具有氧化物单晶薄膜的复合晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN108885972B

    公开(公告)日:2023-05-19

    申请号:CN201780021577.2

    申请日:2017-04-04

    Inventor: 秋山昌次

    Abstract: 本发明涉及一种复合晶片,其包括转移至支承晶片整个表面的钽酸锂或铌酸锂氧化物单晶薄膜,且在支承晶片与氧化物单晶薄膜之间的接合界面上不发生开裂或剥落。一种复合晶片的制造方法,其至少包括:在氧化单晶片中形成离子注入层的步骤,对所述氧化物单晶片的所述离子注入表面和支承晶片表面中的至少一者进行表面活化处理的步骤,将所述氧化物单晶片的所述离子注入表面接合至所述支承晶片表面形成层合体的步骤,在90℃以上且不致使开裂发生的温度下对所述层合体进行第一热处理的步骤,对所述离子注入层施加机械冲击的步骤,以及在250℃~600℃的温度下对带有转移的所述氧化物单晶薄膜的所述支承晶片进行第二热处理以获得复合晶片的步骤。

    复合基板的制造方法及复合基板
    76.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115485972A

    公开(公告)日:2022-12-16

    申请号:CN202180031770.0

    申请日:2021-04-06

    Inventor: 秋山昌次

    Abstract: 本发明提供一种能够在抑制裂纹产生的同时提高温度特性的复合基板及这种复合基板的制造方法。本发明的复合基板的制造方法具备:准备具有粗糙面的压电材料的基板的步骤;通过化学方法对压电材料的基板的粗糙面进行蚀刻而除去损伤层的步骤;在除去了损伤层的压电材料的基板的粗糙面沉积夹层的步骤;使沉积的夹层的表面平坦化的步骤;将压电材料的基板经由沉积的夹层与热膨胀系数比压电材料小的支承基板贴合的步骤;以及使贴合后的压电材料的基板薄化的步骤。作为压电材料,优选钽酸锂(LT)或铌酸锂(LN)。

    复合基板及其制造方法
    77.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115315780A

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202180022998.3

    申请日:2021-04-01

    Abstract: 本发明提供一种复合基板以及制造该复合基板的方法,所述复合基板即使暴露于高温或低温下也不会出现裂纹,从而不会出现性能劣化。本发明的复合基板(10)具有按列出顺序层叠的支承基板(2)、应力松弛间层(3)和氧化物单晶薄膜(1)。应力松弛间层(3)具有介于支承基板(2)的热膨胀系数与氧化物单晶薄膜(1)的热膨胀系数之间的热膨胀系数。

    具备氧化物单晶薄膜的复合晶片及其制造方法

    公开(公告)号:CN107636802B

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN201680033205.7

    申请日:2016-06-01

    Abstract: 本发明提供一种复合晶片及制造方法,复合晶片在支持晶片和氧化物单晶薄膜的贴合界面不易产生破裂或剥落,且在支持晶片上的整个面转印有作为钽酸锂或铌酸锂的氧化物单晶的薄膜。所述方法,其至少包括:在氧化物单晶晶片的内部形成离子注入层的工序;对氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面中的至少一者实施表面活化处理的工序;将氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面贴合而获得接合体的工序;在接合体的至少一个表面具备具有比氧化物单晶晶片小的热膨胀系数的保护晶片的工序;以及以80℃以上的温度对具备保护晶片的接合体进行热处理的工序,且沿着离子注入层剥离而获得被转印于支持晶片上的氧化物单晶薄膜的工序。

    SiC复合基板的制造方法
    79.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108138358B

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN201680052879.1

    申请日:2016-09-09

    Abstract: 本发明提供SiC复合基板的制造方法,是在多晶SiC基板11上具有单晶SiC层12的SiC复合基板10的制造方法,其特征在于,在由Si构成的保持基板21的单面设置单晶SiC层12而制作了单晶SiC层负载体14后,在该单晶SiC层12上采用化学气相沉积法沉积多晶SiC而制作在保持基板21'上将单晶SiC层12和厚度t的多晶SiC基板11层叠的SiC层叠体15时,进行将单晶SiC层负载体14加热至低于1414℃而只沉积厚度t的一部分的多晶SiC,接着升温到1414℃以上而边将保持基板21的至少一部分熔融边进一步沉积多晶SiC直至成为厚度t后进行冷却,然后将保持基板21'以物理和/或化学方式除去。根据本发明,用简便的制造工艺得到在具有结晶性良好的单晶SiC层的同时翘曲小的SiC复合基板。

    用于表面声波器件的复合基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN112152587A

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN202010561198.6

    申请日:2020-06-18

    Abstract: 提供了具有改善的特性的用于表面声波器件的复合基板。根据本发明的用于表面声波器件的复合基板被配置为包括压电单晶基板和支撑基板。在压电单晶基板与支撑基板之间设置中间层,该中间层中的化学吸附水的量为1×1020个分子/cm3以下。在压电单晶基板和支撑基板之间的结合界面处,压电单晶基板和支撑基板中的至少一者可以具有不平坦结构。优选的是,当用作表面声波器件时,不平坦结构的截面曲线中的元件的平均长度RSm与表面声波的波长λ的比率为0.2以上且7.0以下。

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