半导体装置和包括半导体装置的数据存储系统

    公开(公告)号:CN115132742A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210291326.9

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 半导体装置包括:包括外围电路的下芯片结构、下芯片结构上的第一存储器芯片结构、以及第一存储器芯片结构上的第二存储器芯片结构。第一存储器芯片结构包括第一堆叠结构和第一竖直存储器结构。第一堆叠结构包括在竖直方向上堆叠并在第一水平方向上延伸的第一栅极线。第一竖直存储器结构在竖直方向上穿透第一栅极线。第二存储器芯片结构包括第二堆叠结构和第二竖直存储器结构。第二堆叠结构包括在竖直方向上堆叠并且在垂直于第一水平方向的第二水平方向上延伸的第二栅极线。第二竖直存储器结构在竖直方向上穿透第二栅极线。

    半导体器件和半导体封装件
    42.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112242366A

    公开(公告)日:2021-01-19

    申请号:CN202010655330.X

    申请日:2020-07-09

    Abstract: 提供了一种半导体器件和半导体封装件。所述半导体体器件包括:具有至少一个半导体结构的半导体衬底;层间绝缘层,其设置在半导体衬底上;至少一个第一过孔结构,其穿透半导体衬底和层间绝缘层,并包括第一区域和第二区域,所述第一区域在层间绝缘层的上表面具有第一宽度,所述第二区域从第一区域延伸,并且在半导体衬底的下表面具有第二宽度,其中,第一区域的侧表面和第二区域的侧表面在第一区域与第二区域之间的边界具有不同的轮廓;以及至少一个第二过孔结构,其穿透半导体衬底和层间绝缘层,并且在层间绝缘层的上表面具有大于第一宽度的第三宽度。

    磁结存储装置及其读取方法
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112242158A

    公开(公告)日:2021-01-19

    申请号:CN202010636192.0

    申请日:2020-07-03

    Abstract: 提供了一种磁结存储装置。所述磁结存储装置包括读出电路,其包括读出节点,所述读出节点连接到晶体管的第一端部并且被配置为根据磁结存储器单元的电阻改变所述读出节点的电压;选通电压生成器电路,其被配置为使用参考电阻器和参考电压来生成所述晶体管的选通电压;以及读取电路,其被配置为使用所述参考电压和所述读出节点的电压来从所述磁结存储器单元读取数据。

    半导体装置及半导体封装
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111211102A

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201910859224.0

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明提供一种半导体封装以及半导体装置。一种半导体封装包括第一半导体芯片以及堆叠在第一半导体芯片上的第二半导体芯片。第一半导体芯片包括:衬底,具有第一通孔孔洞;绝缘间层,形成在衬底上且在绝缘间层的外表面中具有第一键合焊盘、以及连接到第一通孔孔洞且暴露出第一键合焊盘的第二通孔孔洞;以及插塞结构,在第一通孔孔洞及第二通孔孔洞内被形成为连接到第一键合焊盘。第二半导体芯片包括第二键合焊盘,第二键合焊盘键合到从第一半导体芯片的衬底的表面暴露出的插塞结构。

    一次可编程存储器及其数据写入方法

    公开(公告)号:CN107123443A

    公开(公告)日:2017-09-01

    申请号:CN201710067659.2

    申请日:2017-02-07

    Inventor: 金泰成 郑铉泽

    Abstract: 一种一次可编程存储器及其数据写入方法。所述一次可编程(OTP)存储器包括:OTP单元阵列,包括设置在多条字线和多条位线彼此交叉的位置处的多个OTP单元;写入电路,被配置为通过一次选择所述多条位线中的一条位线和对连接到选择的位线的选择的OTP单元进行编程来对所述多个OTP单元进行编程,其中,写入电路还被配置为检测选择的位线的电压电平,并当检测的电压电平指示选择的OTP单元处于已编程状态时选择另一位线。

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