的权重值；基于第二区域的测量误差和第二区域的权重值来计算第一区域的估计误差；以及基于多个区域的每一个的估计误差来产生估计数据。

公开(公告)号：CN104182268B

公开(公告)日：2019-01-18

申请号：CN201410213272.X

申请日：2014-05-20

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李珍宁 ,  韩昌虎

IPC: G06F9/455

Abstract: 公开了一种仿真系统及其方法和包括所述仿真系统的计算系统。在所述仿真系统和方法中，仿真包括：当输入的标称点(NP)的函数值是第一值时，对输入运行第一仿真；当输入的NP的函数值是不同于第一值的第二值时，对输入运行第二仿真。这里，运行第二仿真的步骤可包括：(a)将第二值的输入分布的边界设置为第一分布值；(b)在设置的输入分布的边界内产生输入采样；(c)在移动输入分布的边界的同时重复地执行步骤(a)至(b)来获得输入的最坏情况点(WCP)，直到输入分布的边界达到最小临界值。

公开(公告)号：CN104022049A

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：CN201410037347.3

申请日：2014-01-26

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 韩昌虎 ,  金大煜 ,  李珍宁 ,  崔诚元 ,  金炳勋 ,  朴瀚钦 ,  崔相镇 ,  具滋钦

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G06F17/18 ,  G03F7/70633 ,  H01L22/00 ,  H01L22/20 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种处理方法，包括：基于初始数据处理晶片；测量多个区域的每一个的误差；将多个区域中的至少一些区域的误差相似度计算为一些区域的每一对之间的分隔距离的函数；选择第一区域和与第一区域相邻的多个第二区域；基于每一对第二区域之间的误差相似度和第一区域与每个第二区域之间的误差相似度来计算第二区域的权重值；基于第二区域的测量误差和第二区域的权重值来计算第一区域的估计误差；以及基于多个区域的每一个的估计误差来产生估计数据。