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公开(公告)号：CN116912334B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311167828.1
申请日：2023-09-12
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅条纹投影的相位映射高精度投影仪标定方法，包括以下步骤：搭建基于光栅条纹投影的相位映射标定系统；通过相机对标定板进行采样，得到带标记点的相机图像；投影仪对标定板连续投射带编码信息的横、竖相移条纹以及互补格雷码图案，通过相机采集图像，并进行相位解算，得到标记点附近局部区域的相位信息；进行相位平面拟合得到最佳拟合相位平面，并完成相位去噪；计算去噪后的标记点附近的局部区域中各点的高斯径向基函数值，并计算该标记点附近的局部区域对应的相位插值，映射到投影仪中对其进行参数标定。本发明提高了光栅条纹投影系统中投影仪标定的精度，进而提高光栅条纹投影三维测量的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116935013B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311186175.1
申请日：2023-09-14
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数字光栅投影系统三维重建的电路板点云大范围拼接方法及系统，其中方法包括以下步骤：使用数字光栅投影系统依次采集电路板点云数据；利用电路板点云高度和颜色信息将电路板元器件与底板分离；提取相邻两帧电路板点云元器件的特征点；为电路板元器件特征点构建带有颜色信息的直方图描述符；对相邻两帧电路板元器件特征点的直方图描述符进行匹配，并计算粗配准变换矩阵；对粗配准的电路板元器件点云进行精配准，得到精配准变换矩阵；根据粗配准变换矩阵和精配准变换矩阵依次对电路板点云进行拼接得到完整的电路板点云数据。本发明能够提高电路板点云拼接的精度和效率。
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公开(公告)号：CN117168313B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311450910.5
申请日：2023-11-03
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅投影三维重建的相位误差模型校正方法，包括以下步骤：搭建光栅投影三维重建测量系统；对系统进行相位与高度的映射关系标定；制作具有周期关系的光栅图案并求得其相对相位，将相对相位做差后得到低频相位，将低频相位做差后得到单频相位，将得到的低频和单频相位投影出来，拍摄得到待重建物体的合成光栅图片并计算出光栅图片的相对相位；对相对相位进行解相位计算，得到连续绝对相位，关联不同频率的相位并建立相位误差模型，基于误差模型对相位误差进行补偿；利用标定好的相位与高度的映射关系得到待测物体的高度，得到物体的三维信息。本发明能够得到具有复杂表面的物体的准确相位信息与三维重建模型。
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公开(公告)号：CN117168313A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311450910.5
申请日：2023-11-03
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅投影三维重建的相位误差模型校正方法，包括以下步骤：搭建光栅投影三维重建测量系统；对系统进行相位与高度的映射关系标定；制作具有周期关系的光栅图案并求得其相对相位，将相对相位做差后得到低频相位，将低频相位做差后得到单频相位，将得到的低频和单频相位投影出来，拍摄得到待重建物体的合成光栅图片并计算出光栅图片的相对相位；对相对相位进行解相位计算，得到连续绝对相位，关联不同频率的相位并建立相位误差模型，基于误差模型对相位误差进行补偿；利用标定好的相位与高度的映射关系得到待测物体的高度，得到物体的三维信息。本发明能够得到具有复杂表面的物体的准确相位信息与三维重建模型。
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公开(公告)号：CN116935013A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202311186175.1
申请日：2023-09-14
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数字光栅投影系统三维重建的电路板点云大范围拼接方法及系统，其中方法包括以下步骤：使用数字光栅投影系统依次采集电路板点云数据；利用电路板点云高度和颜色信息将电路板元器件与底板分离；提取相邻两帧电路板点云元器件的特征点；为电路板元器件特征点构建带有颜色信息的直方图描述符；对相邻两帧电路板元器件特征点的直方图描述符进行匹配，并计算粗配准变换矩阵；对粗配准的电路板元器件点云进行精配准，得到精配准变换矩阵；根据粗配准变换矩阵和精配准变换矩阵依次对电路板点云进行拼接得到完整的电路板点云数据。本发明能够提高电路板点云拼接的精度和效率。
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公开(公告)号：CN116912334A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202311167828.1
申请日：2023-09-12
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅条纹投影的相位映射高精度投影仪标定方法，包括以下步骤：搭建基于光栅条纹投影的相位映射标定系统；通过相机对标定板进行采样，得到带标记点的相机图像；投影仪对标定板连续投射带编码信息的横、竖相移条纹以及互补格雷码图案，通过相机采集图像，并进行相位解算，得到标记点附近局部区域的相位信息；进行相位平面拟合得到最佳拟合相位平面，并完成相位去噪；计算去噪后的标记点附近的局部区域中各点的高斯径向基函数值，并计算该标记点附近的局部区域对应的相位插值，映射到投影仪中对其进行参数标定。本发明提高了光栅条纹投影系统中投影仪标定的精度，进而提高光栅条纹投影三维测量的精度。
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