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公开(公告)号：CN114170192B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202111502706.4
申请日：2021-12-10
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种星载光学相机焦面震颤精细检测方法，包括：S1、高精度密集匹配：确定面阵CMOS序列影像相邻帧之间的影像重叠区，然后进行逐像素匹配获得重叠区内所有像素点的同名点，生成视差图；S2、震颤相对误差分析：将多个单视差图震颤相对误差曲线用时间联合起来组成序列影像的震颤相对误差曲线，并填补空隙；进行傅里叶变换分析，得到震颤相对误差曲线的频率和振幅，得到震颤相对误差的频率、振幅和初相位；S3、震颤绝对误差建模：进行震颤绝对误差建模，再结合震颤相对误差的频率、振幅和初相位，得到震颤绝对误差的频率、振幅和初相位。本发明实现成像焦平面周期性震颤误差的精确测量，可为遥感影像震颤误差补偿提供可靠数据基础。
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公开(公告)号：CN118096990A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410517079.9
申请日：2024-04-28
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种可补偿阴影遮挡的双投影结构光三维重建方法，包括步骤：S1、对待测物体进行同步双投影，计算得到两台数字投影仪所投影的绝对相位；S2、利用预先标定好的相位与高度的映射关系得到两组待测物体的高度；S3、根据设置的阈值提取出一侧数字投影仪投影下的多个阴影区域，将阴影区域中每个像素进行重新匹配和重新赋值，根据赋值结果将多个阴影区域分为有效多个阴影区域和无效多个阴影区域；将有效阴影区域的高度替换为另一侧数字投影仪投影下待测物体相应区域的高度；S4、将有效阴影区域补偿后的该侧投影对应的待测物体的三维坐标信息进行点云融合。本发明可实现待测物体阴影部分的补偿，从而提高三维重建的精度。
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公开(公告)号：CN117168313B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311450910.5
申请日：2023-11-03
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅投影三维重建的相位误差模型校正方法，包括以下步骤：搭建光栅投影三维重建测量系统；对系统进行相位与高度的映射关系标定；制作具有周期关系的光栅图案并求得其相对相位，将相对相位做差后得到低频相位，将低频相位做差后得到单频相位，将得到的低频和单频相位投影出来，拍摄得到待重建物体的合成光栅图片并计算出光栅图片的相对相位；对相对相位进行解相位计算，得到连续绝对相位，关联不同频率的相位并建立相位误差模型，基于误差模型对相位误差进行补偿；利用标定好的相位与高度的映射关系得到待测物体的高度，得到物体的三维信息。本发明能够得到具有复杂表面的物体的准确相位信息与三维重建模型。
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公开(公告)号：CN117274578A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311569672.X
申请日：2023-11-23
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G06V10/25 , G06V10/77 , G06V10/80 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06F16/583
Abstract: 本发明公开了一种基于逻辑元变换乘积量化的细粒度图像检索方法，包括步骤：将待测图像导入卷积神经网络提取特征，输出最后一层的特征谱；再通过区域候选网络RPN将最后一层的特征谱生成Top‑N个部件，重新输入至卷积神经网络中，并将原始待测图像和Top‑N部件经过卷积神经网络后的最后三层特征进行融合级联；将融合级联后的输出特征通过线性投影生成相应的逻辑元，再通过逻辑元变换对生成的逻辑元向量重新加权；将重新加权后的逻辑元向量输入到细粒度图像检索模型，通过量化码书进行计算找到与待测图像的逻辑元向量最接近的数据库图像对应的量化码，将所对应的数据库图像作为检索结果。本发明能够通过挖掘图像中最具辨别力的区域，提高细粒度图像检索的精度。
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公开(公告)号：CN117168313A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311450910.5
申请日：2023-11-03
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅投影三维重建的相位误差模型校正方法，包括以下步骤：搭建光栅投影三维重建测量系统；对系统进行相位与高度的映射关系标定；制作具有周期关系的光栅图案并求得其相对相位，将相对相位做差后得到低频相位，将低频相位做差后得到单频相位，将得到的低频和单频相位投影出来，拍摄得到待重建物体的合成光栅图片并计算出光栅图片的相对相位；对相对相位进行解相位计算，得到连续绝对相位，关联不同频率的相位并建立相位误差模型，基于误差模型对相位误差进行补偿；利用标定好的相位与高度的映射关系得到待测物体的高度，得到物体的三维信息。本发明能够得到具有复杂表面的物体的准确相位信息与三维重建模型。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116935013A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202311186175.1
申请日：2023-09-14
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数字光栅投影系统三维重建的电路板点云大范围拼接方法及系统，其中方法包括以下步骤：使用数字光栅投影系统依次采集电路板点云数据；利用电路板点云高度和颜色信息将电路板元器件与底板分离；提取相邻两帧电路板点云元器件的特征点；为电路板元器件特征点构建带有颜色信息的直方图描述符；对相邻两帧电路板元器件特征点的直方图描述符进行匹配，并计算粗配准变换矩阵；对粗配准的电路板元器件点云进行精配准，得到精配准变换矩阵；根据粗配准变换矩阵和精配准变换矩阵依次对电路板点云进行拼接得到完整的电路板点云数据。本发明能够提高电路板点云拼接的精度和效率。
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公开(公告)号：CN116912334A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202311167828.1
申请日：2023-09-12
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅条纹投影的相位映射高精度投影仪标定方法，包括以下步骤：搭建基于光栅条纹投影的相位映射标定系统；通过相机对标定板进行采样，得到带标记点的相机图像；投影仪对标定板连续投射带编码信息的横、竖相移条纹以及互补格雷码图案，通过相机采集图像，并进行相位解算，得到标记点附近局部区域的相位信息；进行相位平面拟合得到最佳拟合相位平面，并完成相位去噪；计算去噪后的标记点附近的局部区域中各点的高斯径向基函数值，并计算该标记点附近的局部区域对应的相位插值，映射到投影仪中对其进行参数标定。本发明提高了光栅条纹投影系统中投影仪标定的精度，进而提高光栅条纹投影三维测量的精度。
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公开(公告)号：CN116734771A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202311028988.8
申请日：2023-08-16
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01B11/25 , G01N21/956
Abstract: 本发明公开了一种基于主动式Gamma校正的电路板元器件几何检测方法，包括：确定相机的响应取值范围；确定第一预编码值和第二预编码值；在相机的响应取值范围内生成四步相移光栅图，并利用第一和第二预编码值分别对其进行预编码调制，得到两组经过预编码调制的光栅图；确定理想的相位；获取两组经过预编码调制的光栅图所对应的Gamma值；计算理论预编码值，向电路板上投影经过理论预编码值调制的光栅图，采集电路板的四步相移光栅图像，最终生成电路板的三维点云。采用本发明方法求得的理论预编码值，对相移算法的投影正弦光栅进行预编码调制，调制后的相移算法精度得到了极大的提高，显著消除了光栅非正弦对电路板三维检测的影响。
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公开(公告)号：CN116563517A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310383998.7
申请日：2023-04-10
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G06V10/22 , G06V10/82 , G06V10/774 , G06V10/40 , G06V10/24 , G06N3/0475 , G06N3/08 , G06N3/0895
Abstract: 本发明提供一种弱监督目标定位方法及装置，属于目标定位领域，方法包括：S1：导入原始图像数据集，并将原始图像数据集划分为图像训练集和图像测试集；S2：将图像训练集中的各个原始图像进行多个角度旋转，得到各个原始图像的多个旋转图像；S3：对图像训练集中各个原始图像以及各个原始图像的各个旋转图像进行多通道特征提取，得到图像训练集中各个原始图像的特征谱组以及各个旋转图像的特征谱组；S4:根据图像训练集中各个原始图像的特征谱组中预设层特征谱以及各个旋转图像的特征谱组中预设层特征谱进行旋转预测总损失函数的计算，得到旋转预测总损失函数。本发明能够通过挖掘细粒度目标的互补性以及一致性，提高了弱监督定位的精度。
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公开(公告)号：CN114199160A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111543509.7
申请日：2021-12-16
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于二值编码光栅散焦投影的电路板元器件几何检测方法，包括以下步骤：根据公式使用计算机生成二值编码光栅；将二值编码光栅烧入投影仪，调节投影仪焦距以及相机焦距，使得投射出的光栅条纹以及拍摄的标定板清晰可见，再次调节投影仪焦距对二值编码光栅进行散焦处理以得到二值编码正弦光栅；通过四步相移法求解光栅条纹的相位值θ；进一步建立相位、像点坐标与三维坐标的对应关系，通过系统标定求解出标定参数；对四步相移获取的电路板图像进行处理，最终生成具有准确三维坐标的点云数据，准确定位元器件几何位置和三维形态，通过对照检测标准即可检测出电路板是否存在错位、脱焊等缺陷问题。
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