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公开(公告)号：CN1905521A
公开(公告)日：2007-01-31
申请号：CN200610026689.0
申请日：2006-08-30
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于智能IT技术领域，具体涉及一种播存网格的体系结构。对于“信息共享基础结构”，提出了一种以语义预先沟通的机制，由两组互相垂直平行线交叉而成的“播存网格”结构，作为继万维网(第四传媒)之后的另类传媒——第五传媒。本发明是基于播存网格概念的具体实现体系结构，分为通信模块和功能模块两部分，这两个部分别由“服务中心”和“客户端”两个子模块组成，各个子模块又由若干个子模块组成。这种结构可有效地解决在各种环境下服务器端网络拥堵的现象，实现“信息快速通道”。
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公开(公告)号：CN1142290C
公开(公告)日：2004-03-17
申请号：CN00137209.2
申请日：2000-12-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交效率的方法及其装置。现有技术的检测方法多是将探针固定在基片上，去检测标记过的样品，这样的检测需要时间的等待，而且检测信号会随标记物信号的衰减而失去准确性。本发明用椭圆偏振仪检测DNA芯片杂交效率，通过生物分子本身的光学性质，测得其椭圆偏振参数ψ、Δ，定义与探针完全匹配的样品和只有探针存在时的芯片杂交效率分别为极大值和极小值，从而获得待测样品的杂交效率。本发明装置简捷，测量快速准确。
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公开(公告)号：CN1415780A
公开(公告)日：2003-05-07
申请号：CN02137608.5
申请日：2002-10-24
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种纳米特性薄膜器件的制备方法。本方法采用高速动态光谱仪，对制备过程中的器件光谱特性随工艺的变化进行实时快速检测和分析。在1400－1600nm的红外通讯波段，实现以≤1秒时间和优于0.1nm的光谱分辨率，获得器件各膜层折射率、透射、反射、光谱带宽、线形和层厚等参数随工艺条件变化的关系，进而对影响薄膜器件特性的因素进行实时精确控制和调整。系统具有长时间工作的高可靠性和极好的纳米器件光谱数据的重复性。
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公开(公告)号：CN117740810A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202410138923.7
申请日：2024-02-01
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明提出的是一种基于激光剪切散斑干涉的缺陷检测方法，该方法包括：1)、利用相干光源被待测样品散射形成加载前散射光；2)、形成加载前剪切散斑干涉图像；3)、获取加载前剪切散斑干涉图像的相位分布图；4)、对样品台上的待测样品进行压力加载，形成加载后散射光；5)、形成加载后剪切散斑干涉图像；6)、获取加载后剪切散斑干涉图像的相位分布图；7)、得到相位差图；8)、通过相位差图、位移导数、缺陷三者之间建立的联系，得到缺陷在待测样品上的位置分布信息；一种基于激光剪切散斑干涉的缺陷无损检测系统包括激光光源单元，位移平台，光路单元，CCD相机，光学平板单元6；本发明能够对复合材料进行缺陷位置检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111693561B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202010471013.2
申请日：2020-05-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统，所述测量方法包括以下步骤：1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱；3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点；4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况，判断所述相变点是否为燃点，从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比，本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。
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公开(公告)号：CN112557304B
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202011316227.9
申请日：2020-11-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于纳米材料和光学技术领域，具体为一种基于椭偏参数轨迹拓扑特征识别薄膜材料纳米结构的方法。本发明方法包括以下步骤：利用椭圆偏振光谱仪测量薄膜材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；获得椭偏参数(ψ、Δ)的轨迹曲线；根据所述轨迹曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构由颗粒到网状的转变；求得(ψ、Δ)轨迹的切线方位角曲线；根据所述切线方位角曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构连续性的转变，从而实现对薄膜材料纳米结构的识别。本发明可用于薄膜材料生长过程中纳米结构的原位监测，对利用人工智能识别纳米结构有着重要的参考价值，具有非接触、非破坏、对环境要求不苛刻等优点。
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公开(公告)号：CN112903598A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110084277.7
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种椭偏测量系统中偏振元件方位角的差分光谱定标方法。本发明的原理是对由起偏器出射的两束偏振方向相互垂直的线偏光，经过已知介电函数谱的样品后，其反射椭偏光的椭圆方位角的进行差分光谱分析，准确地获得起偏器方位角的位置。其中通过可旋转检偏器以及光栅光谱仪，对550‑650 nm光谱范围内的200个以上的波长点，完成差分光谱数据的采集，分析确定偏振元件方位角的位置，完成定标过程。本发明通过Si和Au体材料的测试验证；克服了传统定标方法对反射材料光学常数的精确度、探测器光强灵敏度要求较高，稳定性较差等缺点，能快速准确地完成椭偏测量系统中偏振元件方位角的定标。
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公开(公告)号：CN112880832A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110082568.2
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明属于仪器定标技术领域，具体为一种椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法。本发明先将入射到样品的探测光束的s偏振方向与p偏振方向作为系统的X/Y坐标轴，取下延迟器，利用布儒斯特角法将检偏器调整到坐标系的0°方向，再利用马吕斯定律定标起偏器定标、并调整到系统坐标系的45°方向；加入延迟器，取下样品，调节起偏器方位角，使用该系统进行测量。使用RCE型椭偏系统测量这组等效样品时，坐标偏差角出现在光强分量的比值关系中，可以求出坐标偏差角；最后将修正好延迟器坐标偏差的系统，从计算等效椭偏参数的结果中得到相位延迟器的实际延迟量β。本发明操作简单且精度高，能很好地改善椭偏仪的误差修正。
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公开(公告)号：CN110320745A
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201910557029.2
申请日：2019-06-26
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于能源技术领域，具体为具有理想发射谱的柔性被动冷却薄膜及其制备方法。本发明制备方法包括：获取紫外固化树脂的光学常数；根据光学常数设计光子晶体微结构；通过微纳加工技术在光阻上制备出微结构；通过紫外纳米压印卷对卷方法将微结构制备到柔性衬底上。本发明制备的被动冷却薄膜，在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中。由于本方法制备的辐射冷却薄膜表面具有微结构，可以大大提高辐射冷却的功率，使目标物体的降温幅度增加；同时，使用紫外纳米压印技术与工业卷对卷生产相结合，使本发明制备的冷却薄膜可以制备到柔性塑料衬底上，拓宽了应用的范围。
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