公开(公告)号：CN103995013A

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：CN201410054347.4

申请日：2014-02-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 松下一之 ,  作村拓人 ,  中江保一

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01T1/2914 ,  G01N23/087 ,  G01T7/005

Abstract: 本发明提供一种在检测多波长X射线时能够去除残留在低能量侧的数据中的高能量侧的X射线的残留图像的X射线数据处理装置、X射线数据处理方法以及X射线数据处理程序。对同时测定多波长的X射线而得到的X射线数据进行处理的X射线数据处理装置具备：管理部（210），接收由具有多个邻接的检测部分的检测器检测出的、通过能量阈值分离的X射线数据，并进行管理；计算部（230），基于接收的X射线数据中的通过高能量侧的阈值获得的高能量侧数据以及通过低能量侧的阈值获得的低能量侧数据，计算出低能量侧数据中的来自于高能量侧数据的检测量；修正部（250），使用计算出的检测量，对低能量侧数据进行再构成。

公开(公告)号：CN101151524B

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN200580049351.0

申请日：2005-12-08

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河原直树 ,  原真也

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/305

Abstract: 一种荧光X射线分析装置等，其通过FP法对试样的组分、面积密度进行分析，针对各种试样，可按照简便、并且将几何效果充分符合现实而添加的方式计算理论强度，足够正确地进行定量分析。包括计算机构(10)，该计算机构(10)根据假定的组分，计算从试样(13)的各元素产生的二次X射线(6)的理论强度，按照该理论强度与通过上述检测机构(9)测定的测定强度换算为理论强度值的换算测定强度一致的方式，逐次近似地修正计算假定的组分，计算试样(13)的组分，上述计算机构(10)每当计算理论强度时，将试样(13)的大小与照射到试样表面(13a)的各位置的一次X射线(2)的强度和入射角φ作为参数，针对各光路模拟计算二次X射线(6)的理论强度。

公开(公告)号：CN102959387A

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：CN201180031886.0

申请日：2011-04-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 喜多广明 ,  小林宽

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/3306 ,  G01N2223/6116

Abstract: 本发明涉及的荧光X射线分析装置包括：试样台(8)，载置具有结晶构造的试样(S)；X射线源(1)，对试样(S)照射一次X射线(2)；检测机构(7)，检测从试样(S)产生的二次X射线(4)；旋转机构(11)，使试样台(8)旋转；平行移动机构(12)，使试样台(8)平行移动；选择机构(17)，基于与试样(S)的旋转角度和在其角度所产生的二次X射线(4)的强度相对应而取得的衍射图案，来选择至少3个相邻间隔不到180°，且可回避衍射X射线的回避角度；以及控制机构(15)，其控制旋转机构(11)以将试样(S)设定在回避角度，该回避角度为试样台(8)、旋转机构(11)以及平行移动机构(12)不会干涉该装置的其他构造物的角度。

公开(公告)号：CN102933982A

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：CN201180027755.5

申请日：2011-10-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC classification number: G01T1/17

Abstract: 本发明涉及一种X射线检测信号处理装置以及方法。本发明的X射线检测信号处理装置将前置放大器发出的信号通过高速AD转换器(1)进行高速AD转换后，在数字信号处理部(2)中通过数字化基准进行处理，该处理用于去除前置放大器中由于微分时间常数而衰减的成分所造成的影响。数字信号处理部(2)内的事件检测部(3)通过使用高速整形用滤波函数并经过规定的整形时间将高速AD转换器(1)发出的信号平滑化，将该平滑化后的信号在超过规定的阈值而为最大值的时刻作为事件信息而检测出来，与此同时，将该事件信息附加于高速AD转换器(1)发出的信号。

公开(公告)号：CN102187208A

公开(公告)日：2011-09-14

申请号：CN201080002934.9

申请日：2010-07-01

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 渡边健二 ,  片冈由行 ,  山田康治郎 ,  森川敦史

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/203

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/637

Abstract: 本发明涉及一种荧光X射线分析方法，其中：对以碳、氧和氮中的至少一个元素和以氢为主成分的液体试样(3A)照射一次X射线(2)，测定：由液体试样(3A)中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线(4)的强度、以及在液体试样(3A)中散射的一次X射线的连续X射线的散射线(12)的强度，根据由各元素产生的荧光X射线(4)的测定强度和一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度的比，计算液体试样(3A)的元素的浓度，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由各元素产生的荧光X射线(4)的波长，并且在液体试样(3A)的组成的变化范围内，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度和质量吸收系数成反比。

公开(公告)号：CN101520423B

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN200910132665.7

申请日：2004-03-11

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河野久征 ,  庄司孝 ,  堂井真

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G21K1/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。

公开(公告)号：CN100578205C

公开(公告)日：2010-01-06

申请号：CN200480023453.0

申请日：2004-03-31

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 住居弘咨 ,  青柳光一

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题在于提供于一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置对处于惰性气体气氛中的试样进行分析，分光室不由惰性气体置换即可，同时不与试样室连通，并且可获得足够的强度的2次X射线，另外，隔壁的寿命延长。该装置包括接纳有试样(4)的试样室(1)；照射室(2)，该照射室(2)接纳有对试样(4)照射1次X射线(6)的X射线源(7)，该照射室(2)与上述试样室(1)连通；分光室(3)，该分光室(3)接纳有对从试样(4)产生的2次X射线(8)分光而对其检测的检测机构(9)；隔壁(10)，该隔壁(10)按照将上述照射室(2)和分光室(3)分隔的方式设置，使上述2次X射线(8)通过；以惰性气体对上述试样室(1)和照射室(2)进行置换，并且对上述分光室(3)进行真空排气。

公开(公告)号：CN119881636A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202411486100.X

申请日：2024-10-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 畑山雄二 ,  伊庭义博 ,  上田智康

IPC: G01R31/34 ,  G01N23/207 ,  G01N23/20016 ,  G01N23/20025

Abstract: 提供一种能够保证以固定速度驱动、能够维持各测定的可追溯性的监视模块和监视系统。一种监视X射线衍射装置所使用的步进电机的动作的监视模块，具备：检测部(164)，其检测步进电机的特定的旋转位置，并产生检测信号；计测部(165)，其计测检测信号的时间间隔；判定部(166)，其判定相当于检测信号的时间间隔的计测值是否与相当于基于向步进电机的动作指示而决定的特定的旋转位置间的旋转时间的基准值一致；以及信息传递部(167)，其在计测值与基准值不一致的情况下，向外部传递动作异常信息。

公开(公告)号：CN119671906A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202411306874.X

申请日：2024-09-19

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 太田卓见

IPC: G06T5/80

Abstract: 提供一种校正装置、校正方法以及校正程序，通过用自动推定出的校正量校正分布图的移位，不费事，能够降低人为性，能够提高校正的再现性。一种校正X射线粉末衍射的分布图的校正装置(400)，具备设定基准分布图的基准分布图设定部(420)、设定推定与试样高度有关的校正量的推定方法的推定方法设定部(430)、基于推定方法推定校正量的校正量推定部(440)以及基于校正量校正被检分布图的校正部(460)，校正量是使校正后的被检分布图与基准分布图的一致度最大的值。

公开(公告)号：CN119534505A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411185168.4

申请日：2024-08-27

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 柴崎寿英 ,  太田卓见 ,  姬田章宏

IPC: G01N23/2055 ,  G06T7/00 ,  G06N3/08

Abstract: 根据本发明的一个方案，提供一种生成X射线衍射分布图的信息处理系统。该信息处理系统具有数据组取得部、子类设定部、结晶相选择部以及分布图生成部。数据组取得部取得包含多个结晶相信息的数据组。子类设定部将数据组所包含的结晶相信息设定为第1子类和第2子类中的任意一个子类。第1子类的数量为1以上，第2子类的数量为0以上，第1子类与第2子类的总计数量为2以上。结晶相选择部从第1子类、或者第1子类和第2子类这两者选择结晶相信息并设为选择数据。在第1子类的数量存在多个的情况下，在选择数据中按每个第1子类包含至少1个结晶相信息。分布图生成部基于选择数据生成X射线衍射分布图。