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公开(公告)号：CN114199160B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202111543509.7
申请日：2021-12-16
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于二值编码光栅散焦投影的电路板元器件几何检测方法，包括以下步骤：根据公式使用计算机生成二值编码光栅；将二值编码光栅烧入投影仪，调节投影仪焦距以及相机焦距，使得投射出的光栅条纹以及拍摄的标定板清晰可见，再次调节投影仪焦距对二值编码光栅进行散焦处理以得到二值编码正弦光栅；通过四步相移法求解光栅条纹的相位值θ；进一步建立相位、像点坐标与三维坐标的对应关系，通过系统标定求解出标定参数；对四步相移获取的电路板图像进行处理，最终生成具有准确三维坐标的点云数据，准确定位元器件几何位置和三维形态，通过对照检测标准即可检测出电路板是否存在错位、脱焊等缺陷问题。
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公开(公告)号：CN116734771A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202311028988.8
申请日：2023-08-16
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01B11/25 , G01N21/956
Abstract: 本发明公开了一种基于主动式Gamma校正的电路板元器件几何检测方法，包括：确定相机的响应取值范围；确定第一预编码值和第二预编码值；在相机的响应取值范围内生成四步相移光栅图，并利用第一和第二预编码值分别对其进行预编码调制，得到两组经过预编码调制的光栅图；确定理想的相位；获取两组经过预编码调制的光栅图所对应的Gamma值；计算理论预编码值，向电路板上投影经过理论预编码值调制的光栅图，采集电路板的四步相移光栅图像，最终生成电路板的三维点云。采用本发明方法求得的理论预编码值，对相移算法的投影正弦光栅进行预编码调制，调制后的相移算法精度得到了极大的提高，显著消除了光栅非正弦对电路板三维检测的影响。
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公开(公告)号：CN114199160A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111543509.7
申请日：2021-12-16
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于二值编码光栅散焦投影的电路板元器件几何检测方法，包括以下步骤：根据公式使用计算机生成二值编码光栅；将二值编码光栅烧入投影仪，调节投影仪焦距以及相机焦距，使得投射出的光栅条纹以及拍摄的标定板清晰可见，再次调节投影仪焦距对二值编码光栅进行散焦处理以得到二值编码正弦光栅；通过四步相移法求解光栅条纹的相位值θ；进一步建立相位、像点坐标与三维坐标的对应关系，通过系统标定求解出标定参数；对四步相移获取的电路板图像进行处理，最终生成具有准确三维坐标的点云数据，准确定位元器件几何位置和三维形态，通过对照检测标准即可检测出电路板是否存在错位、脱焊等缺陷问题。
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公开(公告)号：CN116734771B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202311028988.8
申请日：2023-08-16
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01B11/25 , G01N21/956
Abstract: 本发明公开了一种基于主动式Gamma校正的电路板元器件几何检测方法，包括：确定相机的响应取值范围；确定第一预编码值和第二预编码值；在相机的响应取值范围内生成四步相移光栅图，并利用第一和第二预编码值分别对其进行预编码调制，得到两组经过预编码调制的光栅图；确定理想的相位；获取两组经过预编码调制的光栅图所对应的Gamma值；计算理论预编码值，向电路板上投影经过理论预编码值调制的光栅图，采集电路板的四步相移光栅图像，最终生成电路板的三维点云。采用本发明方法求得的理论预编码值，对相移算法的投影正弦光栅进行预编码调制，调制后的相移算法精度得到了极大的提高，显著消除了光栅非正弦对电路板三维检测的影响。
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