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公开(公告)号：CN106290433B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201610459652.0
申请日：2016-06-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01T1/24
Abstract: 本发明涉及X射线数据处理装置及其方法以及程序。提供一种不使用比较器等就能补正由像素阵列型的X射线检测器检测出的且受到电荷共享的影响的X射线强度的X射线数据处理装置。X射线数据处理装置根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其具备：管理部(210)，其接收并管理每个检测部分的检测值；有效面积率算出部(230)，其使用与检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为检测部分的有效面积率；和补正部(250)，其以算出的有效面积率来补正被管理的计数值，从而推定真值。
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公开(公告)号：CN106290428B
公开(公告)日：2020-01-07
申请号：CN201610391502.0
申请日：2016-06-06
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207 , G01N23/223
Abstract: 本发明提供一种能够消除分配后的计数值的统计偏差与其他位置不同地被估算的影响，并能够防止校正的影响残留的X射线数据处理装置、其方法以及程序。X射线数据处理装置(200)对由像素阵列型检测器检测到的X射线强度的计数值进行校正，具备：存储部(220)，其对虚拟像素的形状以及位置与实际像素的形状以及位置的对应关系进行存储；和分配部(260)，其使用对所存储的对应关系给予了随机性的对应关系，将实际像素的计数值分配给虚拟像素，将分配给虚拟像素的计数值作为校正结果来输出。
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公开(公告)号：CN112711058B
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202011128545.2
申请日：2020-10-20
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供处理装置、系统、X射线测定方法以及记录介质，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。具备：存储部(220)，其通过光子计数型的半导体检测器对入射X射线的脉冲信号进行计数，并存储读出的输出值；和算出部(230)，其基于读出输出值来算出计数值，算出部(230)使用相对于针对曝光的脉冲检测率的增加而脉冲信号的表观的时间常数单调减少的模型。在这样的模型中，不管多高的计数率都能得到对应的表观的时间常数。其结果，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。
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公开(公告)号：CN109891589B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN201780066527.6
申请日：2017-07-05
Applicant: 株式会社理学
IPC: H01L27/146 , G01T7/00 , H01L27/144 , H04N5/30 , H04N23/30 , H04N25/30
Abstract: 本发明提供一种检测器，能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器，具备：检测部，通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测；以及多个读出芯片(120)，包含与每个像素(115)连接的计数电路(121)，沿着检测面上的固定方向，计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小，像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠，在重叠的区域内进行连接。
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公开(公告)号：CN104656120B
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201410675937.9
申请日：2014-11-21
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T7/00
CPC classification number: G01N23/207 , G01N2223/303
Abstract: 本发明提供一种校正信息生成方法以及校正信息生成装置，能没有特殊的附属设备地容易进行平场校正的作业。在用于对像素检测器进行X射线检测灵敏度的平场校正的校正信息生成方法中，包括：使检测器(130)的相对位置相对于横穿检测面的射束剖面形状的入射X射线发生移动，以使得在总时间内检测面的整体被入射X射线照射且在移动方向上排列的各像素被均等地照射的步骤；和根据针对入射X射线的给定能带检测出强度值来生成用于校正像素的灵敏度的信息的步骤。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104656120A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201410675937.9
申请日：2014-11-21
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T7/00
CPC classification number: G01N23/207 , G01N2223/303
Abstract: 本发明提供一种校正信息生成方法以及校正信息生成装置，能没有特殊的附属设备地容易进行平场校正的作业。在用于对像素检测器进行X射线检测灵敏度的平场校正的校正信息生成方法中，包括：使检测器(130)的相对位置相对于横穿检测面的射束剖面形状的入射X射线发生移动，以使得在总时间内检测面的整体被入射X射线照射且在移动方向上排列的各像素被均等地照射的步骤；和根据针对入射X射线的给定能带检测出强度值来生成用于校正像素的灵敏度的信息的步骤。
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公开(公告)号：CN118534518A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410191225.3
申请日：2024-02-21
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器、放射线测定装置以及放射线检测器的设定方法，能够抑制在计数器切换时由多个计数器对单个脉冲重复进行检测的双重计数，取得高准确度的数据。一种能够通过连续曝光检测放射线的放射线检测器(100)，具备：传感器(110)，其在检测出放射线的粒子时产生脉冲；多个计数器(140a、140b)，其设置成能对脉冲进行计数；设定保持电路(150)，其保持将多个计数器(140a、140b)都设为关断的关断时间的设定；以及控制电路(160)，其相对于触发信号，在设定的关断时间后切换对脉冲进行计数的计数器。
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公开(公告)号：CN115023629A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202080094667.6
申请日：2020-12-22
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供一种能够以高效的结构进行多个能量范围的计数的同时测定的控制装置、系统、方法以及程序。控制装置(200)对X射线检测器(100)进行控制，输出测定结果，具备：设定部(220)，按X射线检测器(100)的每个单位区域，设定所检测的X射线的能量范围；数据管理部(250)，作为X射线测定的结果，取得按每个单位区域设定的能量范围的计数值来作为测定数据；以及输出部(270)，输出测定数据。由此，能够进行多个能量范围的计数的同时测定。
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公开(公告)号：CN106796298A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201580045810.1
申请日：2015-07-10
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T1/17
Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。
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公开(公告)号：CN106290433A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610459652.0
申请日：2016-06-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01T1/24
Abstract: 本发明涉及X射线数据处理装置及其方法以及程序。提供一种不使用比较器等就能补正由像素阵列型的X射线检测器检测出的且受到电荷共享的影响的X射线强度的X射线数据处理装置。X射线数据处理装置根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其具备：管理部(210)，其接收并管理每个检测部分的检测值；有效面积率算出部源以及检测能量的阈值相关的数据来算出检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为检测部分的有效面积率；和补正部(250)，其以算出的有效面积率来补正被管理的计数值，从而推定真值。(230)，其使用与检测部分相关的数据、和与射线
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