公开(公告)号：CN1739023B

公开(公告)日：2012-01-04

申请号：CN200480002434.X

申请日：2004-03-11

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河野久征 ,  庄司孝 ,  堂井真

IPC: G01N23/223 ,  G21K1/06

CPC classification number: G21K1/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。

公开(公告)号：CN1932493B

公开(公告)日：2012-01-04

申请号：CN200610127560.9

申请日：2006-09-12

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  古泽卫一 ,  河野久征

IPC: G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC classification number: G01B15/02 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，其可充分正确地对镀合金化熔融锌的钢板的组分沿深度方向不均匀的镀膜的附着量和组分进行分析。该装置包括X射线源(7)，该X射线源(7)按照规定的入射角(φ)，对试样(1)照射1次X射线(6)；检测机构(9)，该检测机构(9)测定按照规定的取出角(α，β)，由试样(1)产生的荧光X射线(8)的强度，在上述入射角(φ)和取出角(α，β)的组合中，以至少1者不同的2个组合，测定荧光X射线(8)的强度，针对由荧光X射线(8)的强度为增加测定对象膜的附着量时的上限值的99％的附着量表示的测定深度，按照上述2个组合的测定深度均大于上述镀膜(3)的附着量的方式，设定各组合的入射角(φ)和取出角(α，β)。

公开(公告)号：CN101520423B

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN200910132665.7

申请日：2004-03-11

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河野久征 ,  庄司孝 ,  堂井真

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G21K1/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。

公开(公告)号：CN101520423A

公开(公告)日：2009-09-02

申请号：CN200910132665.7

申请日：2004-03-11

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河野久征 ,  庄司孝 ,  堂井真

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G21K1/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。

公开(公告)号：CN101520422A

公开(公告)日：2009-09-02

申请号：CN200910132664.2

申请日：2004-03-11

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河野久征 ,  庄司孝 ,  堂井真

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G21K1/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。

公开(公告)号：CN101416047B

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN200680054176.9

申请日：2006-11-24

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  河野久征 ,  山下升 ,  堂井真

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置，其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值，提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1)，其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件，对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器进行检测，由此，对试样(S)进行分析，该装置包括X射线管(11)，该X射线管(11)具有含铬的靶；X射线滤波器(13)，其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路，相对来自X射线管(11)的Cr-Kα射线，具有规定的透射率，采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质；比例计数管(18)，其具有含氖气或氦气的检测器气体，该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。

公开(公告)号：CN1952652B

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN200610152815.7

申请日：2006-10-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  河野久征 ,  仓冈正次 ,  庄司孝 ,  山田康治郎

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及一种荧光X射线分析装置及该装置中使用的程序。提供可以由简单的结构定量分析6价铬的荧光X射线分析装置等。一种扫描型荧光X射线分析装置，包括X射线源、发散狭缝、分光元件、受光狭缝、检测器、使分光元件与受光狭缝和检测器连动的连动机构、以及根据检测器的测定结果进行定量分析的定量分析机构。定量分析机构根据使Cr-Kα射线中强度最大的峰值分光角对应于6价铬含有率对全部铬含有率之比的变化而计算6价铬的含有率。包括分辨力不同的多个检测机构，其作为发散狭缝、分光元件、受光狭缝和检测器的组合，并且当检测出峰值分光角的变化时，选择比在求出全部铬含有率或强度时选择的检测机构分辨力更高的检测机构。