氟基聚氨基酸钴纳米粒子及其制备方法与用途

    公开(公告)号:CN115678007A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211359943.4

    申请日:2022-11-02

    Inventor: 刘绍琴 孙昊

    Abstract: 本发明涉及一种制备氟基聚氨基酸钴纳米粒子的方法,包括以下步骤:步骤一、将氨基酸与三光气溶解于有机溶剂中反应,加入非溶剂沉淀纯化产物;步骤二、将α‑氨基酸‑N‑羧基酸酐与氟基引发剂溶解于有机溶剂中反应,加入非溶剂沉淀纯化产物;步骤三、将氟基聚氨基酸肽段溶于有机溶剂形成溶液A,将无机钴金属配合物溶于有机溶剂形成溶液B,然后将溶液B缓慢加入溶液A,真空干燥得到氟基聚氨基酸钴纳米粒子粉末。本发明的氟基聚氨基酸钴纳米粒子,适用于眼部MPI示踪剂,具有良好的生物相容性与代谢性能。

    一种基于双环形集成谐振腔的四光梳同步生成方法

    公开(公告)号:CN113659418A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202110944160.1

    申请日:2021-08-17

    Abstract: 本发明提出一种基于双环形集成谐振腔的四光梳同步生成方法,所述方法使泵浦源输出泵浦光,向增益模块提供泵浦并生成激光,在双环形集成谐振腔内循环传播,切断第二分路的光路,使激光只能经过第一分路在腔内传播,并生成双光梳;切断第一分路的光路,恢复第二分路的光路,使激光只能经过第二分路在腔内传播并生成双光梳;恢复第一分路和第二分路的光路,记录重复频率,调节两个分路引入的光程,再生成同步四光梳。本发明所述方法相干性好、可集成性好、重复频率可调性好,并且成本低易实现。

    一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法

    公开(公告)号:CN111462242A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010167610.6

    申请日:2020-03-11

    Abstract: 一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法,涉及图像处理技术领域,针对现有技术中的定位方法无法准确的定位出带有形变的矩形引脚芯片的问题,包括步骤一:获取芯片区域图像;步骤二:对图像中引脚区域进行提取,得到初步筛选的潜在引脚区域;步骤三:得到芯片整体模型的分数,进而在局部位置搜索最优的形变;步骤四:根据步骤三中获得的局部位置最优形变及芯片整体模型的分数,通过非最大化抑制方法判断局部最大值,进而判断图片中芯片的位置。本发明首先从芯片图片中提取潜在引脚区域及其参数,然后在局部位置上搜索芯片形变,最后在全图片上搜索芯片形变。本发明可以准确的定位出带有形变的矩形引脚芯片,抗干扰能力强。

    一种基于多阶数分数阶小波包变换的芯片外观缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN111402204A

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN202010121346.2

    申请日:2020-02-26

    Abstract: 一种基于多阶数分数阶小波包变换的芯片外观缺陷检测方法,它属于芯片外观缺陷检测技术领域。本发明本发明使用基于分数阶小波变换来从芯片外观图像中提取特征,并使用基于变分贝叶斯混合模型来进行特征的降维,最终使用支持向量机来进行缺陷分类。与现有方法相比,采用本发明方法可以显著提高检测效率以及检测精度。本发明可以应用于芯片外观缺陷的检测。

    一种基准相机偏移量的校正方法

    公开(公告)号:CN106289062B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201610872995.X

    申请日:2016-09-30

    Abstract: 一种基准相机偏移量的校正方法,本发明涉及基准相机偏移量的校正方法。本发明的目的是为了解决现有贴片机的贴装精度低的问题。具体过程为:一、将标定玻璃板背面放在固定相机镜头上,再移动基准相机到固定相机中心位置上方,此时标定玻璃板的正面在基准相机视野中心;二、得到标定玻璃板背面1号、2号、3号、4号圆点在固定相机坐标系中的位置;三、得到5号圆点在基准相机坐标系中的位置,并记录此时贴片头坐标系的原点在贴片机坐标系中的位置;四、计算得到标定玻璃板背面的中心圆心在固定相机坐标系中的位置;五、计算出标定玻璃板的中心在贴片机坐标系中的位置;六、得到基准相机偏移量。本发明用于基准相机偏移量领域。

    一种基于L2距离的点集配准方法

    公开(公告)号:CN106485739B

    公开(公告)日:2019-06-11

    申请号:CN201610842937.2

    申请日:2016-09-22

    Abstract: 本发明提供一种鲁棒好及精度高的基于L2距离的点集配准方法,属于图像处理中的图像配准技术领域。包括如下步骤:步骤一:获取参考点集和目标点集;步骤二:建立从参考点集到目标点集的空间变换函数;步骤三:根据参考点集和目标点集及建立的空间变换函数,建立参考点集和目标点集的匹配矩阵;步骤四:使得L2距离最小,得到最佳的匹配矩阵和空间变换函数;步骤五:根据得到最佳的匹配矩阵和空间变换函数,完成点集配准。本发明利用L2距离来进一步提升配准算法的效果,配准精度高及改善了鲁棒性。

    一种基于点匹配的基准标志定位方法

    公开(公告)号:CN106485699B

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201610842936.8

    申请日:2016-09-22

    Abstract: 本发明提供一种定位精度高、实时性好及对光照具有较高鲁棒性的基于点匹配的基准标志定位方法,属于图像处理技术领域。包括如下步骤:步骤一:离线获取表征Mark点形状的关键顶点;步骤二:在线获取待定位Mark点的图片,进行角点或中心点检测,得到Mark点的角点或中心点;步骤三:对步骤二检测到的角点,进行聚合,并提取亚像素角点;步骤四:建立从步骤三中提取的亚像素角点或步骤二得到的中心点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数,利用配准方法,求取建立的空间变换函数的参数,即:获得待定位Mark点的图片的Mark点定位信息。本发明用于SMT对PCB板的Mark点的定位。

    贴片机喂料器元件位置自动矫正装置及自动矫正方法

    公开(公告)号:CN106413280B

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201610986831.X

    申请日:2016-11-09

    Abstract: 基于图像处理的贴片机喂料器元件位置自动矫正装置及自动矫正方法,涉及贴片机喂料器元件位置的自动矫正装置和方法。为了解决现有供料器依靠人工矫正或机械矫正元件初始位置存在精度低的问题。本发明的装置包括上位机、矫正固定装置、工业摄像机和LED光源;上位机与工业摄像机相连;工业摄像机固定在矫正固定装置上,用于实时采集喂料器出口的元件的位置图像;LED光源位于工业摄像机摄像头处;上位机内置贴片机喂料器元件位置自动矫正控制系统,所述系统用于控制工业摄像机采集图像,并将所采集的图像实时显示在图像显示窗口,然后通过元件位置图像的处理、位置信息数据的计算后发送矫正命令控制矫动作。本发明用于元件位置的矫正。

    一种飞行相机的校正方法
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106469458B

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201610873047.8

    申请日:2016-09-30

    Abstract: 一种飞行相机的校正方法,本发明涉及飞行相机的校正方法。本发明的目的是为了解决现有贴片机的飞行相机在安装时,安装角度不精确和飞行相机自身的刻度不精确等问题。具体过程为:得到2、3、4、5号圆点在1号飞行相机和固定相机坐标系中的位置;计算2、4号和3、5号组成的直线与1号飞行相机、固定相机和贴片机坐标系之间的夹角;计算出1号飞行相机的X、Y轴相对于贴片机坐标系的刻度ω飞行相机x和ω飞行相机y;重复执行,分别计算出2~6号每个飞行相机的X、Y轴相对于贴片机坐标系的刻度和飞行相机相对于贴片机坐标系的旋转角度。本发明用于飞行相机的矫正方法。

    利用空心阴极内部气压变化监测钨顶孔腐蚀特性的方法

    公开(公告)号:CN104990832B

    公开(公告)日:2018-12-11

    申请号:CN201510333466.8

    申请日:2015-06-16

    Abstract: 利用空心阴极内部气压变化监测钨顶孔腐蚀特性的方法,涉及钨顶孔腐蚀特性的监测技术。它为了解决破坏性检测方法需要破坏阴极,而且得不到腐蚀期间的变化情况,光学成像方法观测不到内部的形貌变化的问题。压力传感器放置在距离阴极钨顶孔200毫米,高度120毫米处,利用压力传感器监测阴极管稳态放电气压或阴极管冷却到室温时阴极管内部气压,最终根据气压变化情况评估出钨顶孔径的变化情况,得到钨顶孔腐蚀特性。本发明不需要破坏阴极,能够方便的评估阴极的钨顶孔腐蚀特性。本发明可用于监测钨顶孔腐蚀特性,适用霍尔推力器、离子推力器或其他设备中。

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