半导体器件
    2.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN119028977A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202410048377.8

    申请日:2024-01-12

    Abstract: 提供了一种半导体器件,包括:半导体衬底;源/漏图案,在半导体衬底上沿第一方向间隔开;以及沟道图案,在半导体衬底上,其中,沟道图案中的至少一个沟道图案在源/漏图案中的相邻的源/漏图案之间,其中,沟道图案中的至少一个沟道图案包括多个半导体图案,并且多个半导体图案沿垂直于半导体衬底的上表面的第二方向彼此间隔开,其中,半导体衬底包括{110}晶面,其中,沟道图案中的至少一个沟道图案包括表面图案,其中,表面图案包括第一表面和第二表面,其中,第一表面包括突出边缘,其中,第二表面通过突出边缘分别连接到第一表面,并且其中,突出边缘沿第三方向布置。

    具有斜面部分的半导体晶片

    公开(公告)号:CN109979988B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN201811070399.5

    申请日:2018-09-13

    Abstract: 提供了一种半导体晶片。所述半导体晶片包括:晶片本体,其包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面;以及斜面部分,其沿着所述晶片本体的外周缘设置并且包括倾斜表面、最外侧点、第一表面端部部分和第二表面端部部分,所述第一表面端部部分将所述斜面部分与所述第一表面连接,所述第二表面端部部分将所述斜面部分与所述第二表面连接。所述倾斜表面的第一切线方向和所述第一表面之间的第一斜角对应于流体在所述第一表面上的毛细作用力,并且所述第一表面端部部分与所述最外侧点之间的沿着与所述第一表面基本平行的第一方向的第一斜面长度对应于第一表面平坦度。

    具有斜面部分的半导体晶片

    公开(公告)号:CN109979988A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201811070399.5

    申请日:2018-09-13

    Abstract: 提供了一种半导体晶片。所述半导体晶片包括:晶片本体,其包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面;以及斜面部分,其沿着所述晶片本体的外周缘设置并且包括倾斜表面、最外侧点、第一表面端部部分和第二表面端部部分,所述第一表面端部部分将所述斜面部分与所述第一表面连接,所述第二表面端部部分将所述斜面部分与所述第二表面连接。所述倾斜表面的第一切线方向和所述第一表面之间的第一斜角对应于流体在所述第一表面上的毛细作用力,并且所述第一表面端部部分与所述最外侧点之间的沿着与所述第一表面基本平行的第一方向的第一斜面长度对应于第一表面平坦度。

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