-
公开(公告)号：CN109407365A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811523904.7
申请日：2018-12-13
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G02F1/13
Abstract: 一种激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置及方法，包括泵浦激光源、连续探测激光源、分束镜、光束质量分析仪、吸收池及计算机。泵浦激光源辐照液晶光栅器件时，连续探测激光源也同时辐照在器件上，由光束质量分析仪分别记录透过液晶光栅器件前后的连续探测激光功率密度的空间分布，并对得到的功率密度在空间分布上进行积分。定义激光功率密度在空间分布上的积分值为激光总功率，透过液晶光栅器件前后的探测激光束总功率之比为衍射效率。本发明可准确测量激光作用下液晶光栅器件的衍射效率变化，为液晶光栅器件在连续激光系统下的应用提供依据。该方法最重要的是要对由光束质量分析仪获得的激光功率密度分布图进行像素强度提取，利用像素强度表征激光功率密度的大小，激光总功率由对激光功率密度在空间分布上的积分获得。
-
公开(公告)号：CN103278309B
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201310161404.4
申请日：2013-05-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种光学元件体内激光损伤自动快速探测装置，构成包括：置于移动平台上的待测光学元件；由依次的Nd:YAG激光器和第一聚焦透镜组成的脉冲激光辐射系统；由第一HeNe连续激光器、第二聚焦透镜、第二HeNe激光器和第三聚焦透镜构成的HeNe激光照明系统；由依次的同光轴的孔径光阑、散射光收集透镜组、视场光阑和光电探测器组成的损伤探测系统，所述的光电探测器的输出端与计算机的输入端相连，该计算机的输出端通过数据输出卡与所述的Nd:YAG激光器和移动平台的控制端相连。本发明适于各类光学元件体内损伤的自动快速探测和判断。
-
公开(公告)号：CN104568141A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201510031504.4
申请日：2015-01-22
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种位置可调激光探测装置，包括滑动部分、准直部分、二维移动部分和激光探测部分，滑动部分包括底座、导轨、滑块；准直部分包括底板、升降杆架、支撑杆、光阑座、可变光阑；二维移动部分包括底板、升降台、平移台；激光探测部分包括对准台、激光探测器，激光探测器可为光纤耦合器、光束质量分析仪、能量计探头。本发明该装置具有成本较低、操作简单、定位方便的优点，并且能够根据实验情况进行灵活调节，提高了工作效率。
-
公开(公告)号：CN103624402A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310566601.4
申请日：2013-11-14
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: B23K26/0853
Abstract: 一种提高光学元件小光斑扫描激光预处理效率的方法，该方法根据要求的预处理样品面积Amm×Bmm、相邻辐照光斑间的中心间距L及补偿距离L0，计算出样品每行运动的起点和终点的位置坐标；计算机控制样品按照上述位置坐标逐行匀速运动并实时获取样品运动轨迹的位置信息的同时，控制激光器在样品的匀速运动过程中以固定频率μ输出脉冲激光辐照样品对光学元件表面进行激光预处理。本发明简单易行，可确保相邻辐照光斑在样品表面正方形或等边三角形的排布轨迹，有效地提高了光学元件小光斑扫描激光预处理的工作效率。
-
公开(公告)号：CN102841055A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210302001.2
申请日：2012-08-23
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/17
Abstract: 一种光学元件体内激光损伤在线探测方法和装置，应用Nd:YAG脉冲激光辐射光学元件引起元件体内损伤，采用HeNe连续激光照亮体内测试区域，设计大景深、高分辨率的成像装置将测试区域成像在探测器上，并从侧面监测体内区域从而削弱表面散射光的影响，对比Nd:YAG激光辐射前后探测区域图像的变化判断损伤是否产生。同时为了避免因样品移动带来的光程变化，采用自动化控制技术整体移动损伤探测装置补偿光程变化，消除离焦现象，提高损伤探测的准确性。该探测方法可在线观测体内损伤的产生和发展过程，适用于各类光学元件体内损伤的在线监测，且灵敏度和可靠性较高。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101408680B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810202973.8
申请日：2008-11-19
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种用于高功率激光装置的四程放大系统远场监视装置及其准直方法，装置的构成包括：在所述的滤波小孔板后紧贴该滤波小孔板插入取样光栅；在四程放大系统的主激光束外设置发光二极管和准直透镜形成的照明光束以一定角度照明所述的取样光栅；在所述的一级衍射光方向设置成像透镜和CCD探测器，该CCD探测器的探测面位于所述的成像透镜的像平面，该CCD探测器的输出端接计算机。本发明解决了四程放大系统远场取样和准直调整的难题，具有设备简单、精度高等优点。
-
公开(公告)号：CN101408680A
公开(公告)日：2009-04-15
申请号：CN200810202973.8
申请日：2008-11-19
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种用于高功率激光装置的四程放大系统远场监视装置及其准直方法，装置的构成包括：在所述的滤波小孔板后紧贴该滤波小孔板插入取样光栅；在四程放大系统的主激光束外设置发光二极管和准直透镜形成的照明光束以一定角度照明所述的取样光栅；在所述的一级衍射光方向设置成像透镜和CCD探测器，该CCD探测器的探测面位于所述的成像透镜的像平面，该CCD探测器的输出端接计算机。本发明解决了四程放大系统远场取样和准直调整的难题，具有设备简单、精度高等优点。
-
公开(公告)号：CN118896758A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410916569.6
申请日：2024-07-09
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种评估激光光学元件安全运行通量和筛选元件的方法，该方法包括三步测试，分别达到确定激光光学元件无损伤激光通量、排除缺陷损伤影响和筛选合格样品，以及验证长期稳定性的目的，从而确保激光光学元件在高功率激光系统中的高可靠性。第一步测试通过逐步扫描测试，确定光学元件的无损伤激光通量Fun；第二步测试以无损伤激光通量Fun对光学元件进行多次全口径扫描，排除原生缺陷损伤和累积效应影响，获得合格样品；第三步测试利用多脉冲对合格的激光光学元件进行稳定性验证。与现有的激光损伤测试方法相比，该方法可有效评估高性能要求激光系统中激光光学元件的抗激光损伤能力，确定安全运行通量，筛选出高可靠性激光光学元件。
-
公开(公告)号：CN115825010B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202211525242.3
申请日：2022-11-30
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种测量光学透明块体材料折射率温度系数的方法，包括设计测量光路，实验测量过程，样品的温度场仿真以及数据处理共四个步骤，其中测量光路设计简单，由激光器输出的光束经准直垂直入射样品的入射面，然后由出射面出射，出射光垂直进入CCD相机，由CCD相机采集到整个光强分布图像，且样品需置于加热台上；实验测量过程中用计算机保存CCD相机采集的常温下的光强分布图像数据和设置温度下的光强分布图像数据；采用仿真软件进行样品在设置温度下的温度场仿真，使仿真结果与热电偶实际测量的样品各个点的温度相同。最后根据测量的光强分布图像数据和仿真的温度场数据计算出折射率温度系数即可。本发明测试装置简单易行，测出的折射率温度系数精度较高，且可以测量不同温度下的折射率温度系数。
-
公开(公告)号：CN112968341B
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202110138461.5
申请日：2021-02-01
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: H01S3/00
Abstract: 一种用于宽带超短激光及其相关应用领域的能量衰减装置，该装置由半波片、单面镀膜的第一楔板偏振片、单面镀膜的第二楔板偏振片及吸收池组成，通过所述半波片对宽带超短激光的偏振方向进行调制，通过所述第一楔板偏振片对宽带超短激光S分量反射光进行检偏，通过旋转所述半波片的角度实现对宽带超短激光脉冲能量的连续衰减调整，并利用所述第二楔板偏振片实现所述第二楔板偏振片的反射光方向与所述第一楔板偏振片入射宽带超短激光平行。上述装置可以降低宽带超短激光传输过程中的能量损耗以及激光系统中光学元件发生损伤的几率，避免宽带超短激光传输过程中产生的色散效应及脉宽展宽，便于对后续光路的准直和调节。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
77
records
(took 0.035 seconds)
