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公开(公告)号：CN107421971B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201710373083.2
申请日：2017-05-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。
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公开(公告)号：CN107402223A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201710349100.9
申请日：2017-05-17
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 姬田章宏
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明提供一种能够使用户容易理解所选择的X射线光学系统的测定的X射线分析的操作指导系统、操作指导方法以及操作指导程序。所述X射线分析的操作指导系统具有：测定信息取得单元，其取得试样的信息和多个X射线测定光学系统部件各自的信息；试样放大倍率取得单元，其取得放大试样进行显示的放大倍率；入射X射线形状变形单元，其确定在与光轴方向垂直的平面上按照放大倍率放大入射X射线的形状的入射X射线的变形形状；散射X射线形状变形单元，其确定在与光轴方向垂直的平面上按照放大倍率放大散射X射线的形状的散射X射线的变形形状；以及X射线测定光学系统建模单元，其对按照放大倍率放大试样的形状的试样的变形形状、入射X射线的变形形状以及散射X射线的变形形状进行建模。
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公开(公告)号：CN107402223B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201710349100.9
申请日：2017-05-17
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 姬田章宏
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明提供一种能够使用户容易理解所选择的X射线光学系统的测定的X射线分析的操作指导系统、操作指导方法以及操作指导程序。所述X射线分析的操作指导系统具有：测定信息取得单元，其取得试样的信息和多个X射线测定光学系统部件各自的信息；试样放大倍率取得单元，其取得放大试样进行显示的放大倍率；入射X射线形状变形单元，其确定在与光轴方向垂直的平面上按照放大倍率放大入射X射线的形状的入射X射线的变形形状；散射X射线形状变形单元，其确定在与光轴方向垂直的平面上按照放大倍率放大散射X射线的形状的散射X射线的变形形状；以及X射线测定光学系统建模单元，其对按照放大倍率放大试样的形状的试样的变形形状、入射X射线的变形形状以及散射X射线的变形形状进行建模。
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公开(公告)号：CN109425626A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810996814.3
申请日：2018-08-29
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G01N23/207 , G01N2223/0566 , G01N2223/1016 , G01N2223/401 , G01N2223/605 , G01N2223/62
Abstract: 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个上取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个上取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线按照2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据按照2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；将二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
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公开(公告)号：CN119534505A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411185168.4
申请日：2024-08-27
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2055 , G06T7/00 , G06N3/08
Abstract: 根据本发明的一个方案，提供一种生成X射线衍射分布图的信息处理系统。该信息处理系统具有数据组取得部、子类设定部、结晶相选择部以及分布图生成部。数据组取得部取得包含多个结晶相信息的数据组。子类设定部将数据组所包含的结晶相信息设定为第1子类和第2子类中的任意一个子类。第1子类的数量为1以上，第2子类的数量为0以上，第1子类与第2子类的总计数量为2以上。结晶相选择部从第1子类、或者第1子类和第2子类这两者选择结晶相信息并设为选择数据。在第1子类的数量存在多个的情况下，在选择数据中按每个第1子类包含至少1个结晶相信息。分布图生成部基于选择数据生成X射线衍射分布图。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109425626B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN201810996814.3
申请日：2018-08-29
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
Abstract: 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线在各2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据在各2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
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公开(公告)号：CN107421971A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710373083.2
申请日：2017-05-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。
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公开(公告)号：CN116304787A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211563398.0
申请日：2022-12-07
Applicant: 株式会社理学
IPC: G06F18/24 , G06N3/044 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G01N23/207 , G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 根据本发明的一个方面，提供一种信息处理装置。所述信息处理装置包括控制部。控制部通过将与来自薄膜的X射线的强度相关的简档结果输入至神经网络，从而输出与薄膜相关的参数结果。神经网络是机器学习了教师数据的神经网络，所述教师数据将来自薄膜的X射线的强度相关的简档数据作为输入数据，并将与薄膜相关的参数数据作为输出数据。
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公开(公告)号：CN109073574A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201680082737.X
申请日：2016-12-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种能够让用户容易地理解所选择的X射线光学系的测量的X射线分析的操作导向系统、操作导向方法、以及操作导向程序。具备：定性分析结果取得单元，其取得试样中所含有的多个结晶相的信息；重量比计算单元，其基于多个结晶相中的、进行了对洛伦兹偏振因子的补正后的衍射强度之和、化学式量、化学式单位中所包含的原子各自所属的电子的个数的平方和，来对所述多个结晶相的重量比进行计算。
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公开(公告)号：CN117890402A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202311325922.5
申请日：2023-10-13
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 提供一种基于已知信息对X射线粉末衍射的测定分布图进行非负矩阵因子分解的处理装置、处理系统、处理方法以及记录介质。对X射线粉末衍射的测定分布图进行非负矩阵因子分解的处理装置(400)具备：测定分布图取得部(410)，其取得1个或多个所述测定分布图；已知信息取得部(420)，其取得已知信息，所述已知信息包含与所述测定分布图中包含的本底或规定的物质对应的规定的分布图的形状、或者所述规定的分布图的系数矩阵的限制；以及分解部(430)，其基于所述已知信息对所述测定分布图进行非负矩阵因子分解。
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