一种新型低触发电压的双向SCR半导体保护器件

    公开(公告)号:CN209374445U

    公开(公告)日:2019-09-10

    申请号:CN201820078931.7

    申请日:2018-01-17

    Abstract: 本实用新型提供了一种新型低触发电压的双向SCR半导体保护器件,用于防护核心电路输入/输出端、正电源端和负电源端之间的静电放电,其包括:一种衬底;形成在该衬底上方的多个P型阱区域和N型阱区域以及形成在阱区上的重掺杂区,由这些阱区和掺杂区构成了双向三极管器件和双向SCR器件,两种器件以并联方式连接在被保护的端口之间。本实用新型所形成的双向SCR器件结构简单,工艺层次少,可集成在CMOS工艺、BICMOS工艺、BCD工艺中;可通过调整关键注入区的浓度获得较低的完全对称的双向触发电压;所形成的双向半导体器件从输入端到输出端存在两条泄放大电流的路径,在相同的面积下提高了器件的抗浪涌能力。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种带有反并联二极管的双向TVS器件

    公开(公告)号:CN206742243U

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201720545992.5

    申请日:2017-05-16

    Abstract: 本实用新型公开了一种带有反并联二极管的双向TVS器件及其制备方法,包括一P型硅衬底,所述P型硅衬底正面均设有N型掺杂区域和P型掺杂区域,所述P型硅衬底正面的N型掺杂区域做金属引出,所述P型硅衬底背面的N型掺杂区域和P型掺杂区域做互连金属引出;所述P型硅衬底背面的N型掺杂区域和P型掺杂区域间距大于等于零。本实用新型的器件结构对于保护下一级OVP电路具有更加优秀的性能,由于N+浓度较低使其具有超低的电容,这大大提高了TVS器件对信号的响应速度,可以应用在保护高频数据接口电路上。该结构的超低漏电流对器件自身的耗电和散热优势明显。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种利用可控硅双门极与阳极短路结构的单向负阻TVS器件

    公开(公告)号:CN209119101U

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201821777206.5

    申请日:2018-10-31

    Abstract: 本实用新型公开了一种利用可控硅双门极与阳极短路结构的单向负阻TVS器件,包括一个P型衬底材料,P型衬底材料正面有N型掺杂区域和P型掺杂区域,P型衬底材料正面的N型掺杂区域做金属引出;P型衬底材料背面有N型掺杂区域和P型掺杂区域,N型掺杂区域中有P+区域,背面的P型掺杂区域、P型衬底材料、N型掺杂区域和P+区域做互连金属引出;所述P+区域位置全部或部分在背面N型掺杂区域中。本实用新型的器件结构正面到背面利用NPN结构进行电荷泄放,对于保护下一级OVP电路具有更加优秀的性能;背面到正面利用PPN并联P+NPN结构,获得更好地正向残压的表现,对后端OVP电路起到更好地保护效果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种带负阻特性的单向TVS器件

    公开(公告)号:CN208781853U

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201821183328.1

    申请日:2018-07-25

    Abstract: 本实用新型公开了一种带负阻特性的单向瞬态电压抑制二极管器件,包括:第一区域,是P区,由P型掺杂硅衬底构成;第二区域,是N+区,由正面N型掺杂的扩散区构成;第三区域,是P+区,由正面P型掺杂的扩散区构成;第四区域,是N+区,由背面N型掺杂的扩散区构成;其中第二区域和第三区域在第一区域的正面中,第二区域在第一区域的中间,第二区域和第三区域间距大于等于零;第四区域在第一区域的背面中,占据第一区域的整个背面。本实用新型通过背面深槽后氧化工艺,将背面容易发生短路的位置保护起来,降低了风险,能够改善表面状态,使得击穿发生在硅的体内,提高稳定性和可靠性,该结构的超低漏电流对器件自身的耗电和功耗优势明显。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种大功率单向TVS器件
    38.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208722877U

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201821258225.7

    申请日:2018-08-06

    Abstract: 本实用新型公开了一种大功率单向TVS器件,其特征在于:在硅片上进行双面版图设计,其中:硅片正面版图包括P+区、N+区、接触孔、正面阴极金属;N+区在中心区域,P+区围绕N+区呈环状结构,同时P+区与N+区之间存在间隔;接触孔只打开正面N+区,使得正面阴极金属通过接触孔只引出N+区;硅片背面版图包括P+区、N+区、背面阳极金属;硅片背面无介质层,背面阳极金属直接与硅片背面整体全部接触,即将硅片背面的P+区和N+区进行短接引出。本实用新型通过对芯片的正面和背面都进行版图设计,大幅度提升了TVS器件的浪涌电流能力,同时具有更低的钳位电压,且不需要额外增大版面。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种集成超低电容大骤回TVS的共模滤波器件

    公开(公告)号:CN208093558U

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201820078833.3

    申请日:2018-01-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种集成超低电容大骤回TVS的共模滤波器件,采用芯片集成的设计方法将超低电容且具有大骤回特性的TVS和共模电感有效结合。本实用新型的集成超低电容大骤回TVS的共模滤波器件结构可以有效的将多路TVS和共模滤波器分立方案优化为集成方案,节省50%的面积;共模电感具有较高的共模阻抗,对高速信号线差分通道的共模噪声干扰具有很强的抑制作用,同时,超低电容和大骤回特性的TVS阵列在ESD触发TVS开通时,可以输出更低的钳位电压,对后级IC起到非常好的保护作用,可广泛应用在MIPI,HDMI,MHL,USB等高频信号端口,提高系统的外延抗干扰能力和ESD静电防护水平。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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