分析光学元件保偏特性的方法

    公开(公告)号:CN101943630A

    公开(公告)日:2011-01-12

    申请号:CN200910088591.1

    申请日:2009-07-08

    Inventor: 吴昊 郑厚植 朱汇

    Abstract: 一种分析光学元件保偏特性的方法,包括:由第一宽波段线偏振片和第一宽波段四分之一波长波片组成极化单元,由第二宽波段四分之一波长波片和第二宽波段线偏振片组成检测单元,在同一光路上依次排列有激光器、极化单元、检测单元和光功率计;调节极化单元和调节检测单元;在极化单元和检测单元之间插入待测的光学元件;读取光功率计的读数,若待测光学元件对入射光的偏振状态有所改变,光功率计的读数将有所增加;若待测光学元件对入射光的偏振状态没有改变,则光功率计的读数不变,仍然只反映环境光的强度。

    一种基于永磁体实现磁场扫描的结构及方法

    公开(公告)号:CN101833072A

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN201010162487.5

    申请日:2010-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于永磁体实现磁场扫描的结构及方法。该结构包括一钕铁硼永磁体、一一维电动平移台及其控制器,其中钕铁硼永磁体通过自制加工件固定在一维电动平移台的台面上。本发明提供的基于永磁体实现磁场扫描的结构及方法,利用钕铁硼永磁体和一维电动平移台的组合实现了一种可以扫描磁场的实验测量结构。利用本发明,可以紧凑、全天候、无消耗地为实验提供一个可变的磁场环境。

    变温显微磁光光谱系统
    34.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100498298C

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200610011749.1

    申请日:2006-04-19

    Abstract: 一种变温显微磁光光谱系统,包括:一激光器;一致冷机控制样品的温度;一中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦提供用于磁光光谱的磁场;一激光入射光路把激光器的输出激光引入并聚焦到致冷头内的样品表面来激发样品的荧光光谱;一样品监视光路监视激光通过第一分束器和显微物镜聚焦到样品上的具体位置和聚焦情况;一信号收集光路通过多模光纤把荧光信号传输到光谱仪进行光谱测量;一光纤监视光路观察荧光信号和激光反射信号的具体位置,确保样品荧光信号有效地被多模光纤收集;一光谱仪和相应的探测器,位于多模光纤的一端,用来色散和测量样品的荧光信号。

    改变陷波滤波器工作波长和延长寿命的结构

    公开(公告)号:CN100487516C

    公开(公告)日:2009-05-13

    申请号:CN200510098382.7

    申请日:2005-09-09

    Inventor: 谭平恒 朱汇 章昊

    Abstract: 一种改变陷波滤波器工作波长和延长其使用寿命的结构及其使用方法,该结构包括底板、陷波滤波器、光学晶片组、晶片固定器和转动装置。将转动装置安放在底板上,用晶片固定器固定陷波滤波器和与之匹配的光学晶片组,并将它们安装在设计的转动装置上,通过转动装置改变陷波滤波器和光学晶片组的角度,可以在很宽范围内调节陷波滤波器的工作波长,大大延长陷波滤波器的使用寿命。本发明可应用于激光拉曼光谱及荧光光谱等技术中。

    变温显微磁光光谱系统
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101059437A

    公开(公告)日:2007-10-24

    申请号:CN200610011749.1

    申请日:2006-04-19

    Abstract: 一种变温显微磁光光谱系统,包括:一激光器;一致冷机控制样品的温度;一中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦提供用于磁光光谱的磁场;一激光入射光路把激光器的输出激光引入并聚焦到致冷头内的样品表面来激发样品的荧光光谱;一样品监视光路监视激光通过第一分束器和显微物镜聚焦到样品上的具体位置和聚焦情况;一信号收集光路通过多模光纤把荧光信号传输到光谱仪进行光谱测量;一光纤监视光路观察荧光信号和激光反射信号的具体位置,确保样品荧光信号有效地被多模光纤收集;一光谱仪和相应的探测器,位于多模光纤的一端,用来色散和测量样品的荧光信号。

Patent Agency Ranking