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公开(公告)号：CN109891589B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN201780066527.6
申请日：2017-07-05
Applicant: 株式会社理学
IPC: H01L27/146 , G01T7/00 , H01L27/144 , H04N5/30 , H04N23/30 , H04N25/30
Abstract: 本发明提供一种检测器，能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器，具备：检测部，通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测；以及多个读出芯片(120)，包含与每个像素(115)连接的计数电路(121)，沿着检测面上的固定方向，计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小，像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠，在重叠的区域内进行连接。
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公开(公告)号：CN106290433B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201610459652.0
申请日：2016-06-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01T1/24
Abstract: 本发明涉及X射线数据处理装置及其方法以及程序。提供一种不使用比较器等就能补正由像素阵列型的X射线检测器检测出的且受到电荷共享的影响的X射线强度的X射线数据处理装置。X射线数据处理装置根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其具备：管理部(210)，其接收并管理每个检测部分的检测值；有效面积率算出部(230)，其使用与检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为检测部分的有效面积率；和补正部(250)，其以算出的有效面积率来补正被管理的计数值，从而推定真值。
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公开(公告)号：CN115023629A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202080094667.6
申请日：2020-12-22
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供一种能够以高效的结构进行多个能量范围的计数的同时测定的控制装置、系统、方法以及程序。控制装置(200)对X射线检测器(100)进行控制，输出测定结果，具备：设定部(220)，按X射线检测器(100)的每个单位区域，设定所检测的X射线的能量范围；数据管理部(250)，作为X射线测定的结果，取得按每个单位区域设定的能量范围的计数值来作为测定数据；以及输出部(270)，输出测定数据。由此，能够进行多个能量范围的计数的同时测定。
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公开(公告)号：CN106796298A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201580045810.1
申请日：2015-07-10
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T1/17
Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。
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公开(公告)号：CN106290433A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610459652.0
申请日：2016-06-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01T1/24
Abstract: 本发明涉及X射线数据处理装置及其方法以及程序。提供一种不使用比较器等就能补正由像素阵列型的X射线检测器检测出的且受到电荷共享的影响的X射线强度的X射线数据处理装置。X射线数据处理装置根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其具备：管理部(210)，其接收并管理每个检测部分的检测值；有效面积率算出部源以及检测能量的阈值相关的数据来算出检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为检测部分的有效面积率；和补正部(250)，其以算出的有效面积率来补正被管理的计数值，从而推定真值。(230)，其使用与检测部分相关的数据、和与射线
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109668918B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN201811193575.4
申请日：2018-10-12
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明提供处理装置、方法以及记录介质。处理装置具备：算出部(220)，其基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；和第1功能生成部(230)，其基于扩充率来生成将在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。如此，通过使得能基于进行一致的X射线照射时的强度分布进行外周补正，能补正外周的强度分布的失真。其结果能扩大X射线强度数据的检测区域。
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公开(公告)号：CN109668918A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811193575.4
申请日：2018-10-12
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G06T5/001 , G01T1/17 , G06T3/40 , G06T7/13 , G06T2207/10116 , G01N23/207 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/401 , G01N2223/501
Abstract: 本发明提供处理装置、方法以及记录介质。处理装置具备：算出部(220)，其基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；和第1功能生成部(230)，其基于扩充率来生成将在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。如此，通过使得能基于进行一致的X射线照射时的强度分布进行外周补正，能补正外周的强度分布的失真。其结果能扩大X射线强度数据的检测区域。
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公开(公告)号：CN103995013B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201410054347.4
申请日：2014-02-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G01T1/2914 , G01N23/087 , G01T7/005
Abstract: 本发明提供一种在检测多波长X射线时能够去除残留在低能量侧的数据中的高能量侧的X射线的残留图像的X射线数据处理装置以及X射线数据处理方法。对同时测定多波长的X射线而得到的X射线数据进行处理的X射线数据处理装置具备：管理部(210)，接收由具有多个邻接的检测部分的检测器检测出的、通过能量阈值分离的X射线数据，并进行管理；计算部(230)，基于接收的X射线数据中的通过高能量侧的阈值获得的高能量侧数据以及通过低能量侧的阈值获得的低能量侧数据，计算出低能量侧数据中的来自于高能量侧X射线的检测量；修正部(250)，使用计算出的检测量，对低能量侧数据进行再构成。
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公开(公告)号：CN106796298B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201580045810.1
申请日：2015-07-10
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T1/17
Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。
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公开(公告)号：CN109891589A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780066527.6
申请日：2017-07-05
Applicant: 株式会社理学
IPC: H01L27/146 , G01T7/00 , H01L27/144 , H04N5/32
Abstract: 本发明提供一种检测器，能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器，具备：检测部，通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测；以及多个读出芯片(120)，包含与每个像素(115)连接的计数电路(121)，沿着检测面上的固定方向，计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小，像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠，在重叠的区域内进行连接。
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